【技术实现步骤摘要】
本申请属于缺陷检测，尤其涉及缺陷检测方法、缺陷检测系统、终端设备及计算机可读存储介质。
技术介绍
1、随着电子技术的快速发展，如映像管显示屏(cathode ray tube，crt)和液晶显示屏(liquidcrystaldisplay，lcd)等各类显示屏在电子设备中得到了广泛应用，几乎已成为电子设备的标配。在大批量生产显示屏的过程中，由于生产工艺、生产环境等问题，通常会导致显示屏出现如边缘垫片外露或者杂质等缺陷。
2、目前，通常采用人工检测的方式检查显示屏存在的缺陷，而人工检测需要长时间检测点亮的显示屏，容易造成眼睛疲劳，出现较多误检和漏检的情况，检测效率低且准确性低。
技术实现思路
1、本申请实施例提供了缺陷检测方法、缺陷检测系统、终端设备及存储介质，可以提高显示屏缺陷检测的准确性。
2、第一方面，本申请实施例提供了一种缺陷检测方法，包括：
3、获取待测显示屏的图像，得到待测图像；
4、对所述待测图像进行凸包拟合处理，得到拟合后的所述
<本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种缺陷检测方法，其特征在于，包括：
2.如权利要求1所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述待测图像为所述待测显示屏的正视图，在所述获取待测显示屏的图像，得到待测图像之前，还包括：
3.如权利要求2所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述待测图像为所述待测显示屏的上边缘的正视图，所述根据所述待测显示屏和所述摄像设备的相对位置关系确定第一参数，包括：
4.如权利要求2所述的缺陷检测方法，其特征在于，在所述根据所述第一参数对所述待测显示屏进行调整之后，还包括：
5.如权利要求1所述的缺陷检测方法，其特征在于，在所述根据拟合前的...
【技术特征摘要】
1.一种缺陷检测方法，其特征在于，包括：
2.如权利要求1所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述待测图像为所述待测显示屏的正视图，在所述获取待测显示屏的图像，得到待测图像之前，还包括：
3.如权利要求2所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述待测图像为所述待测显示屏的上边缘的正视图，所述根据所述待测显示屏和所述摄像设备的相对位置关系确定第一参数，包括：
4.如权利要求2所述的缺陷检测方法，其特征在于，在所述根据所述第一参数对所述待测显示屏进行调整之后，还包括：
5.如权利要求1所述的缺陷检测方法，其特征在于，在所述根据拟合前的所述待测图像和拟合后的所述待测图像之间的差异确定差分图像之前，还包括：
6.如权利要求1至5任一项...
【专利技术属性】
技术研发人员：朱合军，钟建平，林淼，张恒瑞，马先明，陈其涛，康映华，
申请(专利权)人：深圳市研祥金码软件有限公司，
类型：发明
国别省市：
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