【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及电子负载分析测试，更具体地，涉及一种电子负载老化程度测试方法、系统及试验设备。
技术介绍
1、电子负载是在电源下挂接的电子设备，在很多情况下，电子设备上都存在很多的元器件，这些元器件的性能和参数常常出现异常损坏或老化，与机械损伤不同，电子负载中的设备老化一般很难直接观察获得，常常通过测试获得。
2、在本专利技术技术之前，现有技术对电子负载的测试过程主要依靠冲击和耐久测试结合人工智能算法，实现不损坏原始的电子负载的老化程度测试，但是，这些测试过程难以真的获得对应的电子负载的位置，尤其是难以明确对应的负荷哪个部分存在损害。
技术实现思路
1、鉴于上述问题，本专利技术提出了一种电子负载老化程度测试方法、系统及试验设备，通过电子负载的拆解组合，实现一种基于预设接口的测试与自适应老化测试方法，实现高效、分区域的电子负载挂接测试。
2、根据本专利技术实施例第一方面，提供一种电子负载老化程度测试方法。
3、在一个或多个实施例中，优选地，所述一种电子负载老...
【技术保护点】
1.一种电子负载老化程度测试方法，其特征在于，该方法包括：
2.如权利要求1所述的一种电子负载老化程度测试方法，其特征在于，所述获得电子设备的拆分组合方式，具体包括：
3.如权利要求1所述的一种电子负载老化程度测试方法，其特征在于，所述在拆分组合方式确定后，设置每个电子元器件的分解扣，具体包括：
4.如权利要求1所述的一种电子负载老化程度测试方法，其特征在于，所述为拆分组合方式中每个电子元器件设置一个测试板卡，具体包括：
5.如权利要求1所述的一种电子负载老化程度测试方法，其特征在于，所述在测试板卡的替代接口上设置传感器...
【技术特征摘要】
1.一种电子负载老化程度测试方法，其特征在于，该方法包括：
2.如权利要求1所述的一种电子负载老化程度测试方法，其特征在于，所述获得电子设备的拆分组合方式，具体包括：
3.如权利要求1所述的一种电子负载老化程度测试方法，其特征在于，所述在拆分组合方式确定后，设置每个电子元器件的分解扣，具体包括：
4.如权利要求1所述的一种电子负载老化程度测试方法，其特征在于，所述为拆分组合方式中每个电子元器件设置一个测试板卡，具体包括：
5.如权利要求1所述的一种电子负载老化程度测试方法，其特征在于，所述在测试板卡的替代接口上设置传感器，并将采集的信号存储到在线采集区，具体包括：
6.如权利要求1所述的一种电子负载老化程度测试方法，其特征在于，所述在启动...
【专利技术属性】
技术研发人员：梁远文，刘超，
申请(专利权)人：深圳市鼎泰佳创科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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