【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及芯片检测，尤其涉及一种发光元件单一摆臂水平与垂直发散角测试组件及测试装置。
技术介绍
1、光芯片是一种应用广泛的芯片，根据不同的应用场景，可以分为通信光芯片、计算机光芯片、医疗光芯片、航空航天光芯片等多种类型。光芯片按功能则可以分为激光器芯片和探测器芯片，其中，激光器芯片亦称激光芯片，主要用于发射信号，将电信号转化为光信号，探测器芯片主要用于接收信号，将光信号转化为电信号，两者统称为光芯片。发光的激光器芯片（或激光器件或模块等）在投入使用前，，通常需要对其发光角度进行测量。
2、传统的发散角测试装置具有多个摆臂机构，通过操控多个摆臂机构来检测激光器芯片的发散角，但多个摆臂机构之间并无关联且均为单独工作，使得发散角测试装置的集成度不高，占用空间大。另外，每一摆臂机构上均具有用于检测激光器芯片发散角的探头，每个探头的感光强度可能会因为有差异而引起定量测试发散角数据的误差。
技术实现思路
1、有鉴于此，有必要提供一种发光元件单一摆臂水平与垂直发散角测试组件及测试装置，解决现有技术中多个摆臂机构之间并无关联且均为单独工作，使得发散角测试装置的集成度不高，占用空间大。另外，每一摆臂机构上均具有用于检测激光器芯片发散角的探头，每个探头的感光强度可能会因为有差异而引起定量测试发散角数据的误差的技术问题。
2、为达到上述技术目的，本专利技术的技术方案提供一种发光元件单一摆臂水平与垂直发散角测试组件，包括：
3、第一摆臂机构，包括相连接的第一驱动件和
4、第二摆臂机构，包括第二驱动件和第二摆臂，所述第二驱动件连接所述第一摆臂，所述第二摆臂的一端转动连接所述第一摆臂，所述第二摆臂能够在所述第二驱动件的驱使下围绕第二转轴旋转，所述第二转轴和所述第一转轴呈夹角设置；
5、探头，用于测量发光元件光束的发散角，所述探头连接所述第二摆臂远离所述第一摆臂的一端，所述探头能够在所述第一摆臂和/或所述第二摆臂转动时改变测试方向。
6、进一步的，所述第一摆臂包括相连接且相互垂直的第一本体和第二本体，所述第一本体的厚度方向平行于所述第一转轴，所述第二本体的长度延伸方向平行于所述第一转轴。
7、进一步的，所述第二摆臂包括相连接且相互垂直的第一杆体和第二杆体，所述第一杆体远离所述第二杆体的一端转动连接所述第一摆臂，所述第二杆体远离所述第一杆体的一端连接所述探头。
8、进一步的，所述第二驱动件包括驱动电机、主动齿轮、传动带和从动齿轮，所述主动齿轮和所述从动齿轮均转动连接所述第一摆臂，并通过所述传动带连接，所述从动齿轮连接所述第二摆臂，所述驱动电机连接所述主动齿轮，并用于带动所述主动齿轮转动，以使所述主动齿轮通过所述传动带带动所述从动齿轮及所述第二摆臂转动。
9、进一步的，所述发散角测试组件还包括第一调节机构，所述第一调节机构包括连接块、第一滑块、第一滑座、第一弹簧和第一调节螺丝，所述连接块连接所述第一驱动件和所述第一滑块，所述第一弹簧连接所述第一滑块和所述第一滑座，所述第一调节螺丝螺纹连接于所述第一滑座，所述第一调节螺丝能够在转动时抵压所述第一滑块，以驱使所述第一滑块相对所述第一滑座滑动，所述第一弹簧积蓄弹性力。
10、进一步的，所述发散角测试组件还包括第二调节机构，所述第二调节机构包括第二滑块、第二固定块和第二调节螺丝，所述第一滑座设于所述第二滑块，所述第二滑块沿其厚度方向滑动连接于所述第二固定块，所述第二调节螺丝螺纹连接于所述第二固定块，并能够在转动时驱使所述第二滑块沿其厚度方向上升或下降，以调节所述探头的高度。
11、进一步的，所述第二调节机构还包括转柱和拨块，所述转柱设于所述第二固定块，所述拨块转动连接所述转柱，所述第二调节螺丝在转动时能够抵压所述拨块转动，所述拨块在转动的过程中能够驱使所述第二滑块升降。
12、本专利技术还提供了一种测试装置，包括平移组件、光功率测量组件以及上述的发散角测试组件，所述光功率测量组件和所述发散角测试组件均设于所述平移组件上，所述光功率测量组件用于测量芯片的光功率。
13、进一步的，所述测试装置还包括设于所述平移组件上的光谱测量组件，所述光谱测量组件用于测量芯片的光谱。
14、进一步的，所述平移组件包括平移电机、平移丝杆、平移滑块和平移滑轨，所述平移滑块滑动设于所述平移滑轨，所述平移丝杆螺纹连接所述平移滑块，所述光功率测量组件和所述发散角测试组件均设于所述平移滑块，所述平移电机连接所述平移丝杆，并用于带动所述平移丝杆转动，以使所述平移丝杆通过螺纹配合而驱使所述平移滑块来回滑动，以调节所述光功率测量组件和所述发散角测试组件的位置。
15、与现有技术相比，本专利技术的有益效果包括：本专利技术的探头可用于测量发光元件的发散角度，探头连接第二摆臂，第二摆臂转动连接第一摆臂，第一摆臂和第二摆臂可分别通过第一驱动件和第二驱动件驱动。在检测芯片的发散角度过程中，可以仅控制第一驱动件或第二驱动件，或者同时控制第一驱动件和第二驱动件，带动第一摆臂和第二摆臂沿不同方向转动，以使探头经过多个位置，在多个位置测量发光元件的发散角度，测量发光元件的发散角度准确。和现有技术相比，本专利技术将第一摆臂机构和第二摆臂机构集成在一起，减小了发光元件发散角测试装置的占用空间。另外，本专利技术只设置了一个探头，不存在多个探头共同检测带来的因为不同探头的感光强度有差异而引起定量测试发散角数据误差的问题。
