【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及材料测试,特别是涉及一种高压氢环境宽温阈单双轴压缩测试装置。
技术介绍
1、传统的测量方法包括机械测量和电学测量,但这些方法涉及与材料的接触,对测量环境有一定的要求,不适合高温测量。电子散斑干涉测量(espi)、条纹投影等光学测量方法与传统测量方法相比,无需接触材料即可获得材料的信息,然而不是所有的高温测量都能采用光学测量方法,因为它们大多对测量环境也有严格的要求。
2、现有的高压氢环境压缩测试装置功能较为简单,能在特定温度下完成单轴压缩测试,但不能满足如今日益复杂的测试任务。
3、现有的高压氢环境压缩测试装置的实验结果后处理较为简单,仅可以输出橡胶材料测试获得的工程应力-应变数据,但对于数据的真实性,可靠性有待验证。
技术实现思路
1、为解决现有技术存在的上述问题,本专利技术提供了一种高压氢环境宽温阈单双轴压缩测试装置。
2、为实现上述目的,本专利技术提供了如下方案。
3、一种高压氢环境宽温阈单双轴压缩测试装置,包括:测试箱、
...【技术保护点】
1.一种高压氢环境宽温阈单双轴压缩测试装置,其特征在于,包括:测试箱、温度传感器、气体压力传感器、测试压力传感器、位移传感器、氧气/氢气浓度监测仪、上位机、氢气填充系统、真空抽取系统和DIC测试系统;所述测试箱中设置有样品夹持机构、加热系统和降温系统;
2.根据权利要求1所述的高压氢环境宽温阈单双轴压缩测试装置,其特征在于,所述氢气填充系统包括:氮气气瓶、氢气气瓶、缓冲罐、第一三通接口和第二三通接口;
3.根据权利要求1所述的高压氢环境宽温阈单双轴压缩测试装置,其特征在于,所述真空抽取系统包括:真空泵、第三三通接口和排气口;
4.根
...【技术特征摘要】
1.一种高压氢环境宽温阈单双轴压缩测试装置,其特征在于,包括:测试箱、温度传感器、气体压力传感器、测试压力传感器、位移传感器、氧气/氢气浓度监测仪、上位机、氢气填充系统、真空抽取系统和dic测试系统;所述测试箱中设置有样品夹持机构、加热系统和降温系统;
2.根据权利要求1所述的高压氢环境宽温阈单双轴压缩测试装置,其特征在于,所述氢气填充系统包括:氮气气瓶、氢气气瓶、缓冲罐、第一三通接口和第二三通接口;
3.根据权利要求1所述的高压氢环境宽温阈单双轴压缩测试装置,其特征在于,所述真空抽取系统包括:真空泵、第三三通接口和排气口;
4.根据权利要求1所述的高压氢环境宽温阈单双轴压缩测试装置,其特征在于,所述dic测试系统包括:摄像机和照明灯;
5.根据权利要求4所述的高压氢环境宽温阈单双轴压缩测试装置,其...
【专利技术属性】
技术研发人员:李翔,郑升鹏,刘易涛,李介普,
申请(专利权)人:中国特种设备检测研究院,
类型:发明
国别省市:
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