【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
提出一种用于检查发光二极管组件的测量装置和一种用于检查发光二极管组件的方法。
技术介绍
1、本申请要求德国专利申请102021117268.3的优先权，其公开内容通过参引的方式并入本文。
2、发光二极管组件例如包括至少一个发光二极管，英文为light emitting diode，缩写为led，和具有电流调节电路的集成电路。电流调节电路可以作为电流阱或电流源实现。发光二极管与电流调节电路串联地设置。包括发光二极管和电流调节电路的串联电路将供给输入端与电势端子连接。集成电路具有电路供给输入端和至少一个信号端子。因为在发光二极管组件中，发光二极管的端子与集成电路中的电流调节电路的端子固定连接，并且所述端子通常不能从外部触及，所以各个发光二极管的检查变得困难。
技术实现思路
1、本专利技术的目的在于，提出一种用于检查发光二极管组件的测量装置和一种用于检查发光二极管组件的方法，利用所述测量装置和所述方法能够探测发光二极管组件的漏电流。
2、所述目的通过根据独立权利要求的主题...
【技术保护点】
1.一种用于检查发光二极管组件(10)的测量装置(30)，所述测量装置包括：
2.根据权利要求1所述的测量装置(30)，
3.根据权利要求1或2所述的测量装置(30)，
4.根据权利要求3所述的测量装置(30)，
5.根据权利要求3或4所述的测量装置(30)，
6.根据权利要求1至5中任一项所述的测量装置(30)，
7.根据权利要求6所述的测量装置(30)，
8.根据权利要求6或7所述的测量装置(30)，
9.根据权利要求1至8中任一项所述的测量装置(30)，
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【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】
1.一种用于检查发光二极管组件(10)的测量装置(30)，所述测量装置包括：
2.根据权利要求1所述的测量装置(30)，
3.根据权利要求1或2所述的测量装置(30)，
4.根据权利要求3所述的测量装置(30)，
5.根据权利要求3或4所述的测量装置(30)，
6.根据权利要求1至5中任一项所述的测量装置(30)，
7.根据权利要求6所述的测量装置(30)，
8.根据权利要求6或7所述的测量装置...
【专利技术属性】
技术研发人员：斯特凡·科舍尔，
申请(专利权)人：艾迈斯欧司朗国际有限责任公司，
类型：发明
国别省市：
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