System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 层叠器件芯片的制造方法技术_技高网

层叠器件芯片的制造方法技术

技术编号:40582047 阅读:5 留言:0更新日期:2024-03-06 17:25
本发明专利技术提供层叠器件芯片的制造方法,容易地制造包含极薄化的芯片的层叠器件芯片。该方法中,准备第1器件晶片、第2器件晶片和支承基板,该第1器件晶片在正面上设定有多条第1分割预定线且在由第1分割预定线划分的各区域内形成有第1器件,该第2器件晶片在正面上设定有多条第2分割预定线且在由第2分割预定线划分的各区域内形成有第2器件,将支承基板贴合于第1器件晶片的该正面,从背面侧对第1器件晶片进行加工而薄化至规定的厚度,沿着第1分割预定线形成切断槽而将第1器件晶片切断,将第1器件晶片粘贴于第2器件晶片,从第1器件晶片剥离支承基板,将第2器件晶片沿着第2分割预定线进行分割,由此形成各个层叠器件芯片。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及在第1器件晶片上粘贴第2器件晶片而制造层叠器件芯片的层叠器件芯片的制造方法


技术介绍

1、在搭载于电子设备的器件芯片中,近年来,出于节省向规定的安装对象安装该器件芯片时的安装面积、降低soc(system-on-a-chip:片上系统,系统芯片)中的消耗电力等目的,将多个芯片层叠而收纳于一个封装中。以往,将半导体晶片被分割而形成的多个芯片层叠,通过引线接合相互连接。但是,需要用于接线的区域,相应地必须增大封装。

2、因此,开发了如下的技术:除了芯片另外准备基板,在该基板上形成沿着厚度方向的贯通电极,在芯片间配设该基板而将各芯片间利用贯通电极进行连接。另外,配设于芯片间的基板被称为中介层(interposer),通过形成于基板的贯通电极将上下的芯片连接的技术被称为tsv(through-silicon via:硅通孔)。该基板例如使用硅基板。tsv的布线长度比导线短,因此布线电阻和电感极低,消耗电力也能够大幅降低。

3、另外,层叠器件芯片也可以利用其他方法形成。例如在支承基板上并列地配置多个芯片,将芯片用树脂密封而形成临时晶片,然后从树脂侧对临时晶片进行磨削而薄化,将该临时晶片贴合于器件晶片,由此形成贴合晶片。并且,在将支承基板去除之后,将芯片的器件与器件晶片的器件利用贯通电极进行连接(参照专利文献1)。

4、作为其他方法,例如在器件晶片上配置多个芯片,将多个芯片用树脂包覆之后进行平坦化。然后将器件晶片的器件与芯片的器件利用电极进行连接(参照专利文献2)。

5、另外,正在开发将晶片层叠并形成贯通层叠的各晶片的贯通电极并且利用该贯通电极将各晶片彼此连接的方法。该技术被称为wow(wafer on wafer:堆叠晶片)。另外,正在开发将对晶片进行分割而单片化的芯片借助金属制的凸块安装于其他晶片上的方法。该技术被称为cow(chip on wafer:晶片上芯片)。将利用任意的方法层叠晶片或芯片而得的晶片分割,由此形成各个层叠器件芯片。

6、专利文献1:日本特开2012-134231号公报

7、专利文献2:日本特开2015-233049号公报

8、近年来,伴随搭载器件芯片的电子设备的小型化、薄型化,要求半导体器件封装进一步的小型化、薄型化。作为将多个器件聚集于一个封装的方法之一,已知有将预先薄化的芯片沿纵方向层叠而进行安装的三维安装技术。但是,芯片越薄操作越困难。因此,存在如下的问题:为了应对稳定地实施搬送作业和贴合作业的要求,无法使各芯片成为10μm以下的极薄的厚度。


