【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及激光清洗领域，特别涉及一种多极耳激光清洗方法。
技术介绍
1、锂电池生产工艺中，涉及对极耳的激光清洗过程。对极耳的激光清洗通常是将极片的表面涂覆层清洗干净而露出基材，之后通过模切，切割出清洗区域，来作为电池的极耳。
2、目前的极耳激光清洗方式中，一种是利用单激光器进行窄幅的极耳清洗，其清洗效率较低，还有一种是利用多个振镜以较宽幅面进行多个极耳的清洗，但在清洗过程中精度控制较差。
技术实现思路
1、本专利技术提供一种多极耳激光清洗方法，提高在较宽幅面同时实现多极耳激光清洗时的激光清洗控制精度。
2、本专利技术实施例提供一种多极耳激光清洗方法，其包括：对待拼接的每个振镜进行相对于加工平台的平行度校正，使得每个所述振镜满足第一误差要求；将多个所述振镜拼接为振镜阵列，对所述振镜阵列进行相邻所述振镜间的平行度校正，使得相邻所述振镜趋于位于同一水平面上并满足第二误差要求；对每个所述振镜产生的单一幅面进行畸变校正，使得每个所述振镜对应的所述单一幅面满足第三误差要求；将多个所述振镜对应的多个所述单一幅面拼接为所述振镜阵列对应的整个幅面，其中，相邻所述单一幅面相互平行且具有重合边缘；将每个所述单一幅面所对应的单一幅面坐标系归一化为所述整个幅面对应的整个幅面坐标系；获取经过所述激光清洗装置的料带的料带边相对料带行进方向的偏移信息，基于所述偏移信息对所述振镜阵列进行偏移补偿；通过所述振镜阵列对极片上的多个极耳同时进行激光清洗。
3、根据本专利技术的前述实
4、根据本专利技术的前述任一实施方式，所述第一误差要求取自0.03mm以下的范围内。
5、根据本专利技术的前述任一实施方式，所述第二误差要求取自0.05mm以下的范围内。
6、根据本专利技术的前述任一实施方式，所述对每个所述振镜产生的单一幅面进行畸变校正，使得每个所述振镜对应的所述单一幅面满足第三误差要求包括：对每个所述振镜进行多次高精度校正，直至所述振镜对应的所述单一幅面满足第三误差要求。
7、根据本专利技术的前述任一实施方式，每次所述高精度校正包括：采用二次元影像仪将每个所述单一幅面均匀分成若干等份，生成多个分割点对应的理论坐标位置；通过所述振镜的激光将每个所述分割点标刻在相纸上，以二次元影像仪识别每个分割点对应的实际坐标位置；比对每个所述分割点的实际坐标位置和理论坐标位置，得到比对差值，基于所述比对差值对所述振镜进行位置补偿。
8、根据本专利技术的前述任一实施方式，所述振镜对应的所述单一幅面满足第三误差要求包括：每个所述分割点的实际坐标位置和理论坐标位置的差值小于0.03mm。
9、根据本专利技术的前述任一实施方式，所述将多个所述振镜对应的多个所述单一幅面拼接为所述振镜阵列对应的整个幅面包括：从第一个所述单一幅面和第二个所述单一幅面开始，以每相邻两个所述单一幅面中的前一所述单一幅面为基准，对后一所述单一幅面进行幅面平移和幅面旋转，使得后一所述单一幅面与前一所述单一幅面平行且具有重合边缘。
10、根据本专利技术的前述任一实施方式，所述将每个所述单一幅面所对应的单一幅面坐标系归一化为所述整个幅面对应的整个幅面坐标系包括：使得各个所述单一幅面所对应的单一幅面坐标系的两个坐标轴相互对应重合。
11、根据本专利技术的前述任一实施方式，所述激光清洗装置在激光清洗工位的前侧和后侧设有寻边传感器，所述获取经过所述激光清洗装置的料带的料带边相对料带行进方向的偏移信息包括：通过激光清洗工位前侧和后侧的寻边传感器分别获取料带边在激光清洗工位前侧的前侧偏离量、在激光清洗工位后侧的后侧偏离量；基于所述前侧偏离量、所述后侧偏离获取所述偏移信息。
