System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 一种提高MLCC叠层错位精度的识别结构制造技术_技高网

一种提高MLCC叠层错位精度的识别结构制造技术

技术编号:40710918 阅读:2 留言:0更新日期:2024-03-22 11:12
本发明专利技术公开了一种提高MLCC叠层错位精度的识别结构,属于电容器技术领域,其技术要点是:所述识别结构设置在电极膜片一侧,所述识别结构关于所述电极膜片对称设置,电极膜片设置在承载机构的一侧,承载机构用于带动所述电极膜片的识别结构移动,电极膜片另一侧设置有两台CCD相机,CCD相机用于定位电极膜片两侧的识别结构;还应包括搬送机构和积层平台,所述搬送机构在所述承载机构和积层平台之间移动,搬送机构在所述承载机构上抓取电极膜片或陶瓷膜片,搬送机构在所述积层平台上堆叠电极膜片或陶瓷膜片,且搬送机构每次抓取电极膜片和堆叠电极膜片的位置固定不变,可以避免搬送机构移动精度造成的影响,从而提高叠层错位精度的优点。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及电容器,具体是涉及一种提高mlcc叠层错位精度的识别结构。


技术介绍

1、现有mlcc生产技术中,叠层工序主要功能是将陶瓷膜片和印刷有内电极的电极膜片进行有序堆叠,形成陶瓷体和错位的内电极结构,在形成内电极错位结构的过程中,用于叠层定位电极膜片的结构为印刷在电极膜片两侧的识别结构,叠层时,需要通过设备两侧的ccd相机分别定位膜片两侧的识别结构,用来定位膜片的位置,并通过控制步进电机的动作,使膜片搬送装置按照错位数移动,从而形成mlcc的错位结构。

2、现有技术通过ccd相机定位膜片和搬送装置移动膜片,形成mlcc的错位结构。现有技术中,影响叠层错位精度的因素,包含了ccd相机的定位误差,和驱动搬送装置的步进电机的移动误差,其中,步进电机的移动误差,不仅有同一步进电机的移动误差,也有同型号、不同批次步进电机的个体差异。


技术实现思路

1、针对现有技术存在的不足,本专利技术实施例的目的在于提供一种提高mlcc叠层错位精度的识别结构,以解决上述
技术介绍
中的问题。

2、为实现上述目的,本专利技术提供如下技术方案:

3、一种提高mlcc叠层错位精度的识别结构,其特征在于所述识别结构设置在电极膜片一侧,所述识别结构关于所述电极膜片对称设置,所述电极膜片设置在承载机构的一侧,所述承载机构用于带动所述电极膜片的识别结构移动,所述电极膜片另一侧设置有ccd相机,所述ccd相机用于定位所述电极膜片的识别结构;还应包括搬送机构和积层平台,所述搬送机构在所述承载机构和积层平台之间移动,所述搬送机构在所述承载机构上抓取电极膜片或陶瓷膜片,所述搬送机构在所述积层平台上堆叠电极膜片或陶瓷膜片。

4、作为本专利技术进一步的方案,所述搬送机构一侧设置有油压机构,所述油压机构用于挤压电极膜片以及陶瓷膜片。

5、作为本专利技术进一步的方案,所述识别机构包括识别结构a和识别结构b,所述识别结构a和识别结构b的位置不同。

6、作为本专利技术进一步的方案,所述识别结构a为圆形识别结构。

7、作为本专利技术进一步的方案,所述识别结构b为方形识别结构。

8、作为本专利技术进一步的方案,所述识别结构a和识别结构b的距离差为叠层的错位数。

9、作为本专利技术进一步的方案,所述搬送机构每次抓取电极膜片和堆叠电极膜片时,搬送机构相对ccd相机和积层平台位置固定不变。

10、综上所述,本专利技术实施例与现有技术相比具有以下有益效果:

11、本专利技术通过针对不同电极类型,使用不同的识别结构来定位膜片,两类识别结构的中心距为错位数。

12、为更清楚地阐述本专利技术的结构特征和功效,下面结合附图与具体实施例来对本专利技术进行详细说明。

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【技术保护点】

1.一种提高MLCC叠层错位精度的识别结构,其特征在于所述识别结构设置在电极膜片一侧,所述识别结构关于所述电极膜片对称设置,所述电极膜片设置在承载机构的一侧,所述承载机构用于带动所述电极膜片的识别结构移动,所述电极膜片另一侧设置有CCD相机,所述CCD相机用于定位所述电极膜片的识别结构;还应包括搬送机构和积层平台,所述搬送机构在所述承载机构和积层平台之间移动,所述搬送机构在所述承载机构上抓取电极膜片或陶瓷膜片,所述搬送机构在所述积层平台上堆叠电极膜片或陶瓷膜片。

2.根据权利要求1所述的提高MLCC叠层错位精度的识别结构,其特征在于,所述搬送机构一侧设置有油压机构,所述油压机构用于挤压积层平台上的电极膜片以及陶瓷膜片。

3.根据权利要求1所述的提高MLCC叠层错位精度的识别结构,其特征在于,所述识别机构包括识别结构A和识别结构B,所述识别结构A和识别结构B的位置不同。

4.根据权利要求3所述的提高MLCC叠层错位精度的识别结构,其特征在于,所述识别结构A为圆形识别结构。

5.根据权利要求3所述的提高MLCC叠层错位精度的识别结构,其特征在于,所述识别结构B为方形识别结构。

6.根据权利要求3所述的提高MLCC叠层错位精度的识别结构,其特征在于,所述识别结构A和识别结构B的距离差为叠层的错位数。

7.根据权利要求1所述的提高MLCC叠层错位精度的识别结构,其特征在于,所述搬送机构每次抓取电极膜片和堆叠电极膜片时,搬送机构相对CCD相机和积层平台位置固定不变。

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【技术特征摘要】

1.一种提高mlcc叠层错位精度的识别结构,其特征在于所述识别结构设置在电极膜片一侧,所述识别结构关于所述电极膜片对称设置,所述电极膜片设置在承载机构的一侧,所述承载机构用于带动所述电极膜片的识别结构移动,所述电极膜片另一侧设置有ccd相机,所述ccd相机用于定位所述电极膜片的识别结构;还应包括搬送机构和积层平台,所述搬送机构在所述承载机构和积层平台之间移动,所述搬送机构在所述承载机构上抓取电极膜片或陶瓷膜片,所述搬送机构在所述积层平台上堆叠电极膜片或陶瓷膜片。

2.根据权利要求1所述的提高mlcc叠层错位精度的识别结构,其特征在于,所述搬送机构一侧设置有油压机构,所述油压机构用于挤压积层平台上的电极膜片以及陶瓷膜片。

3.根据权利要求1所述...

【专利技术属性】
技术研发人员:赵文辉董贤礼刘圣亮张丹侯少星
申请(专利权)人:北京元六鸿远电子科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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