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1.一种发光元件单一摆臂水平与垂直发散角测试组件，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的发光元件单一摆臂水平与垂直发散角测试组件，其特征在于，所述第一摆臂包括相连接且相互垂直的第一本体和第二本体，所述第一本体的厚度方向平行于所述第一转轴，所述第二本体的长度延伸方向平行于所述第一转轴。
3.根据权利要求1所述的发光元件单一摆臂水平与垂直发散角测试组件，其特征在于，所述第二摆臂包括相连接且相互垂直的第一杆体和第二杆体，所述第一杆体远离所述第二杆体的一端转动连接所述第一摆臂，所述第二杆体远离所述第一杆体的一端连接所述探头。
4.根据权利要求1所述的发光元件单一摆臂水平与垂直发散角测试组件，其特征在于，所述第二驱动件包括驱动电机、主动齿轮、传动带和从动齿轮，所述主动齿轮和所述从动齿轮均转动连接所述第一摆臂，并通过所述传动带连接，所述从动齿轮连接所述第二摆臂，所述驱动电机连接所述主动齿轮，并用于带动所述主动齿轮转动，以使所述主动齿轮通过所述传动带带动所述从动齿轮及所述第二摆臂转动。
5.根据权利要求1所述的发光元件单一摆臂水平与垂直发散
6.根据权利要求5所述的发光元件单一摆臂水平与垂直发散角测试组件，其特征在于，所述发散角测试组件还包括第二调节机构，所述第二调节机构包括第二滑块、第二固定块和第二调节螺丝，所述第一滑座设于所述第二滑块，所述第二滑块沿其厚度方向滑动连接于所述第二固定块，所述第二调节螺丝螺纹连接于所述第二固定块，并能够在转动时驱使所述第二滑块沿其厚度方向上升或下降，以调节所述探头的高度。
7.根据权利要求6所述的发光元件单一摆臂水平与垂直发散角测试组件，其特征在于，所述第二调节机构还包括转柱和拨块，所述转柱设于所述第二固定块，所述拨块转动连接所述转柱，所述第二调节螺丝在转动时能够抵压所述拨块转动，所述拨块在转动的过程中能够驱使所述第二滑块升降。
8.一种测试装置，其特征在于，包括平移组件、光功率测量组件以及如权利要求1-7任一项所述的发光元件单一摆臂水平与垂直发散角测试组件，所述光功率测量组件和所述发散角测试组件均设于所述平移组件上，所述光功率测量组件用于测量芯片的光功率。
9.根据权利要求8所述的测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括设于所述平移组件上的光谱测量组件，所述光谱测量组件用于测量芯片的光谱。
10.根据权利要求8所述的测试装置，其特征在于，所述平移组件包括平移电机、平移丝杆、平移滑块和平移滑轨，所述平移滑块滑动设于所述平移滑轨，所述平移丝杆螺纹连接所述平移滑块，所述光功率测量组件和所述发散角测试组件均设于所述平移滑块，所述平移电机连接所述平移丝杆，并用于带动所述平移丝杆转动，以使所述平移丝杆通过螺纹配合而驱使所述平移滑块来回滑动，以调节所述光功率测量组件和所述发散角测试组件的位置。
...【技术特征摘要】
1.一种发光元件单一摆臂水平与垂直发散角测试组件，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的发光元件单一摆臂水平与垂直发散角测试组件，其特征在于，所述第一摆臂包括相连接且相互垂直的第一本体和第二本体，所述第一本体的厚度方向平行于所述第一转轴，所述第二本体的长度延伸方向平行于所述第一转轴。
3.根据权利要求1所述的发光元件单一摆臂水平与垂直发散角测试组件，其特征在于，所述第二摆臂包括相连接且相互垂直的第一杆体和第二杆体，所述第一杆体远离所述第二杆体的一端转动连接所述第一摆臂，所述第二杆体远离所述第一杆体的一端连接所述探头。
4.根据权利要求1所述的发光元件单一摆臂水平与垂直发散角测试组件，其特征在于，所述第二驱动件包括驱动电机、主动齿轮、传动带和从动齿轮，所述主动齿轮和所述从动齿轮均转动连接所述第一摆臂，并通过所述传动带连接，所述从动齿轮连接所述第二摆臂，所述驱动电机连接所述主动齿轮，并用于带动所述主动齿轮转动，以使所述主动齿轮通过所述传动带带动所述从动齿轮及所述第二摆臂转动。
5.根据权利要求1所述的发光元件单一摆臂水平与垂直发散角测试组件，其特征在于，所述发散角测试组件还包括第一调节机构，所述第一调节机构包括连接块、第一滑块、第一滑座、第一弹簧和第一调节螺丝，所述连接块连接所述第一驱动件和所述第一滑块，所述第一弹簧连接所述第一滑块和所述第一滑座，所述第一调节螺丝螺纹连接于所述第一滑座，所述第一调节螺丝能够在转动时抵压所述第一滑块，以驱使所述第一滑块相对所述第一滑座滑动，所述第一弹簧积蓄弹性力。
6.根据权利要求5所述的发光元件单...
【专利技术属性】
技术研发人员：杜红波，张立胜，许思萌，张浩东，胡志强，梁晓君，
申请(专利权)人：武汉普赛斯电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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