【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及加速器物理实验径迹探测领域，尤其是一种面向加速器实验的低物质量分布式读出电路。
技术介绍
1、加速器实验一直是研究高能物理的最优手段，许多高能物理领域的发现都源于加速器实验。例如，希格斯粒子就是在欧洲核子中心的大型强子对撞机(lhc)上发现的。近年来，我国陆续建造了多个加速器实验设施，如北京正负电子对撞机、上海光源和兰州重离子加速器等，为我国的基础物理研究提供了多个强大的实验装置。
2、加速器实验通常由多个探测器组合构成，以测量待探测粒子的径迹、能量等关键信息。在这些探测器中，径迹探测系统是至关重要的部分。随着半导体工艺技术的不断成熟，半导体探测器也得到了快速发展。作为最常用的半导体材料之一，基于硅材料的探测器具有诸多优点，如位置分辨好、能量分辨高、线性范围宽和响应时间快等。因此，它们广泛应用于粒子物理、核物理、天体物理、核医学和安全检测等领域。因此，硅径迹探测器正逐步成为加速器实验中是不可或缺的关键组成部分之一。
3、加速器实验往往要求硅径迹探测器在高辐射强度的恶劣环境下工作，这对硅径迹探测器及其读出电路的设计提出了严格要求，例如高抗辐射性能和低物质量等。传统的读出电路通常靠近硅径迹探测器放置，整体结构的物质量较高，因此很难满足加速器实验的整体需求。
技术实现思路
1、为了克服现有技术中存在的上述问题，本专利技术提出一种面向加速器实验的低物质量分布式读出电路。
2、本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是：一种面向加速器实验的低
3、上述的一种面向加速器实验的低物质量分布式读出电路，所述探测区域电路采用柔性电路板，所述探测区域电路厚度小于300μm。
4、上述的一种面向加速器实验的低物质量分布式读出电路，所述探测区域电路的输入管脚与硅径迹探测器输出端连接。
5、上述的一种面向加速器实验的低物质量分布式读出电路，所述探测区域电路集成模拟信号处理asic芯片、温度传感器芯片。
6、上述的一种面向加速器实验的低物质量分布式读出电路，所述后端处理电路集成了模数转换芯片、现场可编程门阵列、线性电源。
7、上述的一种面向加速器实验的低物质量分布式读出电路，所述现场可编程门阵列包括控制模块、指令解析模块、数据接收模块、数据采集模块、数据缓存模块、数据发送模块。
8、本专利技术的有益效果是，本专利技术电路有效减少读出电路引入的额外物质量，提高探测效率，从而满足加速器实验的需求。
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1.一种面向加速器实验的低物质量分布式读出电路，其特征在于，应用于硅径迹探测器，包括靠近硅径迹探测器的探测区域电路、远离硅径迹探测器的后端处理电路，所述探测区域电路、后端处理电路之间由线缆进行信号连接，所述探测区域电路用于接收待测硅径迹探测器的输出信号并进行初步处理，同时监测硅径迹探测器的工作温度；所述后端处理电路用于对接收到的探测信号进行模数转换，并将转换后的数据发送至计算机，同时为探测区域电路提供所需的控制信号、时钟信息、工作电压。
2.根据权利要求1所述的一种面向加速器实验的低物质量分布式读出电路，其特征在于，所述探测区域电路采用柔性电路板，所述探测区域电路厚度小于300μm。
3.根据权利要求1所述的一种面向加速器实验的低物质量分布式读出电路，其特征在于，所述探测区域电路的输入管脚与硅径迹探测器输出端连接。
4.根据权利要求1所述的一种面向加速器实验的低物质量分布式读出电路，其特征在于，所述探测区域电路集成模拟信号处理ASIC芯片、温度传感器芯片。
5.根据权利要求1所述的一种面向加速器实验的低物质量分布式读出电路，其特征在
6.根据权利要求5所述的一种面向加速器实验的低物质量分布式读出电路，其特征在于，所述现场可编程门阵列包括控制模块、指令解析模块、数据接收模块、数据采集模块、数据缓存模块、数据发送模块。
...【技术特征摘要】
1.一种面向加速器实验的低物质量分布式读出电路，其特征在于，应用于硅径迹探测器，包括靠近硅径迹探测器的探测区域电路、远离硅径迹探测器的后端处理电路，所述探测区域电路、后端处理电路之间由线缆进行信号连接，所述探测区域电路用于接收待测硅径迹探测器的输出信号并进行初步处理，同时监测硅径迹探测器的工作温度；所述后端处理电路用于对接收到的探测信号进行模数转换，并将转换后的数据发送至计算机，同时为探测区域电路提供所需的控制信号、时钟信息、工作电压。
2.根据权利要求1所述的一种面向加速器实验的低物质量分布式读出电路，其特征在于，所述探测区域电路采用柔性电路板，所述探测区域电路厚度小于300μm。
3.根据权利要...
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