本发明专利技术公开了一种双基色像素排布结构及显示装置，多个阵列排布的母像素，每个母像素包含两个子像素：子像素I和子像素II。子像素I为X、Y方向均轴对称且中心对称的多边形，多边形的边数量≤8条，子像素II为X、Y方向均轴对称且中心对称的四边形，各个子像素的边与相邻子像素边重合。将所述子像素I与相邻子像素I重合的边设定“边A”、子像素I与相邻子像素II重合的边设定为“边B”，将子像素I的宽设定为C、子像素I的高设定为D。保持子像素I的宽C和高D不变，通过改变所述边A和边B的长度，可使得子像素I和子像素II的面积比例在1：0至1：1之间任意改变。该像素排布结构能在保持较高开口率情况下，灵活改变子像素面积比例。活改变子像素面积比例。活改变子像素面积比例。
【技术实现步骤摘要】
一种双基色像素排布结构及显示装置
[0001]本专利技术涉及显示
，特别涉及一种双基色像素排布结构及显示装置。
技术介绍
[0002]随着显示技术的不断发展，市场对于显示效果需求越来越高，对双基色显示器的需求逐渐升温。双基色显示器一方面由于多一种基色，其显示效果远好于单色显示器；另一方面，由于开口率及颜色选择，其亮度远高于三基色显示器。
[0003]双基色显示器的应用领域较多，比如：夜视仪显示器、工控仪表显示等；由于其应用范围较广，不同领域对于显示器颜色配比的需求也不尽相同。
[0004]另外，双基色显示器亮度相比单色显示器较低，为保证双基色显示器亮度，其对于开口率的要求较高。
[0005]因此，双基色显示器开口率及颜色配比的可调节性成为需要重点关注的地方。
技术实现思路
[0006]本申请提供了一种双基色像素排布结构及显示装置，旨在保证双基色显示器具有较高开口率情况下，可同时灵活调整双基色开口面积配比。
[0007]本申请实施例提供了一种双基色像素排列结构，每个母像素包含两个子像素：子像素I和子像素II。
[0008]所述子像素I为X、Y方向均轴对称且中心对称的多边形，多边形的边数量≤8条。
[0009]所述子像素II为X、Y方向均轴对称且中心对称的四边形。
[0010]所述子像素I和子像素II依次排列，各个子像素的边与相邻子像素边重合需要说明的是，上述子像素的边为子像素占有区域的边，不是子像素发光区域的边。
[0011]所述子像素II的边只与相邻子像素I的边重合，子像素I的边一部分与相邻子像素II重合、一部分与相邻子像素I重合。将所述子像素I与相邻子像素I重合的边设定“边A”；子像素I与相邻子像素II重合的边设定为“边B”，将子像素I的宽设定为C、子像素I的高设定为D。
[0012]保持子像素I的宽C和高D不变，通过改变所述边A和边B的长度，即可改变子像素I和子像素II的面积比例，面积比例可在1：0至1：1之间任意改变。
[0013]相应地，本专利技术实施例还提供了一种显示装置，包括本专利技术实施例提供的上述的像素排布结构。
[0014]本专利技术实施例提供的一种像素排布结构及显示装置，由于子像素的形状均为多边形，且任意紧邻设置的两个子像素的相邻边重合，实现子像素紧密排列，实现了较高的开口率；另外，由于子像素I和子像素II的形状特点，改变所述边A和边B的长度即可在保证子像素紧密排列的情况下，灵活改变子像素面积比例，实现灵活调节显示器颜色配比。
附图说明
[0015]图1为像素区域对比发光区域，及开口率计算示意图。
[0016]图2为实施例1像素排列示意图。
[0017]图3为实施例1，通过改变边长从而改变子像素面积比例示意图。
[0018]图4为常规条形像素布局、六边形像素布局示意图。
[0019]图5为实施例2像素排列及子像素面积比例变化示意图。
具体实施方式
[0020]下文结合附图和实施例对本专利技术的一种双基色像素排布结构及显示装置作更进一步的解释和说明。
[0021]本专利技术实施例1提供了一种像素排布结构，如图2所示。每个母像素由两个子像素组成，子像素I为X、Y方向均轴对称且中心对称的八边形，子像素II为正方形，各个子像素的边相互重合，实现子像素无空隙紧密排列。
[0022]参考图2，将所述子像素I与相邻子像素I重合的边设定为“边A”；子像素I与相邻子像素II重合的边设定为“边B”，子像素I的宽设定为C，子像素I的高设定为D。
[0023]参考图3，在保证子像素I为X、Y方向均轴对称且中心对称的八边形特性情况下，保持子像素I的宽C和高D不变，改变边A和边B的长度可实现子像素I和子像素II面积比例在1：0
