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本申请涉及一种CRC校验系统和校验方法，系统包括移位状态寄存器、反馈使能寄存器、掩码使能寄存器、第一与门组、第二与门组、第一异或门、第二异或门、以及第三异或门组，其中，第一与门组包括多个第一与门，第二与门组包括多个第二与门，第三异或门组包括...
该专利属于上海金卓科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海金卓科技有限公司授权不得商用。

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