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一种用于针对质荷(m/z)测量分辨率优化静电线性离子阱(ELIT)的方法可以包括：确定ELIT的初始静电和几何参数，修改初始静电参数中的至少一个以产生结果得到的修改静电参数集，利用该修改静电参数集，由ELIT进行的m/z测量独立于在ELIT...
该专利属于印地安纳大学理事会所有，仅供学习研究参考，未经过印地安纳大学理事会授权不得商用。

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