【技术实现步骤摘要】
本申请涉及平坦化检测的领域，尤其是涉及一种台面芯片平坦化检测方法、装置、设备及存储介质。
技术介绍
1、台面芯片是指嵌入式在电子设备主板或外设上的芯片。它在设备中扮演着关键的角色，起到控制和执行各种功能的作用。台面芯片通常包括中央处理单元（cpu）、图形处理单元（gpu）、内存控制器、输入/输出控制器等核心组件。台面芯片可以被视为设备的大脑，负责处理和管理数据，实现各种计算、存储和通信操作。在不同类型的设备中，如个人电脑、智能手机、平板电脑和家用电器等，台面芯片的功能和性能会有所差异。
2、而台面芯片的平坦化检测是指对芯片表面平整度进行检测和评估的过程。在半导体制造过程中，芯片的平面度是一个重要的物理特性，对芯片的性能和可靠性有着重要影响。平坦化检测的主要目的是确保芯片表面的平整度达到设定的标准。这些标准通常由制造商或业界组织制定，以确保芯片在安装和连接过程中能够正确对齐和接触其他组件。
3、目前，常见的平坦化检测方法包括使用光学显微镜、扫描电子显微镜（sem）和大气压检测等。这些方法可以对台面芯片表面进行检查和测量，以确定表面的平整度、凹凸、坑洞和其他不平整情况，但以上几种检测方法只能对单个台面芯片进行平坦化检测，无法适应当今的批量化生产，从而存在台面芯片平坦化检测效率低的缺陷。
技术实现思路
1、为了提高台面芯片的平台化检测效率，本申请提供了一种台面芯片平坦化检测方法、装置、设备及存储介质。
2、第一方面，本申请提供一种台面芯片平坦化检测方法
3、获取芯片位置信息，所述芯片位置信息为每个台面芯片对应的放置位置信息；
4、对所述芯片位置信息进行分区组处理，得到至少两个芯片组级以及所述至少两个芯片组级的相对位置；
5、基于所述相对位置确定所述至少两个芯片组级的检测次序，并根据所述检测次序生成检测移动指令，以控制拍摄装置移动至对应检测位置对所述至少两组芯片组级进行拍摄，得到与所述至少两组芯片组级对应的芯片图像信息，所述芯片图像信息用于表示所述拍摄装置从不同预设角度拍摄的台面芯片图像信息；
6、对所述芯片图像信息进行分析处理，得到芯片图像地图点；
7、基于所述芯片图像地图点确定所述芯片图像信息中每一个图像特征点对应的坐标信息；
8、基于所述坐标信息对所述图像特征点中的描述子进行平坦化分析，确定与所述图像特征点相对应的芯片图像信息中的台面芯片平坦度。
9、在另一种可能实现的方式中，对所述芯片图像信息进行分析处理，得到芯片图像地图点，包括：
10、基于所述芯片图像信息确定所述至少两个芯片组级中每个台面芯片的芯片图像集；
11、分别对芯片图像集中每个图像进行三维模拟处理，得到芯片三维图像；
12、按照预设观测角度顺序以及预设动作变化规则将所述芯片三维图像转换为芯片三维视频，并对所述芯片三维视频进行视觉帧采集，得到芯片图像视觉帧；
13、对所述芯片图像视觉帧进行分析处理，得到芯片图像地图点。
14、在另一种可能实现的方式中，所述基于所述坐标信息对所述图像特征点中的描述子进行平坦化分析，确定与所述图像特征点相对应的芯片图像信息中的台面芯片平坦度，包括：
15、获取标准地图点，所述标准地图点为平坦化检测通过的台面芯片的图像地图点，且标准地图点所对应的芯片图像为不同预设角度拍摄得到的；
16、基于所述标准地图点确定所述芯片图像信息中的标准图像特征点以及所述标准图像特征点对应的标准坐标信息；
17、将所述坐标信息与所述标准坐标信息进行匹配，并将匹配后对应的图像特征点中的描述子与标准图像特征点中的标准描述子进行比对计算，确定确定与所述图像特征点相对应的芯片图像信息中的台面芯片平坦度。
18、在另一种可能实现的方式中，所述对所述芯片图像视觉帧进行分析处理，得到芯片图像地图点，包括：
19、对所述芯片图像视觉帧进行分析，得到芯片图像关键帧；
20、基于所述芯片图像关键帧确定第一图像地图点，并判断所述芯片图像关键帧的特征点是否具有深度值和/或所述第一图像地图点存在关联，所述第一图像地图点为所述芯片图像关键帧的初始地图点；
21、若所述芯片图像关键帧的特征点与所述第一图像地图点存在关联，则基于所述芯片图像关键帧的特征点对所述第一图像地图点进行更新，得到更新后的第一图像地图点；
22、若所述芯片图像关键帧的特征点具有深度值且与所述第一图像地图点不存在关联，则基于所述芯片图像关键帧的特征点构建第二图像地图点；
23、若所述芯片图像关键帧的特征点不具有深度值，则获取第一芯片共视关键帧以及第二芯片共视关键帧，并对所述芯片图像关键帧、第一芯片共视关键帧以及第二芯片共视关键帧进行处理，得到第三图像地图点，所述第一芯片共视关键帧为满足所述芯片图像关键帧共视程度要求的关键帧，所述第二芯片共视关键帧为满足所述第一芯片共视关键帧共视程度要求的关键帧；
