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一种高速半导体激光器的啁啾参数测试方法，属于光电子技术领域。目的在于克服当前扫频测试方法中需要额外辅助参量测试以及多参数拟合没有唯一解的问题。本方法通过扫频测试得到光纤传递函数曲线，调节待测高速半导体激光器的偏置电流改变其输出光功率，使得光...
该专利属于电子科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过电子科技大学授权不得商用。

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