一种高速半导体激光器的啁啾参数测试方法技术

一种高速半导体激光器的啁啾参数测试方法，属于光电子技术领域。目的在于克服当前扫频测试方法中需要额外辅助参量测试以及多参数拟合没有唯一解的问题。本方法通过扫频测试得到光纤传递函数曲线，调节待测高速半导体激光器的偏置电流改变其输出光功率，使得光纤传递函数曲线在高频处的功率极小点的频率恰好不再随高速半导体激光器输出光功率变化而变化，然后通过光纤传递函数曲线在高频处的功率极小点的频率计算得到光纤色散参数和高速半导体激光器的线宽增强因子，接着使用最小二乘法拟合法得到高速半导体激光器的绝热啁啾系数，最终计算获得高速半导体激光器的啁啾参数。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于光电子，具体涉及一种高速半导体激光器的啁啾参数测试方法。

技术介绍

1、基于高速半导体激光器的强度调制/直接探测系统是极具成本效益的光传输方案，与采用电吸收调制器或马赫曾德尔调制器的外部调制系统相比，直接调制系统具有成本低、功耗低、输出功率高、占地面积小的特点。但是，高速半导体激光器的啁啾效应比较显著，包括瞬时功率变化相关的瞬时啁啾和功率值相关的绝热啁啾。由于高速半导体激光器的频率啁啾和光纤色散之间相互作用引起的信号畸变，极大限制了传输距离。因此，准确测试高速半导体激光器的啁啾参数，对于器件制造和应用具有重要意义。

2、目前，高速半导体激光器的啁啾参数测试方法主要分为两大类：光谱法和电谱法。光谱法是最简单的一种测试方法(t.zhang,n.h.zhu,b.h.zhang,et al.measurement ofchirp parameter and modulation index of a semiconductor laser based onoptical spectrum analysis[j].ieee photonic本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种高速半导体激光器的啁啾参数测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

2.根据权利要求1所述的一种高速半导体激光器的啁啾参数测试方法，其特征在于，所述步骤8中，将测试得到的单模光纤色散参数DL和待测高速半导体激光器的线宽增强因子αH代入光纤传递函数表达式中，接着对光纤传递函数曲线进行绝热啁啾系数κ的拟合。

【技术特征摘要】

1.一种高速半导体激光器的啁啾参数测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

2.根据权利要求1所述的一种高速半导体激光器的啁啾参数测试方法，其特征在于，...

【专利技术属性】
技术研发人员：张尚剑，张哲，徐映，邹新海，
申请(专利权)人：电子科技大学，
类型：发明
国别省市：