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本发明提供了一种存储器的性能测试系统及性能测试方法，包括性能测试端以及主机端，主机端用于预先搭建数据写入模型，所述数据写入模型为多个子写入模型的融合，性能测试端包括多个存储器测试座，分别用于安装多个存储器；以及中央处理器，用于基于主机端确定...
该专利属于合肥康芯威存储技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过合肥康芯威存储技术有限公司授权不得商用。

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