【技术实现步骤摘要】
本申请涉及领域，特别是涉及时间交织adc采样时间适配的校准方法、系统、介质及校准器。
技术介绍
1、时间交织adc通常由若干个子通道adc组成，每个子通道采样同一个输入信号，通过一定的时序控制，依次输出各个子通道的采样结果，从而成倍提高adc的实际采样率。然而由于工艺偏差等原因，时间交织adc的各个子通道间存在着各种失配，如增益失配和采样时间失配等，这些失配会严重降低adc的性能。在这些失配中，采样时间失配的校准相对比较困难，通常采用小数延时滤波器等方法。但是，传统的小数延时滤波方法，存在输入信号带宽较窄，且受限于子通道的采样率等问题。或者，采用比较高级复杂的算法，能够增大输入信号的带宽，但也存在算法复杂度较高，硬件实现较困难等问题。
技术实现思路
1、鉴于以上所述现有技术的缺点，本申请的目的在于提供时间交织adc采样时间适配的校准方法、系统、介质及校准器，用于解决现有技术为解决时间交织adc的各个子通道间各种失配问题而引发的输入信号带宽较窄、受限于子通道的采样率及硬件实现困难的技术问题。
2、为实现上述目的及其他相关目的，本申请的第一方面提供一种时间交织adc采样时间适配的校准方法，包括：接收采样同一个输入信号的多路子通道的失配延时；其中，同一采样周期内的第一路子通道为不需要校准的参考通道，其余各路子通道的失配延时基于所述参考通道估计得到；接收由多路选择器依次发送而来的当前被选中的待校准子通道的采样信号；使用线性插值算法并基于待校准子通道所对应的失配延时，计算所述待校
3、于本申请的第一方面的一些实施例中，所述失配延时以采样点为单位，将延时时间与采样周期的比值作为所述失配延时。
4、于本申请的第一方面的一些实施例中，所述使用线性插值算法并基于待校准子通道所对应的延时时间，计算所述待校准子通道的采样信号的校准斜率，其包括：分别求取待校准子通道的前一通道和后一通道的采样信号的线性斜率；求取所述前一通道和后一通道的采样信号的线性斜率的特征值作为所述校准斜率。
5、于本申请的第一方面的一些实施例中，求取所述前一通道和后一通道的采样信号的线性斜率的特征值的方式包括求取所述前一通道和后一通道的采样信号的线性斜率的算术平均值、均方根值或加权平均数。
6、于本申请的第一方面的一些实施例中，所述延时校准系数与校准后的采样信号的频率相关，其相关性表现为：所述延时校准系数设有默认值；根据预设频率阈值判断所述信号频率是否为较低频率；若是，则延时校准系数的值维持所述默认值不变，否则调整所述延时校准系数以补偿估计得到的失配延时。
7、于本申请的第一方面的一些实施例中，所述延时校准系数按照信号频率的分段区间设为对应的离散值，且该些离散值随着信号频率的增加而增加；或者，通过将不同信号频率对应的延时校准系数值进行曲线拟合的方式，拟合得到延时校准系数的连续值。
8、于本申请的第一方面的一些实施例中，基于所述校准斜率及延时校准系数计算得到所述待校准子通道输出的校准后的采样信号，其包括：
9、kn＝(xn-xn-1)/(1+dn-dn-1)；
10、kn+1＝(xn+1-xn)/(1+dn+1-dn)；
11、yn＝xn-a*dn*(kn+kn+1)/2；
12、其中，a表示延时校准系数；xn表示当前待校准子通道的输入信号；xn-1表示当前待校准子通道的前一个子通道的输入信号；xn+1表示当前待校准子通道的后一个子通道的输入信号，若xn为当前采样周期中最后一路子通道的输入信号，则xn+1为下一个采样周期中第一路子通道的输入信号；dn表示当前待校准子通道的失配延时；dn-1表示当前待校准子通道的前一个子通道的失配延时；dn+1表示当前待校准子通道的后一个子通道的失配延时；kn表示子通道xn-1与子通道xn之间的斜率；kn+1表示子通道xn+1与子通道xn之间的斜率；yn表示当前待校准子通道的校准后的输出信号。
13、为实现上述目的及其他相关目的，本申请的第二方面提供一种时间交织adc采样时间适配的校准系统，包括：延时估计模块，用于估计得到采样同一个输入信号的多路子通道的失配延时；其中，同一采样周期内的第一路子通道为不需要校准的参考通道，其余各路子通道的失配延时基于所述参考通道估计得到；多路选择模块，用于从多路子通道中选择待校准子通道的采样信号并传输至延时校准模块；延时校准模块，用于使用线性插值算法并基于待校准子通道所对应的失配延时，计算所述待校准子通道的采样信号的校准斜率；基于所述校准斜率及延时校准系数计算得到所述待校准子通道输出的校准后的采样信号。
