【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及半导体制造,尤其涉及一种清洗药液处理方法及装置、硅片清洗设备。
技术介绍
1、现有技术中,在对硅片进行清洗时,将硅片放入容纳有清洗药液的清洗槽中进行清洗,在更换清洗槽中的清洗药液时,有两种方式:
2、方式一:设置固定的更换时长,按照更换时长定期更换清洗槽中的清洗药液。但是如果硅片清洗设备长时间待机或者对硅片的清洗次数比较少时,清洗药液的洁净度还比较好,对清洗药液进行更换会造成清洗药液的浪费;如果在对清洗药液进行更换之前,清洗药液的洁净度已经比较差,还未对清洗药液进行更换,会导致对硅片的清洗效果不理想。
3、方拾二:设置固定的清洗次数,在清洗硅片的批次达到固定的清洗次数后,更换清洗槽中的清洗药液;但是如果在更换之前,清洗药液的洁净度已经比较差,还未对清洗药液进行更换,会导致对硅片的清洗效果不理想;或者,如果清洗药液的洁净度还比较好,对清洗药液进行更换会造成清洗药液的浪费。
技术实现思路
1、为了解决上述技术问题,本专利技术提供一种清洗药液处理方法及装置、
...【技术保护点】
1.一种清洗药液处理装置,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的清洗药液处理装置,其特征在于,
3.根据权利要求1所述的清洗药液处理装置,其特征在于,所述清洗药液处理装置还包括:
4.根据权利要求1所述的清洗药液处理装置,其特征在于,所述清洗药液处理装置还包括:
5.根据权利要求4所述的清洗药液处理装置,其特征在于,
6.一种硅片清洗设备,其特征在于,包括如权利要求1-5中任一项所述的清洗药液处理装置。
7.一种清洗药液处理方法,其特征在于,应用于如权利要求1-5中任一项所述的清洗药液处理装
<...【技术特征摘要】
1.一种清洗药液处理装置,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的清洗药液处理装置,其特征在于,
3.根据权利要求1所述的清洗药液处理装置,其特征在于,所述清洗药液处理装置还包括:
4.根据权利要求1所述的清洗药液处理装置,其特征在于,所述清洗药液处理装置还包括:
5.根据权利要求4所述的清洗药液处理装置,其特征在于,
6.一种硅片清洗设备,其特征在于,包括如权利要求1-5中任一项所述的清洗药液处理装置。
7.一种清洗药液处理方法,其特征在...
【专利技术属性】
技术研发人员:刘浩志,栗宏骁,高宇,
申请(专利权)人:西安奕斯伟材料科技股份有限公司,
类型:发明
国别省市:
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