一种CRC校验系统和校验方法技术方案

本申请涉及一种CRC校验系统和校验方法，系统包括移位状态寄存器、反馈使能寄存器、掩码使能寄存器、第一与门组、第二与门组、第一异或门、第二异或门、以及第三异或门组，其中，第一与门组包括多个第一与门，第二与门组包括多个第二与门，第三异或门组包括多个第三异或门。基于本申请提供了一种通用的CRC校验系统可以支持各类协议的CRC校验，从而节省了大量硬件资源。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及芯片设计，特别是指一种crc校验系统和校验方法。

技术介绍

1、crc(cyclic redundancy check)校验是一种基于多项式的差错检测技术，常用于通信和数据存储领域。它通过对数据进行多项式运算，生成一个校验码，该校验码附加到数据中，接收端可以利用这个校验码来检测传输过程中是否发生了错误。

2、目前主流的通信协议中对crc校验的生成多项式的描述各有不同，而现有的通信系统中，通常会根据特定的物理层协议要求将crc校验电路的结构固定化，对不同的生成多项式设计不同的硬件电路。但是通信链路上所支持的通信协议是灵活可变的，一旦通信芯片所承载的通信协议发生变化，原本固定的crc校验电路将不再适用，需要重新设计新的crc校验电路，从而造成了大量的硬件资源浪费且使软件通信协议使用不便捷。

技术实现思路

1、鉴于现有技术的以上问题，本申请提供一种通用的crc校验系统和校验方法，仅通过重新配置寄存器的逻辑值即可生成不同的校验码，从而节约了大量硬件资源。

2、为达到上述目的，本申请第本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种CRC校验系统，其特征在于，包括：移位状态寄存器、反馈使能寄存器、掩码使能寄存器、第一与门组、第二与门组、第一异或门、第二异或门、以及第三异或门组；

2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述反馈使能寄存器的最高逻辑位与所述移位状态寄存器的最高逻辑位对齐。

3.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述掩码使能寄存器的最低逻辑位与所述移位状态寄存器的最低逻辑位对齐。

4.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述掩码使能寄存器的逻辑位数比所述移位状态寄存器的逻辑位数少一位。

5.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述反馈使能...

【技术特征摘要】

1.一种crc校验系统，其特征在于，包括：移位状态寄存器、反馈使能寄存器、掩码使能寄存器、第一与门组、第二与门组、第一异或门、第二异或门、以及第三异或门组；

2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述反馈使能寄存器的最高逻辑位与所述移位状态寄存器的最高逻辑位对齐。

3.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述掩码使能寄存器的最低逻辑位与所述移位状态寄存器的最低逻辑位对齐。

4.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述掩码使能寄存器的逻辑位数比所述移位状态寄存器的逻辑位数少一位。

5.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述反馈使能寄存器的逻辑位数不大于所述移位状态寄存器的逻辑位数。

6.一种crc校验方法，所述方法基于权利要...

【专利技术属性】
技术研发人员：许理达，
申请(专利权)人：上海金卓科技有限公司，
类型：发明
国别省市：