14、为实现上述目的及其他相关目的，本申请的第三方面提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现所述时间交织adc采样时间适配的校准方法。
15、为实现上述目的及其他相关目的，本申请的第四方面提供一种延时校准器，包括：处理器及存储器；所述存储器用于存储计算机程序，所述处理器用于执行所述存储器存储的计算机程序，以使所述延时校准器执行所述时间交织adc采样时间适配的校准方法。
16、如上所述，本申请的时间交织adc采样时间适配的校准方法、系统、介质及校准器，具有以下有益效果：本申请提出的时间交织adc采样时间适配的校准方案不存在输入信号带宽较窄或受限于子通道的采样率等问题，硬件实现较为简约，对于低频输入信号有非常优秀的干扰抑制效果，对于高频输入信号也有不错的干扰抑制效果。
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1.一种时间交织ADC采样时间适配的校准方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的时间交织ADC采样时间适配的校准方法，其特征在于，包括：所述失配延时以采样点为单位，将延时时间与采样周期的比值作为所述失配延时。
3.根据权利要求1所述的时间交织ADC采样时间适配的校准方法，其特征在于，所述使用线性插值算法并基于待校准子通道所对应的延时时间，计算所述待校准子通道的采样信号的校准斜率，其包括：分别求取待校准子通道的前一通道和后一通道的采样信号的线性斜率；求取所述前一通道和后一通道的采样信号的线性斜率的特征值作为所述校准斜率。
4.根据权利要求3所述的时间交织ADC采样时间适配的校准方法，其特征在于，求取所述前一通道和后一通道的采样信号的线性斜率的特征值的方式包括求取所述前一通道和后一通道的采样信号的线性斜率的算术平均值、均方根值或加权平均数。
5.根据权利要求1所述的时间交织ADC采样时间适配的校准方法，其特征在于，所述延时校准系数与校准后的采样信号的信号频率相关，其相关性表现为：所述延时校准系数设有默认值；根据预设频率阈值判断
6.根据权利要求5所述的时间交织ADC采样时间适配的校准方法，其特征在于，所述延时校准系数按照信号频率的分段区间设为对应的离散值，且该些离散值随着信号频率的增加而增加；或者，通过将不同信号频率对应的延时校准系数值进行曲线拟合的方式，拟合得到延时校准系数的连续值。
7.根据权利要求1所述的时间交织ADC采样时间适配的校准方法，其特征在于，基于所述校准斜率及延时校准系数计算得到所述待校准子通道输出的校准后的采样信号，其包括：
8.一种时间交织ADC采样时间适配的校准系统，其特征在于，包括：
9.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至7中任一项所述时间交织ADC采样时间适配的校准方法。
10.一种延时校准器，其特征在于，包括：处理器及存储器；
...【技术特征摘要】
1.一种时间交织adc采样时间适配的校准方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的时间交织adc采样时间适配的校准方法，其特征在于，包括：所述失配延时以采样点为单位，将延时时间与采样周期的比值作为所述失配延时。
3.根据权利要求1所述的时间交织adc采样时间适配的校准方法，其特征在于，所述使用线性插值算法并基于待校准子通道所对应的延时时间，计算所述待校准子通道的采样信号的校准斜率，其包括：分别求取待校准子通道的前一通道和后一通道的采样信号的线性斜率；求取所述前一通道和后一通道的采样信号的线性斜率的特征值作为所述校准斜率。
4.根据权利要求3所述的时间交织adc采样时间适配的校准方法，其特征在于，求取所述前一通道和后一通道的采样信号的线性斜率的特征值的方式包括求取所述前一通道和后一通道的采样信号的线性斜率的算术平均值、均方根值或加权平均数。
5.根据权利要求1所述的时间交织adc采样时间适配的校准方法，其特征在于，所述延时校准系数与校准后的采样信号的信号频率相关，其相关性表现为...
【专利技术属性】
技术研发人员：林水洋，钱松，李全栋，
申请(专利权)人：隔空微电子深圳有限公司，
类型：发明
国别省市：
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