技术实现思路

1、本专利技术是鉴于该问题点而完成的,其目的在于提供层叠器件的制造方法,能够容易且稳定地制造包含极薄化的芯片的层叠器件芯片。

2、根据本专利技术的一个方式,提供层叠器件芯片的制造方法,该层叠器件芯片层叠有多个器件芯片,其特征在于,该层叠器件芯片的制造方法包含如下的步骤:准备步骤,准备第1器件晶片、第2器件晶片以及支承基板,其中,该第1器件晶片在正面上设定有相互交叉的多条第1分割预定线且在由该第1分割预定线划分的各区域内形成有第1器件,该第2器件晶片在正面上设定有相互交叉的多条第2分割预定线且在由该第2分割预定线划分的各区域内形成有第2器件;一体化步骤,在该第1器件晶片的该正面上贴合该支承基板而进行一体化;薄化步骤,在该一体化步骤之后,从背面侧对该第1器件晶片进行加工而薄化至规定的厚度;切断步骤,沿着该第1分割预定线形成切断槽而将该第1器件晶片切断;粘贴步骤,将切断的该第1器件晶片粘贴于该第2器件晶片;剥离步骤,从切断的该第1器件晶片剥离该支承基板;以及分割步骤,将该第2器件晶片沿着该第2分割预定线进行分割,由此形成各个层叠器件芯片。

3、优选在该一体化步骤中,通过粘接材料将该支承基板粘贴于该第1器件晶片,在该剥离步骤中,使该粘接材料的粘接力降低,从该第1器件晶片剥离该支承基板。

4、或者,优选在该一体化步骤中,通过粘接材料将该支承基板粘贴于该第1器件晶片,在该切断步骤中,将该支承基板与该第1器件晶片一起完全切断而形成芯片,在该粘贴步骤中,将该芯片从该第1器件晶片侧载置于该第2器件晶片,然后在该支承基板上粘贴带,在该剥离步骤中,透过该带和该支承基板而对该粘接材料照射激光束,使该粘接材料的粘接力降低,从该第1器件晶片将该支承基板连同该带一起剥离。

5、或者,优选在该一体化步骤中,通过热塑性粘接材料将该支承基板粘贴于该第1器件晶片,在该切断步骤中,将该支承基板与该第1器件晶片一起完全切断而形成芯片,在该粘贴步骤中,将该芯片从该第1器件晶片侧载置于该第2器件晶片,然后通过热硬化性粘接材料将回收用基板粘贴于该支承基板,在该剥离步骤中,对该热塑性粘接材料进行加热而使该热塑性粘接材料的粘接力降低,从该第1器件晶片将该支承基板连同该回收用基板一起剥离。

6、另外,优选在该剥离步骤之后且在该分割步骤之前,将不与该第1器件晶片重叠而与该第2器件晶片重叠的区域利用密封树脂密封。

7、在本专利技术的一个方式的层叠器件芯片的制造方法中,在将第1器件晶片贴合于支承基板的状态下进行薄化并切断。接着,将切断的第1器件晶片贴合于第2器件晶片,然后从第1器件晶片剥离支承基板。

8、在该情况下,在贴合于第2器件晶片之前的期间,已被切断的极薄的第1器件晶片支承于支承基板,因此极薄的第1器件晶片的操作变得容易。因此,将极薄的第1器件晶片容易且稳定地贴合于第2器件晶片。另外,在从极薄的第1器件晶片剥离支承基板时,第1器件晶片支承于第2器件晶片,因此支承基板的剥离也容易。

9、即,无论第1器件晶片如何薄化,都始终支承于支承基板或第2器件晶片,因此第1器件晶片的薄化作业、搬送作业、向第2器件晶片的贴合作业容易。并且,在贴合于第2器件晶片之前沿着第1分割预定线将第1器件晶片切断,因此通过将第2器件晶片分割而能够制造各个层叠器件芯片。

10、因此,根据本专利技术的一个方式,提供层叠器件的制造方法,能够容易且稳定地制造包含极薄化的芯片的层叠器件芯片。

本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种层叠器件芯片的制造方法,该层叠器件芯片层叠有多个器件芯片,

2.根据权利要求1所述的层叠器件芯片的制造方法,其特征在于,

3.根据权利要求1所述的层叠器件芯片的制造方法,其特征在于,

4.根据权利要求1所述的层叠器件芯片的制造方法,其特征在于,

5.根据权利要求1至4中的任意一项所述的层叠器件芯片的制造方法,其特征在于,

【技术特征摘要】

1.一种层叠器件芯片的制造方法,该层叠器件芯片层叠有多个器件芯片,

2.根据权利要求1所述的层叠器件芯片的制造方法,其特征在于,

3.根据权利要求1所述的层叠器件芯片...

【专利技术属性】
技术研发人员:陈之文北原信康
申请(专利权)人:株式会社迪思科
类型:发明
国别省市:

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