【技术实现步骤摘要】
本专利技术实施例涉及芯片调测领域，具体而言，涉及一种芯片调测系统及方法。
技术介绍
1、随着集成电路的快速发展，国家对国产芯片的研发力度加大，芯片测试技术越来越受到重视。芯片测试平台，作为芯片测试过程中的重要支撑，对测试工作全面高效开展起着关键作用。
2、目前，现有的测试平台往往基于特定芯片进行研发，缺乏通用性和可移植性且设计不够系统、全面的问题。比如现有技术中或是没有提及上位机的功能设计，或是没有考虑测试初期的调试和性能优化阶段不适合自动化测试的场景，无法同时兼顾自动化测试和前期调试的问题。
技术实现思路
1、本专利技术实施例提供了一种芯片调测系统及方法，以至少解决相关技术中无法在对待测芯片进行自动化测试的同时兼顾待测芯片的前期调试的问题。
2、根据本专利技术的一个实施例，提供了一种芯片调测系统，包括：pc端工具平台，包括图形用户界面gui调试工具，其中，所述gui调试工具用于根据可视化界面中输入的调试参数生成对待测芯片进行模块化调试的调试命令；全可编程片上系统zynq平台，包括处理系统ps端和可编程逻辑pl端，所述ps端和pl端之间通过接口连接，其中，所述ps端与所述gui调试工具通信连接，用于对所述调试命令进行解析以获取待测芯片的调试参数,所述pl端通过外设接口与所述待测芯片连接，用于基于调试参数对所述待测芯片进行调试，并接收来自所述待测芯片的调试反馈数据，并将所述调试反馈数据反馈至所述gui调试工具。
3、根据本专利技术的另一个实施例，提
4、根据本专利技术的又一个实施例，还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有计算机程序，其中，所述计算机程序被设置为运行时执行上述任一项方法实施例中的步骤。
5、根据本专利技术的又一个实施例，还提供了一种电子装置，包括存储器和处理器，所述存储器中存储有计算机程序，所述处理器被设置为运行所述计算机程序以执行上述任一项方法实施例中的步骤。
6、通过本专利技术，提供了一种芯片调测系统，包括：pc端工具平台，包括gui调试工具，其中，gui调试工具用于根据可视化界面中输入的调试参数生成对待测芯片进行模块化调试的调试命令；zynq平台，包括ps端和pl端，ps端和pl端之间通过接口连接，其中，ps端与gui调试工具通信连接，用于对调试命令进行解析以获取待测芯片的调试参数,pl端通过外设接口与待测芯片连接，用于基于调试参数对待测芯片进行调试，并接收来自待测芯片的调试反馈数据，并将调试反馈数据反馈至gui调试工具。解决了相关技术中无法在对待测芯片进行自动化测试的同时兼顾待测芯片的前期调试的问题，达到了既可以对待测芯片进行前期的模块化调试，又可以对待测芯片进行后期的大批量自动化测试的技术效果。
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1.一种芯片调测系统，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述PC端工具平台还包括自动化工具，其中，
3.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，还包括：
4.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述GUI调试工具包括：
5.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述GUI调试工具还包括：
6.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，所述自动化工具包括：
7.根据权利要求6所述的系统，其特征在于，根据所述测试反馈数据生成测试报告，包括：根据所述测试反馈数据生成EXCEL测试报告或者PDF测试报告。
8.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，所述PS端包括：
9.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，所述PL端包括：
10.一种芯片调测方法，其特征在于，应用于权利要求1-9任一所述的芯片调测系统，包括：
11.根据权利要求10所述的方法，其特征在于，所述GUI调试工具根据可视化界面的调试参数生成对待测芯片的调试命令，包括：
12
13.根据权利要求10所述的方法，其特征在于，将所述调试反馈数据反馈至所述GUI调试工具之后，还包括：
14.根据权利要求10所述的方法，其特征在于，还包括：
15.根据权利要求14所述的方法，其特征在于，所述自动化工具根据可视化界面中输入的测试条件和测试用例生成对待测芯片进行自动化测试的测试命令，包括：
16.根据权利要求14所述的方法，其特征在于，所述ZYNQ平台的PL端基于测试参数对所述待测芯片进行参数配置，包括：
17.根据权利要求14所述的方法，其特征在于，将所述测试反馈数据反馈至所述自动化工具之后，还包括：
18.根据权利要求14所述的方法，其特征在于，所述测试报告包括EXCEL测试报告或者PDF测试报告。
19.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质中存储有计算机程序，其中，所述计算机程序被处理器执行时实现所述权利要求10至18任一项中所述的方法。
20.一种电子装置，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现所述权利要求10至18任一项中所述的方法。
...【技术特征摘要】
1.一种芯片调测系统，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述pc端工具平台还包括自动化工具，其中，
3.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，还包括：
4.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述gui调试工具包括：
5.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述gui调试工具还包括：
6.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，所述自动化工具包括：
7.根据权利要求6所述的系统，其特征在于，根据所述测试反馈数据生成测试报告，包括：根据所述测试反馈数据生成excel测试报告或者pdf测试报告。
8.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，所述ps端包括：
9.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，所述pl端包括：
10.一种芯片调测方法，其特征在于，应用于权利要求1-9任一所述的芯片调测系统，包括：
11.根据权利要求10所述的方法，其特征在于，所述gui调试工具根据可视化界面的调试参数生成对待测芯片的调试命令，包括：
12.根据权利要求10所述的方法，其特征在于，所述zynq平台的pl端基于调试参数对所述待测芯片进行参...
【专利技术属性】
技术研发人员：邓顺权，黄新星，
申请(专利权)人：深圳市中兴微电子技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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