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1：1之间变化，且像素排列仍然保持无空隙紧密排列。其中图3a）为子像素I和子像素II的面积比为1：0的状态图；图3b）为子像素I和子像素II的面积比为1：0
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1：1之间变化的状态图；图3c）为子像素I和子像素II的面积比为1：1的状态图。
[0024]参考图1，开口率=发光区域面积/像素面积，即非发光区域越多开口率越小。通常情况下非发光区域都沿子像素边缘分布，子像素边与发光区域边间距由工艺设计决定，在相同工艺下为定值。所以相同面积下子像素周长越长开口率越小。
[0025]通过公理可证明：面积相等情况下，多边形中正多边形周长最短，且正多边形中边越多周长越短。所以相比于传统的条形排布，本专利技术中X、Y方向均轴对称且中心对称的多边形特性即可使本专利技术像素排布结构保持较高开口率，详见表1中具体不同排列方式开口率对比数值。
[0026]参考图4，为常见两种像素排布结构。为使得各个子像素具有不同面积比例且比例可变，通常使用条形排布（如图4a）），通过改变子像素宽度即可改变子像素I和子像素II面积比例，但由于其长、宽差异较大，该排布开口率相对较低。若追求开口率通常使用正六边形排布结构（如图4b）），子像素I和子像素II为面积相等的正六边形，该排布下开口率较高；但由于正六边性特性，若改变子像素I和子像素II为面积比例，则子像素之间各相邻边无法重合，产生空隙区域，降低开口率。
[0027]参考表1，为可视化对比不同像素排布结构在不同子像素面积比例下开口率情况，本专利技术设置了具体参数计算开口率进行对比。设置母像素面积为100um2，设置子像素发光区域边与子像素边的间距为1um。可发现：
①
相对于条形排布，两者都可变化子像素面积比例，但实施例1排布开口率较高；
②
相比于正六边形排布，实施例1排布虽然在1：1子像素面积比例下开口率相对较低，但正六边形排布子像素面积比例不可变，且实施例1排布随子像素面积比例提高，开口率也会随之提高。
[0028]表1 不同子像素面积比例下开口率与常规布局开口率对比表
[0029]本专利技术实施例1的像素排布结构，相比于传统两种排布结构，兼具了高开口率和子像素面积比例可灵活变化的特点。
[0030]参考图5为本专利技术实施例2像素排列及子像素面积比例变化示意图，其与实施例1区别在于实施例2中子像素I为X、Y方向均轴对称且中心对称的六边形，子像素II为菱形。
[0031]参考图5，通过保持子像素I的宽C和高D不变，改变边A和边B的长度，实施例2也可实现保证子像素紧密排列的情况下，使得子像素面积比例在1:0
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1:1之间变化。其中图5a）为子像素I和子像素II的面积比为1：0的状态图；图5b）为子像素I和子像素II的面积比为1：0
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1：1之间变化的状态图；图5c）为子像素I和子像素II的面积比为1：1的状态图。
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【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种像素排布结构，其特征在于，多个紧邻排布的子像素，各个子像素均为多边形，各个子像素的边与相邻子像素边重合。2.根据权利要求1所述的像素排布结构，其特征在于，多个阵列排布的母像素，每个母像素包含两个子像素：子像素I和子像素II。3.根据权利要求2所述的像素排布结构，其特征在于，子像素I为X、Y方向均轴对称且中心对称的多边形，且多边形边的数量≤8条。4.根据权利要求2所述的像素排布结构，其特征在于，子像素II为X、Y方向均轴对称且中心对称的四边形。5.根据权利...
【专利技术属性】
技术研发人员：陶最，张阳，王新军，杨建兵，秦昌兵，
申请(专利权)人：南京国兆光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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