【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及微电子及显示的，具体涉及一种显示亮点缺陷的修复电路。
技术介绍
1、硅基oled（organic light emitting diode）微显示器是一种基于硅晶片的显示器技术，它结合了有机发光二极管（oled）的优异特性和硅基集成电路（ic）的制造技术。硅基oled微显示器具有高分辨率、高对比度、低功耗、快速响应和小尺寸等优势，是广泛应用于可穿戴设备、便携式娱乐设备、头戴式显示器、无人机、夜视仪等领域的重要技术。
2、但是由于驱动芯片存在制造良率限制，像素电路中的驱动管有一定概率出现漏电较大的情况，从而导致硅基oled微显示器出现显示亮点缺陷。一旦出现该问题，如不能修复，整台硅基oled微显示器都将报废，严重影响产品良率。
3、正常显示下，显示暗点的影响比亮点的影响小得多。目前业内普遍采用激光修复的方法对亮点缺陷进行修复，将亮点变为暗点。但该方法需要昂贵的激光修复设备，修复效率低，而且存在修复失败的可能。
4、如何以低成本快速高效地修复显示亮点缺陷成为一个亟待解决的问题。
技术实现思路
1、本专利技术提出一种显示亮点缺陷的修复电路，可以根据显示亮点缺陷所在行/列的坐标，通过行、列寻址电路，配合像素电路，关断异常像素中漏电的驱动管的电源，从而修复显示亮点缺陷。
2、为实现上述技术目的，本专利技术采用以下技术方案：
3、一种显示亮点缺陷的修复电路，包括分别与行寻址电路、列寻址电路连接的像素电路，还包括与像素电路
4、优选的是，本专利技术的像素电路包括第一驱动管mn1、第二驱动管mn2、第五开关管mn5、第一开关管mp1、第二开关管mp2、第三开关管mp3、第四开关管mp4和电容器cst，第五开关管mn5的漏极接数据信号vdata，栅极接行扫描信号sel，源极与电容器cst的上极板以及第一驱动管mn1、第二驱动管mn2的栅极相连；第一驱动管mn1的漏极与第一开关管mp1、第二开关管mp2的漏极相连；第二驱动管mn2的漏极与第三开关管mp3、第四开关管mp4的漏极相连；第一驱动管mn1、第二驱动管mn2的源极相连，并连接到oled发光器件的阳极；第一开关管mp1、第二开关管mp2、第三开关管mp3、第四开关管mp4的源极连接到像素电源vdd，第一开关管mp1、第三开关管mp3的栅极相连，由行寻址电路控制；第二开关管mp2、第四开关管mp4的栅极由列寻址电路控制；电容器cst的上极板与第一驱动管mn1、第二驱动管mn2的栅极相连，电容器cst的下极板接地。
5、优选的是，本专利技术的行寻址电路和列寻址电路的结构相同，包括：d触发器、计数器、数字比较器0、数字比较器1~m、与非门、rs触发器、移位寄存器、锁存器，d触发器的q端与计数器的输入端连接，计数器的输出端分别与数字比较器的输入端连接，数字比较器0的输出端连接rs触发器的输入端，数字比较器1~m的输出端均与与非门的输入端连接，与非门的输出信号y连接到移位寄存器的输入端，移位寄存器的输出信号q<0>~q<n-1>输入到锁存器。
6、优选的是，本专利技术的d触发器利用时钟信号clk对外部输入的使能信号en采样后，产生使能信号en1。
7、优选的是，本专利技术计数器的输入信号为使能信号en1、时钟信号clk、rs触发器的输出信号ctr，输出计数信号cnt连接到所有数字比较器；在使能en1为0时，计数信号cnt为0；当使能en1为1，且rs触发器的输出信号ctr为1时，计数器在时钟信号clk的作用下开始计数；当使能en1为1，且rs触发器的输出信号ctr为0时，计数器停止计数，计数信号cnt保持当前状态。
8、优选的是，本专利技术数字比较器0的输入信号为使能信号en1、计数信号cnt、预设值n，输出信号连接到rs触发器；在使能en1为0时，数字比较器0的输出为1；当使能en1为1时，数字比较器0比较预设值n与计数信号，当计数信号不等于预设值n时，输出信号为1；当计数信号等于预设值n时，输出信号为0；如果数字比较器0用于行寻址电路，则预设值n为总行数；如果数字比较器0用于列寻址电路，则预设值n为总列数的2倍。
9、优选的是，本专利技术数字比较器1~m的输入信号为使能信号en1、计数信号cnt、地址信号addr_1~addr_m，输出信号连接到与非门的输入端，其中1≤m≤n，n为预设值；在使能en1为0时，数字比较器1~m的输出为1；当使能en1为1时，数字比较器1~m比较地址信号与计数信号，当计数信号不等于地址信号时，输出信号为1；当计数信号等于地址信号时，输出信号为0；地址信号addr根据显示亮点缺陷的所在行/列的坐标计算得到。
