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本申请公开了一种数据比特错误检验方法、装置、介质及电子装置，方法包括：构造原始色码图，所述原始色码图包括表示两个独立的逻辑比特的第一区域和表示连接两个逻辑比特的第二区域，所述第一区域和第二区域包括表示数据比特和测量比特的点；在量子电路运行前...
该专利属于本源量子计算科技（合肥）股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过本源量子计算科技（合肥）股份有限公司授权不得商用。

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