【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及存储器，特别涉及一种存储器的性能测试系统及性能测试方法。
技术介绍
1、存储器被广泛应用于各类终端产品中，用于存储数据。写放大系数是用于评价存储器内部固件性能的关键指标，写放大系数越趋近于一，则说明存储器性能越好。因此，对于不同厂家的存储器，通过比较写放大系数，即可了解到不同存储器之间的性能差异。然而目前，在对不同存储器的写放大系数进行测试分析时，存在测试分析效率低并且测试数据不全面的问题。
技术实现思路
1、本专利技术的目的在于提供了一种存储器的性能测试系统及性能测试方法，本专利技术在对不同存储器的写放大系数进行测试分析时，可以大大提高测试分析效率以及测试数据的全面性。
2、本专利技术提供了一种存储器的性能测试系统，包括性能测试端以及主机端，所述性能测试端与所述主机端通信连接；
3、所述主机端用于预先搭建数据写入模型，所述数据写入模型为多个子写入模型的融合，多个所述子写入模型包括顺序写模型、随机写模型、乒乓写模型及热点写模型，且所述数据写入模型用于指...
【技术保护点】
1.一种存储器的性能测试系统，其特征在于，包括性能测试端以及主机端，所述性能测试端与所述主机端通信连接；
2.根据权利要求1所述的一种存储器的性能测试系统，其特征在于，还包括测试板卡，多个所述存储器测试座集成于所述测试板卡上，所述测试板卡设置有多个供电通道以及多个数字通道，多个所述供电通道分别为多个所述存储器供电，所述中央处理器同时通过多个所述数字通道分别对多个所述存储器进行写入测试。
3.根据权利要求1所述的一种存储器的性能测试系统，其特征在于，所述性能测试端还包括：
4.根据权利要求1所述的一种存储器的性能测试系统，其特征在于，...
【技术特征摘要】
1.一种存储器的性能测试系统，其特征在于，包括性能测试端以及主机端，所述性能测试端与所述主机端通信连接；
2.根据权利要求1所述的一种存储器的性能测试系统，其特征在于，还包括测试板卡，多个所述存储器测试座集成于所述测试板卡上，所述测试板卡设置有多个供电通道以及多个数字通道，多个所述供电通道分别为多个所述存储器供电，所述中央处理器同时通过多个所述数字通道分别对多个所述存储器进行写入测试。
3.根据权利要求1所述的一种存储器的性能测试系统，其特征在于，所述性能测试端还包括：
4.根据权利要求1所述的一种存储器的性能测试系统，其特征在于，所述测试数据包括所述存储器写入的数据量以及对应的所述主机端的主机写入的数据量，所述场景写放大系数为所述存储器写入的数据量与所述主机写入的数据量之比。
5.根据权利要求1所述的一种存储器的性能测试系统，其特征在于，所述主机端用于预先搭建多个数据写入模...
【专利技术属性】
技术研发人员：余玉，许展榕，
申请(专利权)人：合肥康芯威存储技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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