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本发明涉及电子负载分析测试技术领域,更具体地,涉及一种电子负载老化程度测试方法、系统及试验设备。该方案包括获得电子设备的拆分组合方式;在拆分组合方式确定后,设置每个电子元器件的分解扣;为拆分组合方式中每个电子元器件设置一个测试板卡;在测试板...该专利属于深圳市鼎泰佳创科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过深圳市鼎泰佳创科技有限公司授权不得商用。
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本发明涉及电子负载分析测试技术领域,更具体地,涉及一种电子负载老化程度测试方法、系统及试验设备。该方案包括获得电子设备的拆分组合方式;在拆分组合方式确定后,设置每个电子元器件的分解扣;为拆分组合方式中每个电子元器件设置一个测试板卡;在测试板...