一种数据比特错误检验方法、装置、介质及电子装置制造方法及图纸

技术编号:40576330 阅读:16 留言:0更新日期:2024-03-06 17:17
本申请公开了一种数据比特错误检验方法、装置、介质及电子装置,方法包括:构造原始色码图,所述原始色码图包括表示两个独立的逻辑比特的第一区域和表示连接两个逻辑比特的第二区域,所述第一区域和第二区域包括表示数据比特和测量比特的点;在量子电路运行前中后,分别测量所述测量比特,得到运行前报错的第一测量比特、运行时报错的第二测量比特、运行后报错的第三测量比特,运行所述量子电路时,所述量子电路中的逻辑门作用于所述逻辑比特;所述第一、三测量比特为所述第一区域中的测量比特,所述第二测量比特为所述第一区域和/或第二区域中的测量比特;在所述原始色码图中对所述第一、二、三测量比特对应的点进行两两配对,得到多个路径;将所述多个路径和所述第二区域围成的封闭图形中的数据比特作为出错的数据比特。可检验量子电路运行过程中出错的数据比特。

【技术实现步骤摘要】

本申请属于量子计算,特别是一种量子比特错误检验方法、装置、介质及电子装置。


技术介绍

1、量子纠错是一种用于解决量子计算中错误问题的技术。在量子计算中,由于量子比特的易失性和干扰性,计算过程中会产生错误。

2、量子纠错的基本思路是增加冗余量子比特,包括使用多个物理量子比特表示一个逻辑量子比特,并可以采用量子纠错码对数据比特错误进行检验和纠正,其中最具前景的纠错码是拓扑码,包括表面码和色码等。色码是一种基于3-可着色晶格(colorablelattice)的拓扑qec编码簇,由于它与二维架构中的局部约束兼容,成为了容错量子计算的一种有前途的拓扑码。

3、然而,现有的基于色码的数据比特错误检验方法无法检验量子电路运行过程中出错的数据比特。

4、申请内容

5、本申请的目的是提供一种数据比特错误检验方法、装置、介质及电子装置,旨在检验量子电路运行过程中出错的数据比特。

6、本申请的一个实施例提供了一种数据比特错误检验方法,所述方法包括:

7、构造原始色码图,所述原始色码图包括表示两个独立的逻辑本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种数据比特错误检验方法,其特征在于,所述方法包括:

2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述封闭图形包括面积不同的子封闭图形,所述将所述多个路径和所述第二区域围成的封闭图形中的数据比特作为出错的数据比特,包括:

3.一种逻辑比特泡利算符错误检验方法,其特征在于,所述方法包括:

4.如权利要求3所述的方法,其特征在于,所述根据所述出错的数据比特和所述其中一次测量之前得到的报错测量比特,判断逻辑比特泡利算符是否有误,包括:

5.如权利要求3所述的方法,其特征在于,所述根据所述出错的数据比特和所述其中一次测量之前得到的报错测量比特,判断...

【技术特征摘要】

1.一种数据比特错误检验方法,其特征在于,所述方法包括:

2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述封闭图形包括面积不同的子封闭图形,所述将所述多个路径和所述第二区域围成的封闭图形中的数据比特作为出错的数据比特,包括:

3.一种逻辑比特泡利算符错误检验方法,其特征在于,所述方法包括:

4.如权利要求3所述的方法,其特征在于,所述根据所述出错的数据比特和所述其中一次测量之前得到的报错测量比特,判断逻辑比特泡利算符是否有误,包括:

5.如权利要求3所述的方法,其特征在于,所述根据所述出错的数据比特和所述其中一次测量之前得到的报错测量比特,判断逻辑比特泡利算符是否有误,包括:

6.一种逻辑...

【专利技术属性】
技术研发人员:赵勇杰
申请(专利权)人:本源量子计算科技合肥股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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