【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于热学计量,具体涉及一种露点仪冷镜温度测控模块。
技术介绍
1、精密露点仪是常用的气体露点温度测量仪器,按照气体露点测量原理可分为冷镜式精密露点仪、电容式露点测量仪和电阻式露点测量仪等。冷镜式露点仪的测量原理为:气体掠过镜面时,制冷系统对镜面进行降温,当温度降低到气体露点时,镜面开始结露,此时镜面对应的温度即气体的露点温度。由于该原理采用的是两相平衡法,因此具有测量准确度高、稳定性好的优点,通常在实验室内作为标准器具使用。
2、冷镜式精密露点仪虽测量准确度高、稳定性好,但是受制冷系统制冷下限和结露镜面结构的限制,露点温度测量范围窄,且响应时间较长,无法满足宽范围、快响应的露点测量需求。
技术实现思路
1、本专利技术的目的是提供一种露点仪冷镜温度测控模块,能够用于冷镜式精密露点仪,实现高准确度、宽范围、快响应的气体露点测量。
2、本专利技术的一个方面提供一种露点仪冷镜温度测控模块,包括半导体制冷片、加热丝、蒸发盘管、制冷压缩机、光电系统、测温传感器、镜面、
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【技术保护点】
1.一种露点仪冷镜温度测控模块,其特征在于:包括半导体制冷片、加热丝、蒸发盘管、制冷压缩机、光电系统、测温传感器、镜面、控制器;
2.根据权利要求1所述的露点仪冷镜温度测控模块,其特征在于:所述镜面与所述半导体制冷片的冷端之间采用螺纹连接,并填充导热硅脂。
3.根据权利要求1或2所述的露点仪冷镜温度测控模块,其特征在于:所述测温传感器采用镀膜的方式镀于所述镜面的表面。
4.根据权利要求1-3中任一项所述的露点仪冷镜温度测控模块,其特征在于:还包括露点测量室和绝热罩,所述半导体制冷片、所述加热丝、所述光电系统、所述测温传感器、所述镜面
...【技术特征摘要】
1.一种露点仪冷镜温度测控模块,其特征在于:包括半导体制冷片、加热丝、蒸发盘管、制冷压缩机、光电系统、测温传感器、镜面、控制器;
2.根据权利要求1所述的露点仪冷镜温度测控模块,其特征在于:所述镜面与所述半导体制冷片的冷端之间采用螺纹连接,并填充导热硅脂。
3.根据权利要求1或2所述的露点仪冷镜温度测控模块,其特征在于:所述测温传感器采用镀膜的方式镀于所述...
【专利技术属性】
技术研发人员:胡艳青,孟苏,柴塬,
申请(专利权)人:中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所,
类型:发明
国别省市:
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