【技术实现步骤摘要】
本技术涉及集成电路芯片检测，具体为一种可调节式集成电路芯片测试台。
技术介绍
1、集成电路芯片是包括硅基板、电路、固定封环、接地环及防护环的电子元件，集成电路芯片在使用前需要进行烧录测试，从而判断集成电路芯片是否可以正常使用，但是现有的芯片测试台在使用时，需要将芯片放置在测试台上的测试槽内进行测试，测试结束后，需要将芯片取出，但是由于测试槽的尺寸较小，在拿取芯片时，较为不便。
2、如中国专利公告号cn218037178u所公开了一种集成电路芯片测试台，在使用时，首先将测试芯片放置在测试槽内，向下按压顶盖，使得顶盖带动连接杆沿着底座向下滑动，并对弹簧二产生压缩，当顶盖带动安装框向测试台内部滑动时，安装框内部的压块会对测试台上的芯片产生挤压固定，从而避免芯片在测试过程中产生晃动，压块在挤压时，吸盘同时会对芯片顶部产生挤压，与芯片产生吸合，而滑杆会沿着压块向上滑动，从而弹簧一被拉升，直至吸盘移动至滑槽内部，测试结束后，在弹簧二的弹力作用下，顶盖会带动连接杆向上滑动，吸盘将芯片吸起，操作人员通过向外侧拉动拉杆，拉杆通过拉动连接块沿着...
【技术保护点】
1.一种可调节式集成电路芯片测试台，包括测试台(1)和支撑腿(2)，四根所述支撑腿(2)分别固定连接于测试台(1)的下表面四角，其特征在于：所述测试台(1)的上表面设置有检测装置，所述测试台(1)的上方设置有调节抓取装置；
2.根据权利要求1所述的一种可调节式集成电路芯片测试台，其特征在于：所述调节抓取装置包括调节单元、移动单元、升降单元和抓取单元，所述调节单元设置于测试台(1)的上表面，所述移动单元设置于调节单元之上，所述升降单元和抓取单元设置于移动单元的下方；
3.根据权利要求2所述的一种可调节式集成电路芯片测试台，其特征在于：所述移动单元...
【技术特征摘要】
1.一种可调节式集成电路芯片测试台，包括测试台(1)和支撑腿(2)，四根所述支撑腿(2)分别固定连接于测试台(1)的下表面四角，其特征在于：所述测试台(1)的上表面设置有检测装置，所述测试台(1)的上方设置有调节抓取装置；
2.根据权利要求1所述的一种可调节式集成电路芯片测试台，其特征在于：所述调节抓取装置包括调节单元、移动单元、升降单元和抓取单元，所述调节单元设置于测试台(1)的上表面，所述移动单元设置于调节单元之上，所述升降单元和抓取单元设置于移动单元的下方；
3.根据权利要求2所述的一种可调节式集成电路芯片测试台，其特征在于：所述移动单元包括往复丝杆(404)、滑套(405)、连接杆(406)，所述往复丝杆(404)的左端连接于调节电机(403)的输出端，所述滑套(405)螺纹连接于往复丝杆(404)的外表面，所述连接杆(406)固定连接于滑套(405)的外表面。
4.根据权利要求3所述的一种可调节式集成电路芯片测试台，其特征在于：所述支撑架(401)的下...
【专利技术属性】
技术研发人员：邓开毅，董金生，朱宏辉，
申请(专利权)人：成都玖光科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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