10、优选的是，本专利技术移位寄存器的输入信号为使能信号en1、与非门的输出信号y、时钟信号的反信号clk_和rs触发器的输出信号ctr，输出信号q<0>~q<n-1>输入到锁存器，n为预设值；当使能信号en1为0时，移位寄存器的输出信号q<0>~q<n-1>都为0；当使能en1为1，且rs触发器的输出信号ctr为1时，移位寄存器在在时钟信号的反信号clk_的作用下将接收到的与非门的输出信号y往后移位；当使能en1为1，rs触发器的输出信号ctr为0时，移位寄存器停止移位，输出信号q<0>~q<n-1>保持当前状态，n为预设值。
11、优选的是，本专利技术的rs触发器包括第一与非门nand1和第二与非门nand2，第一与非门nand1的一个输入端接行使能信号en1，另一个输入端接第二与非门nand2的输出；第二与非门nand2的一个输入端接数字比较器0的输出信号，另一个输入端接第一与非门nand1的输出；第一与非门nand1的输出信号为rs触发器的输出信号ctr。
12、优选的是，本专利技术锁存器的输入信号为rs触发器的输出信号ctr和移位寄存器的输出信号q<0>~q<n-1>，输出信号为s<0>~s<n-1>；当ctr信号为1时，输出信号都为0；当ctr信号为0时，锁存器将移位寄存器的输出信号q<0>~q<n-1>保存到输出信号s<0>~s<n-1>；对于行寻址电路，锁存器输出信号s<0>~s<n-1>连接到像素电路中第一开关管mp1和第三开关管mp3的栅极；对于列寻址电路，锁存器输出信号s<0>~s<n-1>分别连接到像素电路中第二开关管mp2、第四开关管mp4的栅极，n为预设值。
13、本专利技术提出的一种显示亮点缺陷的修复电路可以根据显示亮点缺陷所在行/列的本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种显示亮点缺陷的修复电路，其特征在于：包括分别与行寻址电路、列寻址电路连接的像素电路，还包括与像素电路连接的列电源开关；
2.根据权利要求1所述的显示亮点缺陷的修复电路，其特征在于所述像素电路包括第一驱动管MN1、第二驱动管MN2、第五开关管MN5、第一开关管MP1、第二开关管MP2、第三开关管MP3、第四开关管MP4和电容器CST，第五开关管MN5的漏极接数据信号VDATA，栅极接行扫描信号SEL，源极与电容器CST的上极板以及第一驱动管MN1、第二驱动管MN2的栅极相连；第一驱动管MN1的漏极与第一开关管MP1、第二开关管MP2的漏极相连；第二驱动管MN2的漏极与第三开关管MP3、第四开关管MP4的漏极相连；第一驱动管MN1、第二驱动管MN2的源极相连，并连接到OLED发光器件的阳极；第一开关管MP1、第二开关管MP2、第三开关管MP3、第四开关管MP4的源极连接到像素电源VDD，第一开关管MP1、第三开关管MP3的栅极相连，由行寻址电路控制；第二开关管MP2、第四开关管MP4的栅极由列寻址电路控制；电容器CST的上极板与第一驱动管MN1、第二驱动管MN2的
3.根据权利要求1所述的显示亮点缺陷的修复电路，其特征在于所述行寻址电路和列寻址电路的结构相同，包括：D触发器、计数器、数字比较器0、数字比较器1~M、与非门、RS触发器、移位寄存器、锁存器，D触发器的Q端与计数器的输入端连接，计数器的输出端分别与数字比较器的输入端连接，数字比较器0的输出端连接RS触发器的输入端，数字比较器1~M的输出端均与与非门的输入端连接，与非门的输出信号Y连接到移位寄存器的输入端，移位寄存器的输出信号Q<0>~Q<N-1>输入到锁存器。
4.根据权利要求3所述的显示亮点缺陷的修复电路，其特征在于所述D触发器利用时钟信号CLK对外部输入的使能信号EN采样后，产生使能信号EN1。
5.根据权利要求3所述的显示亮点缺陷的修复电路，其特征在于所述计数器的输入信号为使能信号EN1、时钟信号CLK、RS触发器的输出信号CTR，输出计数信号CNT连接到所有数字比较器；在使能EN1为0时，计数信号CNT为0；当使能EN1为1，且RS触发器的输出信号CTR为1时，计数器在时钟信号CLK的作用下开始计数；当使能EN1为1，且RS触发器的输出信号CTR为0时，计数器停止计数，计数信号CNT保持当前状态。
6.根据权利要求3所述的显示亮点缺陷的修复电路，其特征在于所述数字比较器0的输入信号为使能信号EN1、计数信号CNT、预设值N，输出信号连接到RS触发器；在使能EN1为0时，数字比较器0的输出为1；当使能EN1为1时，数字比较器0比较预设值N与计数信号，当计数信号不等于预设值N时，输出信号为1；当计数信号等于预设值N时，输出信号为0；如果数字比较器0用于行寻址电路，则预设值N为总行数；如果数字比较器0用于列寻址电路，则预设值N为总列数的2倍。
