优化静电线性离子阱（ELIT）的几何和静电参数的方法技术

一种用于针对质荷(m/z)测量分辨率优化静电线性离子阱(ELIT)的方法可以包括：确定ELIT的初始静电和几何参数，修改初始静电参数中的至少一个以产生结果得到的修改静电参数集，利用该修改静电参数集，由ELIT进行的m/z测量独立于在ELIT内移动的离子相对于ELIT纵轴的轨迹，修改初始几何参数中的至少一个，以产生结果得到的修改几何参数集，用该修改几何参数集，由ELIT进行的m/z测量独立于在ELIT内移动的离子的能量，并且使用该修改的静电和几何参数集构造ELIT。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

本公开总体上涉及利用一个或多个静电线性离子阱(elit)来同时测量离子质荷比和离子电荷的质谱仪器，以及更具体地涉及用于优化这样一个或多个elit的几何和静电参数的方法，以及涉及由这样的方法产生的elit。

技术介绍

1、电荷检测质谱法(cdms)是一种粒子分析技术，其中通过同时测量离子的质荷比(通常称为“m/z”)和电荷来确定离子的质量。在一些cdms仪器中，静电线性离子阱(elit)用于进行这样的测量。

技术实现思路

1、本公开可以包括所附权利要求书中记载的特征中的一个或多个，和/或以下特征中的一个或多个及其组合。在第一方面，一种用于针对质荷(m/z)测量分辨率优化静电线性离子阱(elit)的方法可以包括(a)用计算机确定elit的初始静电和几何参数，(b)用计算机修改初始静电参数中的至少一个，以产生结果得到的修改静电参数集，用所述修改静电参数集，由elit进行的m/z测量独立于在elit内移动的离子相对于elit纵轴的轨迹，(c)用计算机修改初始几何参数中的至少一个，以产生结果得到的修改几何参数集，用所述本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种用于针对质荷(m/z)测量分辨率优化静电线性离子阱(ELIT)的方法，所述方法包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其中，(b)包括修改初始静电参数中的至少一个以产生结果得到的修改静电参数集，用所述修改静电参数集，用ELIT进行的m/z测量独立于在ELIT内以指定离子能量移动的离子的轨迹。

3.根据权利要求1或权利要求2所述的方法，进一步包括，在构造ELIT之前，迭代地执行(b)和(c)以使修改的静电和几何属性集彼此一致，以便使修改的静电和几何属性集中的每一个对由ELIT进行的m/z测量的影响最小化。

4.根据权利要求1直至3中任一项所述的方法...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

1.一种用于针对质荷(m/z)测量分辨率优化静电线性离子阱(elit)的方法，所述方法包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其中，(b)包括修改初始静电参数中的至少一个以产生结果得到的修改静电参数集，用所述修改静电参数集，用elit进行的m/z测量独立于在elit内以指定离子能量移动的离子的轨迹。

3.根据权利要求1或权利要求2所述的方法，进一步包括，在构造elit之前，迭代地执行(b)和(c)以使修改的静电和几何属性集彼此一致，以便使修改的静电和几何属性集中的每一个对由elit进行的m/z测量的影响最小化。

4.根据权利要求1直至3中任一项所述的方法，其中，所述elit包括轴向设置在两个离子镜之间的检测圆柱体，所述方法进一步包括：

5.根据权利要求1直至4中任一项所述的方法，其中，(a)包括确定初始静电和几何参数，所述初始静电和几何参数使结果得到的elit的俘获效率和m/z分辨率最大化。

6.根据权利要求1直至5中任一项所述的方法，其中，所述elit包括轴向设置在两个离子镜之间的检测圆柱体，

7.根据权利要求1直至6中任一项所述的方法，其中，所述elit包括轴向设置在两个离子镜之间的检测圆柱体，并且其中所述elit在所述两个离子镜的相对端之间限定无场区域，

8.根据权利要求1直至7中任一项所述的方法，进一步包括操作所构造的elit来测量m/z和供应给它的离子的电荷。

9.根据权利要求1直至7中任一项所述的方法，进一步包括：

10.一种静电线性离子阱(elit)，包括：

11.根据权利要求10所述的elit，其中，所述至少一个电压进一步...

【专利技术属性】
技术研发人员：M·F·贾罗德，D·Y·博塔马年科，
申请(专利权)人：印地安纳大学理事会，
类型：发明
国别省市：