【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及显示，特别是涉及一种阵列基板测试电路、方法、阵列基板及显示装置。
技术介绍
1、amoled(active-matrix organic light-emitting diode，有源矩阵有机发光二极体)模组是通过source信号(数据线信号)和电路中各种开关信号共同配合来实现画面显示的。当其amoled模组中任意一根信号线出现异常，都会造成画面显示异常。因此，在针对amoled模组进行调试和问题解析时，通常会测试source信号。
2、部分现有的测试方案是通过显示驱动芯片即ddic(display driver ic)完成的，通过模拟某一根source信号线从gpio口(general purpose input/output port，通用输入输出端口)输出到测试点的source波形来对source信号进行调试和问题解析。然而，目前的ddic设计仅可以选择固定的某一条或者某几条source线进行测试，因此，存在阵列基板测试效率低的问题。
技术实现思路
1、基于此，有必要针对现有测试方案的测试效率低的问题，提供一种阵列基板测试电路、方法、阵列基板及显示装置。
2、一种阵列基板测试电路，包括n个测试子电路，其中，n为正整数，所述测试子电路包括第一开关单元和第二开关单元，所述第一开关单元的第一端连接阵列基板的信号线，所述第一开关单元的第二端连接所述第二开关单元的第一端，所述第二开关单元的第二端连接测试线；第n个所述测试子电路中所述第一开关单元的控
3、在其中一个实施例中，n为大于零的偶数。
4、在其中一个实施例中，所述第一开关单元包括第一晶体管，所述第一晶体管的第一极作为所述第一开关单元的第一端，所述第一晶体管的栅极作为所述第一开关单元的控制端，所述第一晶体管的第二极作为所述第一开关单元的第二端。
5、在其中一个实施例中，所述第二开关单元包括第二晶体管，所述第二晶体管的第一极作为所述第二开关单元的第一端，所述第二晶体管的第二极作为所述第二开关单元的第二端，第奇数个所述测试子电路中所述第二晶体管的栅极连接第一控制信号线；第偶数个所述测试子电路中所述第二晶体管的栅极连接第二控制信号线。
6、在其中一个实施例中，第一晶体管和第二晶体管为p型晶体管。
7、一种阵列基板，包括多条信号线和上述任意一项实施例所述的阵列基板测试电路，每一条信号线分别与至少一个测试子电路连接。
8、一种显示装置，包括多条信号线和上述任意一项实施例所述的阵列基板测试电路，每一条信号线分别与至少一个测试子电路连接。
9、一种阵列基板的测试方法，包括根据待测信号线连接的测试子电路确定第一控制信号的电平和第二控制信号的电平；根据待测信号线的测试子电路确定各条信号线传输的信号。
10、在其中一个实施例中，所述根据待测信号线连接的测试子电路确定第一控制信号的电平和第二控制信号的电平包括当所述待测信号线连接的测试子电路为第奇数个所述测试子电路，控制所述第一控制信号的电平为导通电平，控制所述第二控制信号的电平为截止电平。
11、在其中一个实施例中，当所述待测信号线连接的测试子电路为第偶数个所述测试子电路，控制所述第一控制信号的电平为截止电平，控制所述第二控制信号的电平为导通电平。
12、在其中一个实施例中，第n条信号线与第n个所述测试子电路连接，其中，n＝1,2,3,...,n-1，n为正整数，所述根据待测信号线的测试子电路确定各条信号线传输的信号包括当所述待测信号线连接的测试子电路为第n个所述测试子电路，控制所述待测信号线传输测试信号，控制第n+1条所述信号线传输第一信号，控制除所述待测信号线和第n+1条所述信号线以外其他所述信号线传输第二信号。
13、在其中一个实施例中，当所述待测信号线连接的测试子电路为第n个所述测试子电路，控制所述待测信号线传输测试信号，控制第1条所述信号线传输第一信号，控制除所述待测信号线和第1条所述信号线以外其他所述信号线传输第二信号。
14、在其中一个实施例中，所述第一信号的电平为导通电平，所述第二信号的电平为截止电平。
15、在其中一个实施例中，第一信号的电平小于第二信号的电平
