【技术实现步骤摘要】
本申请涉及电子电路，具体涉及一种探针位置偏离检测方法及ict装置。
技术介绍
1、在线测试(in-circuit test，ict)是指印刷电路板组件生产中的测试流程，ict主要是通过探针接触组装器件的印制电路板(printed circuit board assembly，pcba)上的测试点(焊盘)，以检测印刷电路板的线路开路、短路、所有零件的焊接情况。
2、普通的ict夹具上有几百甚至几千根探针，为了保障ict的可靠性，需要确保在测试过程中所有探针都准确地与对应的焊盘接触，否则将导致测试结果的不准确。因此，需要对探针与测试点的接触位置进行检测，目前，一般的检测方法是通过先在pcba的焊盘位置上标记测试点，将pcba放置在对应的夹具里，控制夹具使探针与pcba接触，根据探针在pcba留下的针印是否落在对应测试点的范围，确定探针的接触位置是否偏离对应焊盘的位置。
3、然而，上述方法需要人工检测针印是否落在对应的测试点范围，容易发生错检漏检的情况，检测效率低，可靠性低。
技术实现思路<
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【技术保护点】
1.一种探针位置偏离检测方法，其特征在于，应用于测试平台；所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述至少两个探针包括进电探针和出电探针；在所述获取所述电路回路中的电路信息之前，所述方法还包括：
3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述M个第一区域的阻抗均大于所述第二区域的阻抗；所述电路信息为阻抗；所述N个探针包括第一探针，所述第一探针用于接触所述第二区域；所述获取所述电路回路中的电路信息，包括：
4.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述M个第一区域的阻抗均大于所述第二区域的阻抗；所述N个探针包...
【技术特征摘要】
1.一种探针位置偏离检测方法，其特征在于，应用于测试平台；所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述至少两个探针包括进电探针和出电探针；在所述获取所述电路回路中的电路信息之前，所述方法还包括：
3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述m个第一区域的阻抗均大于所述第二区域的阻抗；所述电路信息为阻抗；所述n个探针包括第一探针，所述第一探针用于接触所述第二区域；所述获取所述电路回路中的电路信息，包括：
4.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述m个第一区域的阻抗均大于所述第二区域的阻抗；所述n个探针包括第一探针，所述第一探针用于接触所述第二区域；所述电路信息为阻抗；所述获取所述电路回路中的电路信息，包括：
5.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述m个第一区域的阻抗均小于所述第二区域的阻抗；所述电路信息为阻抗；所述获取所述电路回路中的电路信息，包括：
6.一种在线测...
【专利技术属性】
技术研发人员：苏志佳，
申请(专利权)人：超聚变数字技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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