一种存储芯片物料批次的定位系统及定位方法技术方案

本发明专利技术提供一种存储芯片物料批次的定位系统及定位方法，定位系统包括封装模块，用以记录晶圆在切割成颗粒模组后的封装信息；标签模块，用以记录给不同的颗粒模组添加标签数据的标签信息；老化测试模块，用以在高温测试下，记录不同的颗粒模组的老化测试信息；锡球测试模块，用以在锡球测试下，记录不同的颗粒模组的锡球测试信息；功能测试模块，用以记录不同的颗粒模组的功能测试信息；以及计算机服务模块，用以将产品数据写入存储芯片的快闪存储器中，产品数据反映存储芯片的测试模块信息和测试结果。本申请可监控存储芯片的生产站点及各个环节的生产数据，防止存储芯片出现跳站、出货混料等情况。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及静态存储，尤其涉及一种存储芯片物料批次的定位系统及定位方法。

技术介绍

1、随着存储芯片在电视机、机顶盒、平板电脑或手机等终端产品的广泛应用，对存储芯片的性能及可靠性要求也越来越高，其中最重要的是确保存储芯片中数据的稳定可靠。存储芯片大量的应用于各行业的终端产品设备中，因应用场景的复杂性，会遇到各种问题。例如是环境问题导致、应用场景导致、硬件电路板导致、软件版本更改导致，因此需要及时的查询出现问题批次的整个生产流程。现有技术中无法快速精准的定位物料批次。因此，存在待改进之处。

技术实现思路

1、本专利技术提供一种存储芯片物料批次的定位系统及定位方法，以解决现有技术中存在的无法对问题芯片的物料批次进行快速精准追溯的技术问题。

2、本专利技术提供的一种存储芯片物料批次的定位系统，包括：

3、封装模块，用以记录晶圆在切割成颗粒模组后的封装信息；

4、标签模块，用以记录给不同的颗粒模组添加标签数据的标签信息，所述标签数据中包括不同的颗粒模组对应的测试工单信息和流水号信本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种存储芯片物料批次的定位系统，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的存储芯片物料批次的定位系统，其特征在于，所述功能测试模块的数量为多个，所述标签模块、所述老化测试模块、所述锡球测试模块各与一个功能测试模块相连，以在不同的测试环境下，记录不同的颗粒模组的功能测试信息。

3.根据权利要求1所述的存储芯片物料批次的定位系统，其特征在于，所述客户端至少通过扫描位于所述存储芯片的标签数据，以获取对应的测试工单信息和流水号信息，主机端读取所述存储芯片的产品数据，获取存储芯片对应的多个测试模块的信息。

4.根据权利要求3所述的存储芯片物料批次的定位系统...

【技术特征摘要】

1.一种存储芯片物料批次的定位系统，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的存储芯片物料批次的定位系统，其特征在于，所述功能测试模块的数量为多个，所述标签模块、所述老化测试模块、所述锡球测试模块各与一个功能测试模块相连，以在不同的测试环境下，记录不同的颗粒模组的功能测试信息。

3.根据权利要求1所述的存储芯片物料批次的定位系统，其特征在于，所述客户端至少通过扫描位于所述存储芯片的标签数据，以获取对应的测试工单信息和流水号信息，主机端读取所述存储芯片的产品数据，获取存储芯片对应的多个测试模块的信息。

4.根据权利要求3所述的存储芯片物料批次的定位系统，其特征在于，所述客户端确定标签数据与产品数据相同时，执行的动作为确认存储芯片物料批次正常，所述客户端确定标签数据和产品数据不相同时，执行的动作为确认存储芯片物料批次混料。

5.根据权利要求1所述的存储芯片物料批次的定位系统，其特征在于，所述计算机服务模块确定颗粒模组在测试模块处出现问题时，执行的动...

【专利技术属性】
技术研发人员：余玉，许展榕，
申请(专利权)人：合肥康芯威存储技术有限公司，
类型：发明
国别省市：