一种BOX器件老化测试系统技术方案

本发明专利技术涉及一种BOX器件老化测试系统，其包括老化盒、电源组件、抽屉以及插拔组件，老化盒的外壁的开口处向内凹陷形成插槽，电源组件与老化盒固定连接，电源组件的供电端设于插槽远离开口的侧壁上，抽屉与插槽滑动连接，抽屉上设置有测试工位以及连接器，测试工位与连接器电连接，抽屉可滑动至连接器与电源组件的供电端抵接，插拔组件包括基座、顶推件和锁舌，基座与插槽滑动连接，锁舌与基座滑动连接，用以驱动锁舌滑动至与抽屉间隔设置或配合连接，当锁舌滑动至与抽屉配合连接时，顶推件经由锁舌驱动抽屉滑动；解决人工安装待测试的BOX器件至老化测试系统，存在BOX器件的加电引脚接触不良的可能，操作不便，测试结果的可靠性低的问题。问题。问题。

【技术实现步骤摘要】
一种BOX器件老化测试系统


[0001]本专利技术涉及BOX器件
，尤其涉及一种BOX器件老化测试系统。

技术介绍

[0002]BOX封装光器件具有良好的气密性、散热性，可用于中长距离通讯。BOX器件里面包含许多元器件，包括激光器芯片、TEC、热沉、陶瓷基块、热敏电阻、背光监控、透镜等器件。BOX器件元件多，封装工艺复杂，任何一个元件和工艺偏差都会造成BOX器件的不良。为了保证BOX器件的可靠性，就需要用老化测试系统筛选出不良的产品。
[0003]BOX器件的内部集成有TEC和热敏电阻，在老化测试过程中，不仅需要对BOX器件的外壳控温，还需要控制BOX器件的内部热沉温度，这就需要保证BOX的加电引脚可靠接触同时保证外壳与热沉可靠接触。
[0004]然而，人工安装待测试的BOX器件至老化测试系统的过程中，存在BOX器件的加电引脚接触不良的可能，操作不便，测试结果的可靠性低。