12、根据本专利技术实施例的多极耳激光清洗方法，一方面，对待拼接的每个振镜进行相对于加工平台的平行度校正，之后对振镜阵列进行相邻振镜间的平行度校正，然后对每个振镜产生的单一幅面进行畸变校正，将多个振镜对应的多个单一幅面拼接为振镜阵列对应的整个幅面后，相邻单一幅面相互平行且具有重合边缘，之后，获取经过激光清洗装置的料带的料带边相对料带行进方向的偏移信息，基于偏移信息对振镜阵列进行偏移补偿，使得后续通过振镜阵列对极片上的多个极耳同时进行激光清洗时，在保证具有较大较宽的清洗幅面的同时提高了对振镜阵列的控制精度，从而提高激光清洗效果。另一方面，对多个振镜对应的多个单一幅面拼接为振镜阵列对应的整个幅面后，将每个单一幅面所对应的单一幅面坐标系归一化为整个幅面对应的整个幅面坐标系。因此，整个幅面上的任意点都可调取，无需在单一幅面内进行调整，便于通过一个上位机同时控制多个激光器模组，能够大大节省信号传输时间，进一步提高清洗工作的效率。
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1.一种多极耳激光清洗方法，其特征在于，包括：
2.如权利要求1所述的多极耳激光清洗方法，其特征在于，所述对待拼接的每个振镜进行相对于加工平台的平行度校正，使得每个所述振镜满足第一误差要求包括：
3.如权利要求1所述的多极耳激光清洗方法，其特征在于，所述第一误差要求取自0.03mm以下的范围内。
4.如权利要求1所述的多极耳激光清洗方法，其特征在于，所述第二误差要求取自0.05mm以下的范围内。
5.如权利要求1所述的多极耳激光清洗方法，其特征在于，所述对每个所述振镜产生的单一幅面进行畸变校正，使得每个所述振镜对应的所述单一幅面满足第三误差要求包括：
6.如权利要求5所述的多极耳激光清洗方法，其特征在于，每次所述高精度校正包括：
7.如权利要求6所述的多极耳激光清洗方法，其特征在于，所述振镜对应的所述单一幅面满足第三误差要求包括：每个所述分割点的实际坐标位置和理论坐标位置的差值小于0.03mm。
8.如权利要求1所述的多极耳激光清洗方法，其特征在于，所述将多个所述振镜对应的多个所述单一幅面拼接为所
9.如权利要求1所述的多极耳激光清洗方法，其特征在于，所述将每个所述单一幅面所对应的单一幅面坐标系归一化为所述整个幅面对应的整个幅面坐标系包括：
10.如权利要求1所述的多极耳激光清洗方法，其特征在于，所述激光清洗装置在激光清洗工位的前侧和后侧设有寻边传感器，所述获取经过所述激光清洗装置的料带的料带边相对料带行进方向的偏移信息包括：
...【技术特征摘要】
1.一种多极耳激光清洗方法，其特征在于，包括：
2.如权利要求1所述的多极耳激光清洗方法，其特征在于，所述对待拼接的每个振镜进行相对于加工平台的平行度校正，使得每个所述振镜满足第一误差要求包括：
3.如权利要求1所述的多极耳激光清洗方法，其特征在于，所述第一误差要求取自0.03mm以下的范围内。
4.如权利要求1所述的多极耳激光清洗方法，其特征在于，所述第二误差要求取自0.05mm以下的范围内。
5.如权利要求1所述的多极耳激光清洗方法，其特征在于，所述对每个所述振镜产生的单一幅面进行畸变校正，使得每个所述振镜对应的所述单一幅面满足第三误差要求包括：
6.如权利要求5所述的多极耳激光清洗方法，其特征在于，每次所述高精度校正包...
【专利技术属性】
技术研发人员：张荣，罗淑洪，杨玉怀，林禹，吴鹏，马咏，赵书扬，
申请(专利权)人：海目星激光科技集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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