用于SSD硬盘的高温测试方法技术

本发明专利技术涉及高温测试技术领域，特别是一种用于SSD硬盘的高温测试方法，包括机箱以及高温产生机构，所述机箱包括主机位、操作位以及测试位，所述测试位与操作位和主机位由上至下依次设置，所述测试位设置有测试室，所述测试室内设置有多个被测试SSD硬盘；所述高温产生机构包括可开合设置在测试室的密封罩、设置在密封罩并朝向被测试SSD硬盘侧面吹风的第一吹风装置、设置在密封罩并朝向被测试SSD硬盘上端吹风的第二吹风装置以及位于测试室一侧并与第一吹风装置相对的排风装置；所述密封罩用于将测试室密封。本发明专利技术通过设置在测试位的密封罩，将测试室与外部环境完全隔离，形成了一个密闭的测试空间，确保了测试环境的稳定性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及高温测试，特别是涉及一种用于ssd硬盘的高温测试方法。

技术介绍

1、电子元器件高温测试是指在高温环境下对电子元器件进行的测试，以检验其性能和稳定性。在进行高温测试时，需要将电子元器件置于高温环境中，并监测其温度和性能变化，以确保其能够在高温环境下正常工作。对ssd硬盘进行高温测试通常是为了评估其在高温环境下的性能和稳定性。高温测试可以模拟实际使用中可能遇到的高温环境。

2、现有的高温测试都是通过常规的开放式测试环境进行测试，导致测试温度很难保持一致和控制，因此影响了测试效果和和稳定性。进而需要针对现有的ssd硬盘高温测试做进一步改进。

技术实现思路

1、为解决上述问题，本专利技术通过设置在测试位的密封罩，将测试室与外部环境完全隔离，形成了一个密闭的测试空间，确保了测试环境的稳定性的用于ssd硬盘的高温测试方法。

2、本专利技术所采用的技术方案是：一种用于ssd硬盘的高温测试方法，包括机箱以及高温产生机构，所述机箱包括主机位、操作位以及测试位，所述测试位与操作位和主机位由本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种用于SSD硬盘的高温测试方法，其特征在于：包括测试设备，所述测试设备包括机箱以及高温产生机构，所述机箱包括主机位、操作位以及测试位，所述测试位与操作位和主机位由上至下依次设置，所述测试位设置有测试室，所述测试室内设置有多个被测试SSD硬盘；以及所述高温产生机构包括可开合设置在测试室的密封罩、设置在密封罩并朝向被测试SSD硬盘侧面吹风的第一吹风装置、设置在密封罩并朝向被测试SSD硬盘上端吹风的第二吹风装置以及位于测试室一侧并与第一吹风装置相对的排风装置；所述测试室内设置有温度传感器，以感应测试空间内的温度；

2.根据权利要求1所述的用于SSD硬盘的高温测试方法，其特征在...

【技术特征摘要】

1.一种用于ssd硬盘的高温测试方法，其特征在于：包括测试设备，所述测试设备包括机箱以及高温产生机构，所述机箱包括主机位、操作位以及测试位，所述测试位与操作位和主机位由上至下依次设置，所述测试位设置有测试室，所述测试室内设置有多个被测试ssd硬盘；以及所述高温产生机构包括可开合设置在测试室的密封罩、设置在密封罩并朝向被测试ssd硬盘侧面吹风的第一吹风装置、设置在密封罩并朝向被测试ssd硬盘上端吹风的第二吹风装置以及位于测试室一侧并与第一吹风装置相对的排风装置；所述测试室内设置有温度传感器，以感应测试空间内的温度；

2.根据权利要求1所述的用于ssd硬盘的高温测试方法，其特征在于：所述主机位设置有多个测试主机，多个所述测试主机与被测试ssd硬盘连接，以使得被测试ssd硬盘在工作过程中进行测试。

3.根据权利要求2所述的用于ssd硬盘的高温测试方法，其特征在于：所述主机位设置多个主机支架，所述测试主机安装在主机支架上；所述主机位对应各个主机支架设置有散热风扇，以对测试主机散热。

4.根据权利要求1所述的用于ssd硬盘的高温测试方法，其特征在于：所述操作位设置有操作支架，所述操作支架上设置有操作面板，所述操作面板用于操作控制用于ssd硬盘的高温测试方法；所述测试室安装在操作支架上。

5.根据权利要求1所述的用于ssd硬盘的高温测试方法，其特征在于：所述测试位的上端面设置...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘坚辉，胡盛俊，王传报，
申请(专利权)人：冠佳技术股份有限公司，
类型：发明
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