技术实现思路

[0005]有鉴于此，有必要提供一种BOX器件老化测试系统，用以解决人工安装待测试的BOX器件至老化测试系统的过程中，存在BOX器件的加电引脚接触不良的可能，操作不便，测试结果的可靠性低的问题。
[0006]本专利技术提供一种BOX器件老化测试系统，包括老化盒、电源组件、抽屉以及插拔组件，所述老化盒的外壁的开口处向内凹陷形成插槽，所述电源组件与所述老化盒固定连接，所述电源组件的供电端设于所述插槽远离所述开口的侧壁上，所述抽屉与所述插槽滑动连接，所述抽屉上设置有测试工位以及连接器，所述测试工位与所述连接器电连接，所述抽屉可滑动至所述连接器与所述电源组件的供电端抵接，所述插拔组件包括基座、顶推件和锁舌，所述基座与所述插槽滑动连接，所述锁舌与所述基座滑动连接，所述顶推件与所述插槽固定连接，所述顶推件的输出端与所述锁舌配合连接，用以驱动所述锁舌滑动至与所述抽屉间隔设置或与所述抽屉配合连接，当所述锁舌滑动至与所述抽屉配合连接时，所述顶推件经由所述锁舌驱动所述抽屉滑动。
[0007]进一步的，所述抽屉上开设有锁孔，所述锁舌可滑动至与所述锁孔间隔设置、或滑动至内嵌于所述锁孔中。
[0008]进一步的，所述基座上开设有相互连通设置的第一滑槽和第二滑槽，所述顶推件的输出端与所述第一滑槽滑动连接，所述锁舌与所述第二滑槽滑动连接，所述顶推件的输出端位于所述第一滑槽中的部分固定连接有楔形块，所述楔形块的斜面沿靠近所述供电端的方向向下倾斜设置，所述锁舌与所述楔形块的斜面滑动抵接。
[0009]进一步的，所述第一滑槽与所述第二滑槽相互垂直设置，所述第一滑槽的延伸方向与所述抽屉的滑动方向相同。
[0010]进一步的，所述基座固定连接有一拉伸弹簧，所述拉伸弹簧与所述老化盒的开口
一侧的内壁固定连接，所述拉伸弹簧的伸缩方向与所述抽屉的滑动方向相同。
[0011]进一步的，所述顶推件包括气缸和推板，所述气缸与所述插槽固定连接，所述气缸的输出端与所述推板连接，所述推板与所述第一滑槽滑动连接，所述楔形块固定设于所述推板上。
[0012]进一步的，所述基座靠近所述开口的一侧安装有接触开关，所述基座远离所述开口的一侧固定连接有钩板，所述钩板的折弯处到所述接触开关的距离等于所述抽屉的长度，用以限定所述抽屉与所述锁舌之间的相对设置。
[0013]进一步的，所述插拔组件还包括一压缩弹簧，所述压缩弹簧的一端与所述锁舌连接，所述压缩弹簧的另一端与所述第二滑槽连接。
[0014]进一步的，所述测试工位包括电路板、测试盒、第一加热件、第二加热件，所述电路板固定安装于所述测试工位上、并与所述连接器电连接，所述测试盒固定设于所述电路板上、用以承放BOX器件元件，所述第一加热件内置于所述测试盒中、并与所述电路板电连接，所述第二加热件设于所述测试盒的底部、并与所述电路板电连接。
[0015]进一步的，所述电源组件包括安装于所述老化盒上的直流电源模块、驱动电路模块以及转接模块，所述直流电源模块与所述驱动电路模块电连接，所述驱动电路模块与所述转接模块电连接，所述转接模块设于所述插槽远离所述开口的侧壁上，并形成所述电源组件的供电端。
[0016]与现有技术相比，将抽屉拉出插槽，将BOX器件元件放置于测试工位上，此时，BOX器件元件经由测试工位与连接器电连接，可有效避免BOX器件的加电引脚接触不良的情况，将抽屉推入至插槽中，通过顶推件推动锁舌滑动至与抽屉配合连接，此时抽屉相对于基座锁死，再通过顶推件推动抽屉滑动至连接器与电源组件的供电端抵接，电源组件对BOX器件元件以及测试工位供电，从而实现对BOX器件元件的老化测试功能，整个操作过程，只需人工将BOX器件元件放置于测试工位，通过顶推件可自动实现抽屉的定位、锁死以及与电源组件连接或分离的功能，操作方便，同时，可有效避免人工插入抽屉时，力度不可控而造成连接器损坏，还可以锁定抽屉防止误插拔，提高了系统的可靠性。
附图说明
[0017]图1为本专利技术实施例提供的BOX器件老化测试系统中整体的立体图；
[0018]图2为本专利技术实施例提供的BOX器件老化测试系统中整体的俯视图；
[0019]图3为本专利技术实施例提供的BOX器件老化测试系统中抽屉底部的结构示意图；
[0020]图4为本专利技术实施例提供的BOX器件老化测试系统中锁舌与楔形块配合的结构示意图；
[0021]图5为本专利技术实施例提供的BOX器件老化测试系统中插拔组件的结构示意图；
[0022]图6为本专利技术实施例提供的BOX器件老化测试系统中测试工位的结构示意图；
[0023]图7为本专利技术实施例提供的BOX器件老化测试系统中测试盒内外加热的工作示意图。
具体实施方式
[0024]下面结合附图来具体描述本专利技术的优选实施例，其中，附图构成本申请一部分，并
与本专利技术的实施例一起用于阐释本专利技术的原理，并非用于限定本专利技术的范围。
[0025]如图1、图2和图5所示，本专利技术提供的一种BOX器件老化测试系统，包括老化盒100、电源组件200、抽屉300以及插拔组件400，老化盒100的外壁的开口处向内凹陷形成插槽110，电源组件200与老化盒100固定连接，电源组件200的供电端211设于插槽110远离开口的侧壁上，抽屉300与插槽110滑动连接，抽屉300上设置有测试工位310以及连接器320，测试工位310与连接器320电连接，抽屉300可滑动至连接器320与电源组件200的供电端211抵接，插拔组件400包括基座410、顶推件420和锁舌430，基座410与插槽110滑动连接，锁舌430与基座410滑动连接，顶推件420与插槽110固定连接，顶推件420的输出端与锁舌430配合连接，用以驱动锁舌430滑动至与抽屉300间隔设置或与抽屉300配合连接，当锁舌430滑动至与抽屉300配合连接时，顶推件420经由锁舌430驱动抽屉300滑动。
[0026]实施时，将抽屉300拉出插槽110，将BOX器件元件放置于测试工位310上，此时，B本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种BOX器件老化测试系统，其特征在于，包括老化盒、电源组件、抽屉以及插拔组件；所述老化盒的外壁的开口处向内凹陷形成插槽；所述电源组件与所述老化盒固定连接，所述电源组件的供电端设于所述插槽远离所述开口的侧壁上；所述抽屉与所述插槽滑动连接，所述抽屉上设置有测试工位以及连接器，所述测试工位与所述连接器电连接，所述抽屉可滑动至所述连接器与所述电源组件的供电端抵接；所述插拔组件包括基座、顶推件和锁舌，所述基座与所述插槽滑动连接，所述锁舌与所述基座滑动连接，所述顶推件与所述插槽固定连接，所述顶推件的输出端与所述锁舌配合连接，用以驱动所述锁舌滑动至与所述抽屉间隔设置或与所述抽屉配合连接，当所述锁舌滑动至与所述抽屉配合连接时，所述顶推件经由所述锁舌驱动所述抽屉滑动。2.根据权利要求1所述的BOX器件老化测试系统，其特征在于，所述抽屉上开设有锁孔，所述锁舌可滑动至与所述锁孔间隔设置、或滑动至内嵌于所述锁孔中。3.根据权利要求1所述的BOX器件老化测试系统，其特征在于，所述基座上开设有相互连通设置的第一滑槽和第二滑槽，所述顶推件的输出端与所述第一滑槽滑动连接，所述锁舌与所述第二滑槽滑动连接，所述顶推件的输出端位于所述第一滑槽中的部分固定连接有楔形块，所述楔形块的斜面沿靠近所述供电端的方向向下倾斜设置，所述锁舌与所述楔形块的斜面滑动抵接。4.根据权利要求3所述的BOX器件老化测试系统，其特征在于，所述第一滑槽与所述第二滑槽相互垂直设置，所述第一滑槽的延伸方向与所述抽屉的滑动方向相同。5.根据权利要求3所述的BOX器件老化测试系统，其特征在于，所述基座固定连接有一拉伸弹簧...

【专利技术属性】
技术研发人员：马超，唐朋，黄秋元，周鹏，
申请(专利权)人：武汉普赛斯电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：