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本发明的目的在于提供一种透波材料在高温高压下的介电性能测试系统与方法，属于微波、毫米波介质材料测试技术领域。该系统创新性地在常规准光腔法测试装置中加设了温度装置用于加热、压力装置用于加压，并考虑到温度和压力对光腔的影响设置了熔融石英，从而使...
该专利属于电子科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过电子科技大学授权不得商用。

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