【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及图像识别，具体涉及一种晶体管外形图像识别方法、装置及电子设备。
技术介绍
1、现有技术方案在对晶体管外形(transistor outline，to)进行封装测试时，需要识别晶体管器件的角度。为了识别该角度，首先制作指定方向的晶体管器件的识别模板，在识别运行时，先找待识别晶体管器件对应图像的圆心位置，再将待识别晶体管器件对应的图像进行0-360度模板旋转，每识别一个角度，进行一次识别模板匹配，确定跟识别模板匹配度最大的旋转角度即为待识别晶体管器件的角度。
2、在现有技术方案中，难免会出现一些晶体管器件反光不一致，或者晶体管器件大小尺寸与识别模板存在一定的偏差，导致器件跟模板匹配的像素值不重合，从而产生误判；如果晶体管器件外观类型很多，需要制作不同的模板，增加了生产操作流程和难度。因此，现有的技术方案在识别晶体管的角度时，效率低且准确性低。
技术实现思路
1、有鉴于此，有必要提供一种晶体管外形图像识别方法、装置及电子设备，用以解决现有技术方案在识别晶体管的角度时存在的效率低且准确性低的技术问题。
2、为了实现上述目的，本专利技术提供了一种晶体管外形图像识别方法，包括：
3、获取晶体管外形底视图，并对所述晶体管外形底视图进行阈值化处理，得到二值图片；
4、确定所述二值图片的中心位置，并确定经过所述中心位置的多条目标直线；
5、确定每条所述目标直线将所述二值图片划分的两部分所对应的重合率；
6、确定最大
7、基于所述对称轴，确定所述晶体管外形底视图的角度。
8、进一步地，所述二值图片的中心位置，包括所述中心横坐标和所述中心纵坐标；所述确定所述二值图片的中心位置，包括：
9、对所述二值图片进行逐行横向扫描，基于每行首次出现的由白变黑点与最后一次由黑变白点之间的中点横坐标，确定所述二值图片的中心横坐标；
10、对所述二值图片进行逐列纵向扫描，基于每列首次出现的由白变黑点与最后一次由黑变白点之间的中点纵坐标，确定所述二值图片的中心纵坐标。
11、进一步地，所述确定每条所述目标直线将所述二值图片划分的两部分所对应的重合率，包括：
12、逐行扫描所述二值图片，以确定同一行的由白变黑点和由黑变白点；
13、确定所述二值图片中每条所述目标直线对应的对称点总数；所述对称点为位于同一行由白变黑点和由黑变白点之间的，像素值均为255且关于所述目标直线对称的像素点；
14、基于每条所述目标直线对应的对称点总数，确定每条所述目标直线将所述二值图片划分的两部分所对应的重合率。
15、进一步地，所述确定每条所述目标直线将所述二值图片划分的两部分所对应的重合率，包括：
16、按照直线斜率从0°到180°的变化范围，依次确定每条所述目标直线将所述二值图片划分的两部分所对应的重合率。
17、进一步地，所述对所述晶体管外形底视图进行阈值化处理，得到二值图片，包括：
18、将所述晶体管外形底视图中像素值大于预设阈值的像素点，转换为像素值为255的像素点，并将所述晶体管外形底视图中像素值小于或等于预设阈值的像素点，转换为像素值为0的像素点，得到所述二值图片。
19、进一步地，所述晶体管外形底视图，是基于ccd相机对准目标晶体管的底部进行拍摄得到。
20、进一步地，所述目标晶体管的底部为规则的轴对称形状。
21、本专利技术还提供一种晶体管外形图像识别装置，包括：
22、获取模块，用于获取晶体管外形底视图，并对所述晶体管外形底视图进行阈值化处理，得到二值图片；
23、直线确定模块，用于确定所述二值图片的中心位置，并确定经过所述中心位置的多条目标直线；
24、重合率确定模块，用于确定每条所述目标直线将所述二值图片划分的两部分所对应的重合率；
25、对称轴确定模块，用于确定最大重合率对应的目标直线为所述二值图片的对称轴；
26、角度确定模块，用于基于所述对称轴，确定所述晶体管外形底视图的角度。
27、本专利技术还提供一种电子设备，包括存储器和处理器，其中，
28、所述存储器，用于存储程序；
29、所述处理器，与所述存储器耦合，用于执行所述存储器中存储的所述程序，以实现如上述任意一项所述的晶体管外形图像识别方法中的步骤。
30、本专利技术还提供一种非暂态计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上述任一项所述的晶体管外形图像识别方法。
31、采用上述实现方式的有益效果是：本专利技术提供的晶体管外形图像识别方法、装置及电子设备，通过确定晶体管外形抗干扰图像对应二值图像的对称轴，来确定晶体管外形底视图的角度，当晶体管外形尺寸大小出现变化时，该方式对识别效果无影响，从而识别的兼容性更好，保证识别结果的准确性。
32、此外，由于晶体管器件反光会存在一定的差异，这样的差异会对生成的二值图像造成影响，一些特征的黑白分布会发生变化，从而影响模板匹配的成功率，本专利技术采用对称轴的方式，确定晶体管外形底视图的角度，可以避免模板匹配的影响，保证识别结果的准确性。
33、而且，本专利技术提供的方案可以快速找到晶体管外形的中心，例如图像大小为1280*960，搜索到中心最多只需要搜索图像行数1280次+图像列数960次，而如果是模板匹配方法，最多需要搜索数为1280*960次，中心搜索速度大大提高，进而提高了识别晶体管角度的效率。
34、综上，本专利技术提供的方案解决了识别晶体管的角度时存在的效率低且准确性低的技术问题。
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1.一种晶体管外形图像识别方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的晶体管外形图像识别方法，其特征在于，所述二值图片的中心位置，包括所述中心横坐标和所述中心纵坐标；所述确定所述二值图片的中心位置，包括：
3.根据权利要求1所述的晶体管外形图像识别方法，其特征在于，所述确定每条所述目标直线将所述二值图片划分的两部分所对应的重合率，包括：
4.根据权利要求1所述的晶体管外形图像识别方法，其特征在于，所述确定每条所述目标直线将所述二值图片划分的两部分所对应的重合率，包括：
5.根据权利要求1所述的晶体管外形图像识别方法，其特征在于，所述对所述晶体管外形底视图进行阈值化处理，得到二值图片，包括：
6.根据权利要求1-5任一项所述的晶体管外形图像识别方法，其特征在于，所述晶体管外形底视图，是基于CCD相机对准目标晶体管的底部进行拍摄得到。
7.根据权利要求6所述的晶体管外形图像识别方法，其特征在于，所述目标晶体管的底部为规则的轴对称形状。
8.一种晶体管外形图像识别装置，其特征在于，包括：
<...【技术特征摘要】
1.一种晶体管外形图像识别方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的晶体管外形图像识别方法，其特征在于，所述二值图片的中心位置，包括所述中心横坐标和所述中心纵坐标；所述确定所述二值图片的中心位置，包括：
3.根据权利要求1所述的晶体管外形图像识别方法，其特征在于，所述确定每条所述目标直线将所述二值图片划分的两部分所对应的重合率，包括：
4.根据权利要求1所述的晶体管外形图像识别方法，其特征在于，所述确定每条所述目标直线将所述二值图片划分的两部分所对应的重合率，包括：
5.根据权利要求1所述的晶体管外形图像识别方法，其特征在于，所述对所述晶体管外形底视...
【专利技术属性】
技术研发人员：张园园，许思萌，张浩东，胡志强，梁晓君，徐聪，
申请(专利权)人：武汉普赛斯电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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