【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及计算辅助工程,尤其是电磁场仿真软件产品的研发领域,尤其涉及一种基于薄壳单元和界面耦合技术的气隙磁场仿真方法。
技术介绍
1、高磁导率磁性材料围绕的薄气隙问题在磁场计算中经常遇到,由于气隙处的磁能密度远高于磁性材料区域的磁能密度,因此即使气隙很薄,往往也不能忽略气隙的影响,在磁场仿真中需要特别加以考虑。对气隙磁场进行仿真分析时常用的方法主要有:气隙单元法和气隙网格划分法。
2、气隙网格划分法是实际应用中最常见的方法,由于气隙厚度往往很小,因此为了捕获气隙的特征,需要对气隙划分细密的网格,该方法在实际应用中易于实施,无需对气隙进行特殊的处理。
3、气隙单元法,根据气隙的结构特点,假设气隙层内的磁场与气隙厚度方向平行,将实体单元退化为薄壳单元,参见文献:nakata t,takahashi n.3d magnetic fieldanalysis using special elements[j].ieee transactions on magnetics,1990,26(5):2379-2381.、re
...【技术保护点】
1.一种基于薄壳单元和界面耦合技术的气隙磁场仿真方法,其特征在于,具体步骤包括:
2.根据权利要求1所述的基于薄壳单元和界面耦合技术的气隙磁场仿真方法,其特征在于,S2中,对所述气隙层两侧物体中的任意一侧物体的面网格使用薄壳单元进行离散包括:将所述气隙层两侧物体中的任意一侧物体的面网格作为气隙层的离散网格,使用基于气隙磁场与气隙厚度方向的平行假设的厚度退化的薄壳单元对气隙层的磁场进行数值离散;
3.根据权利要求2所述的基于薄壳单元和界面耦合技术的气隙磁场仿真方法,其特征在于,S3中,所述界面耦合技术包括多点约束法,通过所述多点约束法对所述气隙层
...【技术特征摘要】
1.一种基于薄壳单元和界面耦合技术的气隙磁场仿真方法,其特征在于,具体步骤包括:
2.根据权利要求1所述的基于薄壳单元和界面耦合技术的气隙磁场仿真方法,其特征在于,s2中,对所述气隙层两侧物体中的任意一侧物体的面网格使用薄壳单元进行离散包括:将所述气隙层两侧物体中的任意一侧物体的面网格作为气隙层的离散网格,使用基于气隙磁场与气隙厚度方向的平行假设的厚度退化的薄壳单元对气隙层的磁场进行数值离散;
3.根据权利要求2所述的基于薄壳单元和界面耦合技术的气隙磁场仿真方法,其特征在于,s3中,所述界面耦合技术包括多点约束法,通过所述多点约束法对所述气隙层两侧的物体在交...
【专利技术属性】
技术研发人员:江鹏,张群,刘洋,彭飞,邸建忠,
申请(专利权)人:英特工程仿真技术大连有限公司,
类型:发明
国别省市:
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。