【技术实现步骤摘要】
本专利技术是有关于一种集成电路及其测试方法，且特别是有关于一种包含扫描链的集成电路及其测试方法。
技术介绍
1、在集成电路中，为了针对电路组件的良莠进行测试，需设置多个扫描链来执行自动测试向量产生(automatic test pattern generation,atpg)的测试动作。关于芯片测试模式，可包括芯片点针(chip probing,cp)测试模式以及最终(final test,ft)测试模式。其中，芯片点针测试，也称为晶圆级测试，可在封装前进行。最终测试，也称为封装级测试，可应用在集成电路完成芯片封装后，并可作为集成电路售出前的最后测试动作。
2、芯片封装动作中，其中的封装体可以覆盖掉部分的接脚，并使这些接脚在最终测试模式中无法被获得。因此，芯片封装之后，部分接脚可能无法用以接收测试向量，从而使得部分扫描链无法使用，导致测试的覆盖率降低。
技术实现思路
1、本专利技术提供一种集成电路及测试方法，以在芯片点针(chip probing,cp)测试模式以及最终(final test,ft)测试模式中，皆可有效执行自动测试向量产生(automatictest pattern generation,atpg)的测试动作。
2、本专利技术的集成电路包括第一扫描链、第二扫描链以及第一连接装置。第一连接装置耦接至第一扫描链，且用以将第一扫描链划分为复数段。其中的复数段包括第一段及第二段。其中，在一第一测试模式中，该第一连接装置断开第一段与第二段之间的连续数据
3、本专利技术的测试电路方法包含：提供集成电路，集成电路包括第一扫描链、第二扫描链及第一连接装置，其中第一连接装置耦接于第一扫描链；将第一扫描划分为复数段，复数段包括第一段及第二段；执行第一测试模式，使第一连接装置断开第一段与第二段之间的连续数据传输路径，以及使第一段及第二段其中至少一者建立与第二扫描链的数据传输路径；以及，输入第一测试向量至集成电路。
4、基于上述，本专利技术的集成电路中，透过设置连接装置以使第一扫描链切分为复数个段。并在不同的测试模式下，透过连接装置以使第二扫描链搭配第一扫描链中的复数个段的至少一者，藉此来建立不同的传输路径，并藉以维持执行自动测试向量产生(automatic test pattern generation,atpg)的测试动作的可行性，提升测试涵盖率。
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1.一种集成电路，其特征在于，包括：
2.如权利要求1所述的集成电路，其特征在于，其中在一第二测试模式中，该第一连接裝置使该第一段建立与该第二段之间的该连续资料传输路径。
3.如权利要求1所述的集成电路，其特征在于，其中该第一扫描链具有第一埠、第二埠、第一节点以及第二节点，该第二扫描链具有第一埠以及第二埠，该第一段形成于该第一扫描链的第一埠与该第一连接裝置间，该第二段形成于该第一连接裝置与该第一扫描链的第二埠间，
4.如权利要求1所述的集成电路，其特征在于，其中该第一扫描链具有第一埠、第二埠、第一节点以及第二节点，该第二扫描链具有第一埠及第二埠，该第一段形成于该第一扫描链的第一埠与该第一连接裝置之间，该第二段形成于该第一连接裝置与该第一扫描链的第二埠之间，该第一连接裝置耦接于该第一扫描链的第一节点、该第二扫描链的第二埠以及该第一扫描链的第二节点，该第一连接裝置用以选择性的使该第一段或该第二扫描链建立与该第二段之间的资料传输路径，
5.如权利要求3或4所述的集成电路，其特征在于，其中该第一扫描链的第一埠、该第二扫描链的第一埠为输入埠，
6.如权利要求3所述的集成电路，其特征在于，其中该第一连接裝置耦接于该第一扫描链的第一节点、该第二扫描链的第二埠以及该第一扫描链的第二节点，该第一连接裝置用以选择性的使该第一段或该第二扫描链建立与该第二段之间的资料传输路径，
7.如权利要求3所述的集成电路，其特征在于，更包括：
8.如权利要求3所述的集成电路，其特征在于，其中该第一连接裝置与该第二连接裝置其中至少一者包括多工器或传输閘。
9.如权利要求1所述的集成电路，其特征在于，其中该第一扫描链以及该第二扫描链的每一者包括多个串接的触发器。
10.如权利要求1所述的集成电路，其特征在于，其中该第一扫描链以及该第二扫描链的长度实质上相等。
11.如权利要求1所述的集成电路，其特征在于，其中该第一段与该第二段的长度实质上相等。
12.如权利要求1所述的集成电路，其特征在于，还包括：
13.如权利要求12所述的集成电路，其特征在于，还包括：
14.如权利要求12所述的集成电路，其特征在于，其中该第一段、该第二段以及该第三段的长度实质上相同。
15.一种测试电路方法，其特征在于，包含：
...【技术特征摘要】
1.一种集成电路，其特征在于，包括：
2.如权利要求1所述的集成电路，其特征在于，其中在一第二测试模式中，该第一连接裝置使该第一段建立与该第二段之间的该连续资料传输路径。
3.如权利要求1所述的集成电路，其特征在于，其中该第一扫描链具有第一埠、第二埠、第一节点以及第二节点，该第二扫描链具有第一埠以及第二埠，该第一段形成于该第一扫描链的第一埠与该第一连接裝置间，该第二段形成于该第一连接裝置与该第一扫描链的第二埠间，
4.如权利要求1所述的集成电路，其特征在于，其中该第一扫描链具有第一埠、第二埠、第一节点以及第二节点，该第二扫描链具有第一埠及第二埠，该第一段形成于该第一扫描链的第一埠与该第一连接裝置之间，该第二段形成于该第一连接裝置与该第一扫描链的第二埠之间，该第一连接裝置耦接于该第一扫描链的第一节点、该第二扫描链的第二埠以及该第一扫描链的第二节点，该第一连接裝置用以选择性的使该第一段或该第二扫描链建立与该第二段之间的资料传输路径，
5.如权利要求3或4所述的集成电路，其特征在于，其中该第一扫描链的第一埠、该第二扫描链的第一埠为输入埠，该第一扫描链的第二埠、该第二扫描链的第二埠为输出埠，该第一扫描链的第一节点为输出节点，该第一扫描...
【专利技术属性】
技术研发人员：林明燕，王梓百，翁宏启，
申请(专利权)人：立积电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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