【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及缺陷检测，具体为一种缺陷检测系统。
技术介绍
1、缺陷检测通常是指对物品表面缺陷的检测，表面缺陷检测是采用先进的机器视觉检测技术，对工件表面的斑点、凹坑、划痕、色差、缺损等缺陷进行检测。
2、根据申请号为cn202310177291.0的专利显示，该专利对所确定的异常分区进行接收，并同时对异常分区内部所存在的异常点进行分析，建立异常分区的外接圆，以圆心为原点，建立坐标系，并获取异常点与圆心之间的距离参数，对此电子元件内多个异常分区采用同类方式进行处理，分析异常点所在位置是否存在规律，并通过信号生成单元生成不同的信号，再通过显示终端对所生成的规律信号进行显示，当外部人员查看到此类规律信号时，便可自行对此电子元件进行分析，或者直接对生产设备进行检查。
3、部分现有的缺陷检测系统通过对图像进行分析来判断是否存在缺陷，针对存在缺陷的直接将其定义为残次品或者异常品，但是这样的缺陷检测方式不能很好地对存在的缺陷进行具体分析，同时也不能很好地结合数据来判断是否对整体存在影响，单纯的缺陷检测不能很好的确定缺陷的类型...
【技术保护点】
1.一种缺陷检测系统，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的一种缺陷检测系统，其特征在于，所述图像分割单元得到多组分割表面图像的具体方式为：
3.根据权利要求1所述的一种缺陷检测系统，其特征在于，所述分割识别单元对多组分割表面图像进行分类的具体方式为：
4.根据权利要求1所述的一种缺陷检测系统，其特征在于，所述分割识别单元对异常表面图像进行重组的具体方式为：
5.根据权利要求1所述的一种缺陷检测系统，其特征在于，所述缺陷识别单元得到缺陷具体原因信息的方式为：
6.根据权利要求1所述的一种缺陷检测系统，其...
【技术特征摘要】
1.一种缺陷检测系统，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的一种缺陷检测系统，其特征在于，所述图像分割单元得到多组分割表面图像的具体方式为：
3.根据权利要求1所述的一种缺陷检测系统，其特征在于，所述分割识别单元对多组分割表面图像进行分类的具体方式为：
4.根据权利要求1所述的一种缺陷检测系统，其特征在于，所述分割识别单元对异常表面图像进行重组的具体方式为：
5.根据权利要求1所述的一种缺陷检测系统，其特征在于，所...
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