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本发明提出一种集成电路及其测试方法。集成电路包括第一扫描链、第二扫描链以及第一连接装置。第一连接装置耦接至第一扫描链，且用以将第一扫描链划分为复数段。其中的复数段包括第一段及第二段。在第一测试模式中，第一连接装置断开第一段与第二段之间的连续...
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