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一种用于检查发光二极管组件(10)的测量装置(30)，包括：第一供给端子(34)；第二供给端子(35)；至少一个信号输出端(36，37)；参考电势端子(38)；电压源(31)，所述电压源设置在第一供给端子(34)与参考电势端子(38)之间；...该专利属于艾迈斯-欧司朗国际有限责任公司所有，仅供学习研究参考，未经过艾迈斯-欧司朗国际有限责任公司授权不得商用。
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