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本技术属于集成电路芯片检测技术领域，尤其涉及一种可调节式集成电路芯片测试台，包括测试台和支撑腿，所述测试台的上表面设置有检测装置，所述测试台的上方设置有调节抓取装置，所述调节抓取装置包括调节单元、移动单元、升降单元和抓取单元。该可调节式集成...
该专利属于成都玖光科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过成都玖光科技有限公司授权不得商用。

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