精密气浮条上浮高度测量装置及测量方法制造方法及图纸

本申请提供一种精密气浮条上浮高度测量装置及测量方法。精密气浮条上浮高度测量装置包括：限位结构和测量结构，限位结构设置有沿竖直方向延伸的上浮通道，且限位结构的侧部设置有对应上浮通道的可视窗口；测量结构的至少部分对应设置在可视窗口，且测量结构对应可视窗口的部分设置有沿竖直方向延伸的刻度。当精密气浮条的送气孔向限位结构的上浮通道内送入气体后，上浮通道内的基板玻璃上浮，进而可以通过可视窗口观察上浮通道内的基板玻璃所在位置对应的测量结构上的刻度值，最后根据该刻度值确认基板玻璃的上浮高度，以得到精密气浮条的上浮高度。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及基板玻璃生产，尤其涉及一种精密气浮条上浮高度测量装置及测量方法。

技术介绍

1、在基板玻璃生产行业，精密气浮条上方的送气孔能够向精密气浮条上方的基板玻璃送气，以使基板玻璃以悬浮在精密气浮条上方的方式被驱动结构驱动后传送，而相机能够在基板玻璃被传送至特定位置后对基板玻璃进行拍照，进而通过所获取的图像确认基板玻璃是否存在颗粒等异物，或者存在划痕等瑕疵。

2、当基板玻璃的上浮距离太高时，不仅会增大耗气量，而且会影响传输稳定性，在传输不稳定时会导致相机对基板玻璃的拍照模糊不清，进而难以通过图像准确检验基板玻璃是否存在异物及瑕疵；当基板玻璃的上浮距离太低时，会导致基板玻璃易和精密气浮条的上表面接触，进而在传送过程中基板玻璃和精密气浮条相互摩擦而均产生划痕，而精密气浮条的价格昂贵，维修及替换将带来更大的经济损失，且当替换精密气浮条时，需要用到角度尺、刀口尺和塞尺，操作较为繁琐。

3、如此，亟需提供一种精密气浮条上浮高度测量装置及测量方法，以在对基板玻璃进行传送前先对精密气浮条的上浮高度进行测量，以此来避免出现上述问题。

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【技术保护点】

1.一种精密气浮条上浮高度测量装置，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的精密气浮条上浮高度测量装置，其特征在于，

3.根据权利要求2所述的精密气浮条上浮高度测量装置，其特征在于，

4.根据权利要求2所述的精密气浮条上浮高度测量装置，其特征在于，

5.根据权利要求4所述的精密气浮条上浮高度测量装置，其特征在于，

6.根据权利要求4所述的精密气浮条上浮高度测量装置，其特征在于，

7.根据权利要求1所述的精密气浮条上浮高度测量装置，其特征在于，

8.根据权利要求7所述的精密气浮条上浮高度测量装置，其特征...

【技术特征摘要】

1.一种精密气浮条上浮高度测量装置，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的精密气浮条上浮高度测量装置，其特征在于，

3.根据权利要求2所述的精密气浮条上浮高度测量装置，其特征在于，

4.根据权利要求2所述的精密气浮条上浮高度测量装置，其特征在于，

5.根据权利要求4所述的精密气浮条上浮高度测量装置，其特征在于，

6.根据权利要求4所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：兰双龙，安利营，何文德，
申请(专利权)人：甘肃光轩高端装备产业有限公司，
类型：发明
国别省市：