24、分别对所述第二图像地图点、所述第三图像地图点以及第四图像地图点进行预设处理，得到标准地图点、筛除地图点以及待用地图点，并将所述筛除地图点进行筛除，将所述待用地图点流转至所述芯片图像关键帧的下一个关键帧的地图点进行预设处理，所述第四图像地图点为所述芯片图像关键帧的上一关键帧的地图点通过预设处理得到的待用地图点；
25、将所述标准地图点并入更新后的第一图像地图点，得到芯片图像地图点。
26、在另一种可能实现的方式中，所述对所述芯片图像视觉帧进行分析，得到芯片图像关键帧，包括：
27、基于所述预设观测角度以及所述预设动作变化规则确定所述三维芯片视频中不同帧图像之间的夹角距离信息；
28、确定所述夹角距离信息是否符合预设距离信息，若符合，则将所述芯片图像视觉帧与所述芯片图像视觉帧的前一关键帧进行比对分析，生成芯片图像关键帧。
29、在另一种可能实现的方式中，所述基于所述芯片图像关键帧确定第一图像地图点，包括：
30、判断所述芯片图像关键帧是否为第一关键帧，所述第一关键帧为所述三维芯片视频的初始芯片图像视觉帧；
31、若是，则提取所述芯片图像关键帧中具有深度值的特征点，并基于所述特征点构建地图点；
32、对构建后的地图点进行初始化处理，得到第一图像地图点。
33、在另一种可能实现的方式中，所述提取所述芯片图像关键帧中具有深度值的特征点，包括：
34、基于所述芯片图像关键帧确定图像金字塔，并对所述图像金字塔的每层图像提取特征点，并对提取后的所述特征点进行均匀化处理，得到具有深度值的特征点。
35、第二方面，本申请提供一种台面芯片平坦化检测装置，采用如下的技术方案：
36、一种台面芯片平坦化检测装置，包括：
37、信本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种台面芯片平坦化检测方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的一种台面芯片平坦化检测方法，其特征在于，对所述芯片图像信息进行分析处理，得到芯片图像地图点，包括：
3.根据权利要求1所述的一种台面芯片平坦化检测方法，其特征在于，所述基于所述坐标信息对所述图像特征点中的描述子进行平坦化分析，确定与所述图像特征点相对应的芯片图像信息中的台面芯片平坦度，包括：
4.根据权利要求2所述的一种台面芯片平坦化检测方法，其特征在于，所述对所述芯片图像视觉帧进行分析处理，得到芯片图像地图点，包括：
5.根据权利要求3所述的一种台面芯片平坦化检测方法，其特征在于，所述对所述芯片图像视觉帧进行分析，得到芯片图像关键帧，包括：
6.根据权利要求3所述的一种台面芯片平坦化检测方法，其特征在于，所述基于所述芯片图像关键帧确定第一图像地图点，包括：
7.根据权利要求6所述的一种台面芯片平坦化检测方法，其特征在于，所述提取所述芯片图像关键帧中具有深度值的特征点，包括：
8.一种台面芯片平坦化检测装置，其特征在于，包
9.一种电子设备，其特征在于，该电子设备包括：
10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，当所述计算机程序在计算机中执行时，令所述计算机执行权利要求1～7任一项所述的一种台面芯片平坦化检测方法。
...【技术特征摘要】
1.一种台面芯片平坦化检测方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的一种台面芯片平坦化检测方法，其特征在于，对所述芯片图像信息进行分析处理，得到芯片图像地图点，包括：
3.根据权利要求1所述的一种台面芯片平坦化检测方法，其特征在于，所述基于所述坐标信息对所述图像特征点中的描述子进行平坦化分析，确定与所述图像特征点相对应的芯片图像信息中的台面芯片平坦度，包括：
4.根据权利要求2所述的一种台面芯片平坦化检测方法，其特征在于，所述对所述芯片图像视觉帧进行分析处理，得到芯片图像地图点，包括：
5.根据权利要求3所述的一种台面芯片平坦化检测方法，其特征在于，所述对所...
【专利技术属性】
技术研发人员：曾梅，耿林茹，白晔茹，王树华，褚伊娜，夏光普，
申请(专利权)人：河北光森电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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