7.根据权利要求3所述的显示亮点缺陷的修复电路，其特征在于所述数字比较器1~M的输入信号为使能信号EN1、计数信号CNT、地址信号ADDR_1~ADDR_M，输出信号连接到与非门的输入端，其中1≤M≤N，N为预设值；在使能EN1为0时，数字比较器1~M的输出为1；当使能EN1为1时，数字比较器1~M比较地址信号与计数信号，当计数信号不等于地址信号时，输出信号为1；当计数信号等于地址信号时，输出信号为0；地址信号ADDR根据显示亮点缺陷的所在行/列的坐标计算得到。
8.根据权利要求3所述的显示亮点缺陷的修复电路，其特征在于所述移位寄存器的输入信号为使能信号EN1、与非门的输出信号Y、时钟信号的反信号CLK_和RS触发器的输出信号CTR，输出信号Q<0>~Q<N-1>输入到锁存器；当使能信号EN1为0时，移位寄存器的输出信号Q<0>~Q<N-1>都为0；当使能EN1为1，且RS触发器的输出信号CTR为1时，移位寄存器在在时钟信号的反信号CLK_的作用下将接收到的与非门的输出信号Y往后移位；当使能EN1为1，RS触发器的输出信号CTR为0时，移位寄存器停止移位，输出信号Q<0>~Q<N-1>保持当前状态，N为预设值。
9.根据权利要求3所述的显示亮点缺陷的修复电路，其特征在于所述RS触发器包括第一与非门NAND1和第二与非门NAND2，第一与非门NAND1的一个输入端接行使能信号EN1，另一个输入端接第二与非门NAND2的输出；第二与非门NAND2的一个输入端接数字比较器0的输出信号，另一个输入端...
【技术特征摘要】
1.一种显示亮点缺陷的修复电路，其特征在于：包括分别与行寻址电路、列寻址电路连接的像素电路，还包括与像素电路连接的列电源开关；
2.根据权利要求1所述的显示亮点缺陷的修复电路，其特征在于所述像素电路包括第一驱动管mn1、第二驱动管mn2、第五开关管mn5、第一开关管mp1、第二开关管mp2、第三开关管mp3、第四开关管mp4和电容器cst，第五开关管mn5的漏极接数据信号vdata，栅极接行扫描信号sel，源极与电容器cst的上极板以及第一驱动管mn1、第二驱动管mn2的栅极相连；第一驱动管mn1的漏极与第一开关管mp1、第二开关管mp2的漏极相连；第二驱动管mn2的漏极与第三开关管mp3、第四开关管mp4的漏极相连；第一驱动管mn1、第二驱动管mn2的源极相连，并连接到oled发光器件的阳极；第一开关管mp1、第二开关管mp2、第三开关管mp3、第四开关管mp4的源极连接到像素电源vdd，第一开关管mp1、第三开关管mp3的栅极相连，由行寻址电路控制；第二开关管mp2、第四开关管mp4的栅极由列寻址电路控制；电容器cst的上极板与第一驱动管mn1、第二驱动管mn2的栅极相连，电容器cst的下极板接地。
3.根据权利要求1所述的显示亮点缺陷的修复电路，其特征在于所述行寻址电路和列寻址电路的结构相同，包括：d触发器、计数器、数字比较器0、数字比较器1~m、与非门、rs触发器、移位寄存器、锁存器，d触发器的q端与计数器的输入端连接，计数器的输出端分别与数字比较器的输入端连接，数字比较器0的输出端连接rs触发器的输入端，数字比较器1~m的输出端均与与非门的输入端连接，与非门的输出信号y连接到移位寄存器的输入端，移位寄存器的输出信号q<0>~q<n-1>输入到锁存器。
4.根据权利要求3所述的显示亮点缺陷的修复电路，其特征在于所述d触发器利用时钟信号clk对外部输入的使能信号en采样后，产生使能信号en1。
5.根据权利要求3所述的显示亮点缺陷的修复电路，其特征在于所述计数器的输入信号为使能信号en1、时钟信号clk、rs触发器的输出信号ctr，输出计数信号cnt连接到所有数字比较器；在使能en1为0时，计数信号cnt为0；当使能en1为1，且rs触发器的输出信号ctr为1时，计数器在时钟信号clk的作用下开始计数；当使能en1为1，且rs触发器的输出信号ctr为0时，计数器停止计数，计数信号cnt保持当前状态。
6.根据权利要求3所述的显示亮点缺陷的修复电路，其特征在于所述数字比较器0的输入信号为使能信号en1、计数信号cnt、预设值n，输出信号连接到rs触发器；在使能en1为0时，数字比较器0的输出为1；当使能en1为1时，数字比较器0比较预设值n与计数信号，当计数信号不等于预设值n时...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈啟宏，秦昌兵，张白雪，张叶明，张春，杨建兵，
申请(专利权)人：南京国兆光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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