16、上述阵列基板测试电路，包括多个测试子电路，测试子电路可以包括第一开关单元和第二开关单元，第奇数个测试子电路中的第二开关单元根据第一控制信号导通或截止，第偶数个测试子电路中的第二开关单元根据第二控制信号导通或截止。测试子电路中的第一开关单元与对应的阵列基板中的信号线连接，每一个测试子电路的第一开关单元根据相邻测试子电路中第一开关单元接的信号线中传输的信号导通或截止，最后一个测试子电路的第一开关单元则根据第一个测试子电路中第一开关单元接的信号线中传输的信号导通或截止。利用上述阵列基板测试电路可以通过改变各个测试子电路中第一开关单元和第二开关单元的状态，来切换至对应的待测信号线，能够实现对任意信号线的选择性测量，大大提高了针对阵列基板中各条信号线的测试效率。
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1.一种阵列基板测试电路，其特征在于，包括N个测试子电路，其中，N为正整数，所述测试子电路包括第一开关单元和第二开关单元，所述第一开关单元的第一端连接阵列基板的信号线，所述第一开关单元的第二端连接所述第二开关单元的第一端，所述第二开关单元的第二端连接测试线；
2.根据权利要求1所述的阵列基板测试电路，其特征在于，N为大于零的偶数。
3.根据权利要求1所述的阵列基板测试电路，其特征在于，所述第一开关单元包括第一晶体管，所述第一晶体管的第一极作为所述第一开关单元的第一端，所述第一晶体管的栅极作为所述第一开关单元的控制端，所述第一晶体管的第二极作为所述第一开关单元的第二端。
4.根据权利要求1所述的阵列基板测试电路，其特征在于，所述第二开关单元包括第二晶体管，所述第二晶体管的第一极作为所述第二开关单元的第一端，所述第二晶体管的第二极作为所述第二开关单元的第二端，第奇数个所述测试子电路中所述第二晶体管的栅极连接第一控制信号线；第偶数个所述测试子电路中所述第二晶体管的栅极连接第二控制信号线。
5.根据权利要求3或4所述的阵列基板测试电路，其特
6.一种阵列基板，其特征在于，包括多条信号线和权利要求1至5任意一项所述的阵列基板测试电路，每一条信号线分别与至少一个测试子电路连接。
7.一种显示装置，其特征在于，包括多条信号线和权利要求1至5任意一项所述的阵列基板测试电路，每一条信号线分别与至少一个测试子电路连接。
8.一种阵列基板的测试方法，其特征在于，包括：
9.根据权利要求8所述的测试方法，其特征在于，所述根据待测信号线连接的测试子电路确定第一控制信号的电平和第二控制信号的电平包括：
10.根据权利要求8所述的测试方法，其特征在于，第n条信号线与第n个所述测试子电路连接，其中，n＝1,2,3,...,N-1，N为正整数，所述根据待测信号线的测试子电路确定各条信号线传输的信号包括：
...【技术特征摘要】
1.一种阵列基板测试电路，其特征在于，包括n个测试子电路，其中，n为正整数，所述测试子电路包括第一开关单元和第二开关单元，所述第一开关单元的第一端连接阵列基板的信号线，所述第一开关单元的第二端连接所述第二开关单元的第一端，所述第二开关单元的第二端连接测试线；
2.根据权利要求1所述的阵列基板测试电路，其特征在于，n为大于零的偶数。
3.根据权利要求1所述的阵列基板测试电路，其特征在于，所述第一开关单元包括第一晶体管，所述第一晶体管的第一极作为所述第一开关单元的第一端，所述第一晶体管的栅极作为所述第一开关单元的控制端，所述第一晶体管的第二极作为所述第一开关单元的第二端。
4.根据权利要求1所述的阵列基板测试电路，其特征在于，所述第二开关单元包括第二晶体管，所述第二晶体管的第一极作为所述第二开关单元的第一端，所述第二晶体管的第二极作为所述第二开关单元的第二端，第奇数个所述测试子电路中所述第二晶体管的栅极连接第一控制信号线；第偶数个...
【专利技术属性】
技术研发人员：郝帅帅，王铁钢，姜海斌，
申请(专利权)人：云谷固安科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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