【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于微波、毫米波测试,具体涉及一种透波材料在高温高压下的介电性能测试系统及方法。
技术介绍
1、毫米波材料是国防、军事装备、航天航空、电子通讯众多领域中的关键基础材料。随着通讯、遥测、制导、引爆、导航、电子对抗、隐身等技术的发展,对材料毫米性能的稳定性、一致性、高温高压环境下应用提出了越来越高的要求。例如,当飞机、导弹、火箭等航空航天设备高速飞行时,随着飞行速度的逐步加快,空气形成高速气流与设备头部摩擦越来越大,导致头部材料温度和压力急剧上升,而微波材料的介电参数在高温高压环境下是呈现非线性变化的,这将对飞行器天线发送、接收信号产生极大的影响。因此,准确的测试、分析这些微波材料的介电参数在高温高压环境下的变化情况,具有十分重要的实际意义。
2、准光腔具有极高的q值,并且工作模式简单,高阶模式对主模的影响比较小,腔体开放放置样品操作方便,因此十分适用于透波材料的介电特性测量。目前,有关利用准光腔法测量透波材料介电性能的相关研究主要集中于常温或者低温环境中。董盎然的论文《材料介电参数准光腔法低温测试技术研究》中搭建了一
...【技术保护点】
1.一种透波材料在高温高压下的介电性能测试系统,其特征在于,包括温度显示仪、压力显示仪、加压器、压力传感器、隔热金属层、平面镜、水冷单元、加热感应线圈、熔融石英、准光腔球面镜、第一准光腔同轴耦合环、第二准光腔耦合环、矢量网络分析仪、温控仪、温度感应器;
2.如权利要求1所述的介电性能测试系统,其特征在于,所述待测微波材料为长方体,其长宽高的尺寸为200mm×200mm×2mm。
3.如权利要求2所述的介电性能测试系统,其特征在于,所述待测微波材料表面应光滑平整,以满足在待测微波材料表面高斯波束以近似平面波在与待测微波材料表面垂直的方向上传播。<
...【技术特征摘要】
1.一种透波材料在高温高压下的介电性能测试系统,其特征在于,包括温度显示仪、压力显示仪、加压器、压力传感器、隔热金属层、平面镜、水冷单元、加热感应线圈、熔融石英、准光腔球面镜、第一准光腔同轴耦合环、第二准光腔耦合环、矢量网络分析仪、温控仪、温度感应器;
2.如权利要求1所述的介电性能测试系统,其特征在于,所述待测微波材料为长方体,其长宽高的尺寸为200mm×200mm×2mm。
3.如权利要求2所述的介电性能测试系统,其特征在于,所述待测微波材料表面应光滑平整,以满足在待测微波材料表面高斯波束以近似平面波在与待测微波材料表面垂直的方向上传播。
4.如...
【专利技术属性】
技术研发人员:向志军,杨行健,高勇,唐小宏,李恩,张云鹏,高冲,龙嘉威,
申请(专利权)人:电子科技大学,
类型:发明
国别省市:
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