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本发明涉及自动化测试技术领域，尤其涉及自动化测试结构及ATE设备，该结构包括：中央处理器和FPGA；其中，FPGA通过8位数据汇流排接口与中央处理器连接，FPGA还与待测设备连接；中央处理器，用于通过8位数据汇流排接口输出测试指令至FPGA...
该专利属于芯测通（深圳）半导体有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过芯测通（深圳）半导体有限公司授权不得商用。

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