System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 一种基于器件结构的高精度GaN Fin HEMT建模方法技术_技高网

一种基于器件结构的高精度GaN Fin HEMT建模方法技术

技术编号:40520144 阅读:10 留言:0更新日期:2024-03-01 13:38
本发明专利技术公开了一种基于器件结构的高精度GaN Fin HEMT建模方法,包括:根据GaN Fin HEMT器件的结构,得到GaN Fin HEMT器件的等效电路;等效电路中包含:栅极的寄生电阻R<subgt;g</subgt;与寄生电感L<subgt;g</subgt;、漏极的寄生电阻R<subgt;d</subgt;与寄生电感L<subgt;d</subgt;、源极的寄生电阻R<subgt;s</subgt;与寄生电感L<subgt;s</subgt;、栅源电容C<subgt;gs</subgt;、栅漏电容C<subgt;gd</subgt;、栅源电阻R<subgt;gs</subgt;、栅漏电阻R<subgt;gd</subgt;、沟道电阻R<subgt;ds</subgt;、漏源电容C<subgt;ds</subgt;、本征跨导gm和本征栅电容C<subgt;g</subgt;;分别确定R<subgt;g</subgt;、L<subgt;g</subgt;、R<subgt;d</subgt;、L<subgt;d</subgt;、R<subgt;s</subgt;与L<subgt;s</subgt;的值;分别确定C<subgt;gs</subgt;、C<subgt;gd</subgt;、R<subgt;gs</subgt;、R<subgt;gd</subgt;、R<subgt;ds</subgt;、C<subgt;ds</subgt;、gm和C<subgt;g</subgt;的值,得到GaN Fin HEMT器件的电路模型。本发明专利技术能够提升电路模型对GaN Fin HEMT器件的本征参数非线性特性的表征精度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于半导体,具体涉及一种基于器件结构的高精度gan fin hemt建模方法。


技术介绍

1、电子信息产业对于我国的经济发展来说至关重要,微电子技术则是该产业的重中之重。氮化镓(gan)作为第三代宽禁带半导体材料的代表,具有禁带宽度较宽、高电子饱和速度、高击穿电压等特性,在航天、雷达、通讯中得到了广泛应用。由于各个领域的应用,推动了gan hemt工程化应用的进程。

2、对于gan hemt来说,利用fin结构的多维度栅控的优势并结合栅介质,能够改善亚阈值斜率,降低关态泄露电流密度,并提高击穿电压,具有功率电子方面的应用潜力。同时,fin结构器件在高线性方面也具有较好的应用潜力。新型结构的器件在应用时,器件模型是至关重要的。器件模型的拓扑结构需要根据器件结构进行调整,需要能够准确表征器件特性。因此,需要针对gan fin hemt进行小信号模型建立,能够理想表征器件特性,实现器件在电路设计中的应用。


技术实现思路

1、为了解决现有技术中所存在的上述问题,本专利技术提供了一种基于器件结构的高精度gan fin hemt建模方法。

2、本专利技术要解决的技术问题通过以下技术方案实现:

3、一种基于器件结构的高精度gan fin hemt建模方法,所述方法包括:

4、根据gan fin hemt器件的结构,得到所述gan fin hemt器件的等效电路;所述等效电路中包含:栅极的寄生电阻rg与寄生电感lg、漏极的寄生电阻rd与寄生电感ld、源极的寄生电阻rs与寄生电感ls、栅源电容cgs、栅漏电容cgd、栅源电阻rgs、栅漏电阻rgd、沟道电阻rds、漏源电容cds、本征跨导gm和本征栅电容cg;

5、分别确定rg、lg、rd、ld、rs与ls的值;

6、分别确定cgs、cgd、rgs、rgd、rds、cds、gm和cg的值,得到所述gan fin hemt器件的电路模型。

7、在一些实施例中,cgs包括:cgs1和cgs2;cgd包括:cgd1和cgd2;在所述等效电路中,lg、rg和cg依次串联,且lg未跟rg连接的一端作为所述等效电路的第一端;ld、rd和rds依次串联,且ld未跟rd连接的一端作为所述等效电路的第二端;ls、rs和gm依次串联,且ls未跟rs连接的一端作为所述等效电路的第三端;cgd1的一端和cgd2的一端均与cg未跟rg连接的一端相连接,cgd1的另一端与rgd的一端相连接,cgd2的另一端与rgd的另一端相连接,rgd的另一端还同时与gm未跟rs连接的一端、cds的一端以及rds跟rd连接的一端相连接,cds的另一端与rds未跟rd连接的一端相连接,cgd2跟cg连接的一端还同时与rgs的一端和cgs2的一端相连接,rgs的另一端与cgs1的一端相连接,cgs1的另一端和cgs2的另一端还均与rs未跟ls连接的一端相连接。

8、在一些实施例中,cgs包括:cgs1和cgs2;cgd包括:cgd1和cgd2;所述分别确定cgs、cgd、rgs、rgd、rds、cds、gm和cg的值,包括:

9、在任意偏置状态下测试所述gan fin hemt器件,得到第一s参数;

10、通过矩阵变换,将所述第一s参数转换为第一z参数;

11、通过对所述第一z参数进行矩阵计算以将rg、lg、rd、ld、rs和ls的影响去嵌,得到去嵌后的第一z参数;

12、将所述去嵌后的第一z参数转换为第一y参数;

13、采用平板电容的计算方法计算cg的值;

14、根据cg的值对第一y参数进行矩阵计算以将cg的影响去嵌,得到去嵌后的第一y参数;

15、根据所述去嵌后的第一y参数,分别确定cgs1、cgs2、cgd1、cgd2、rgs、rgd、rds、cds和gm的值。

16、在一些实施例中,所述采用平板电容的计算方法计算cg的值,包括:

17、根据所述gan fin hemt器件的栅宽和单位fin的长度,计算单位本征栅电容的数量;

18、采用平板电容的计算方法,根据所述gan fin hemt器件的fin与fin之间的间距、所述gan fin hemt器件的栅长、fin的高度,以及fin与fin之间所填充的钝化介质的介电常数,计算单位本征栅电容的值;

19、将单位本征栅电容的数量与单位本征栅电容的值之间的乘积,作为cg的值。

20、在一些实施例中,所述去嵌后的第一y参数的表达式为:所述根据所述去嵌后的第一y参数,分别确定cgs1、cgs2、cgd1、cgd2、rgs、rgd、rds、cds和gm的值,包括:

21、根据y′int11和y′int12之和的实部与角频率ω,分别确定rgs和cgs1的值;

22、根据rgs和cgs1的值、角频率ω,以及y′int11和y′int12之和的虚部,确定cgs2的值;

23、根据-y′int12与角频率ω、rgd、cgd1和cgd2之间的关系,分别确定rgd、cgd1和cgd2的值;

24、根据y′int21与y′int12之差,以及rgs和cgs1的值,确定gm的值;

25、根据y′int22和y′int12之和的实部和虚部,分别确定rds和cds的值。

26、在一些实施例中,y′int11、y′int12、y′int21和y′int22的表达式分别如下:

27、

28、

29、

30、

31、其中,j表示虚数单位。

32、在一些实施例中,gm的值的计算公式如下:

33、

34、rds和cds的值的计算公式如下:

35、

36、在一些实施例中,所述分别确定rg、lg、rd、ld、rs与ls的值,包括:

37、在所述gan fin hemt器件处于cold-fet状态下,获取所述gan fin hemt器件的第二s参数;

38、将所述第二s参数转换为第二z参数;

39、分离所述第二z参数的实部和虚部,得到所述第二z参数的实部与角频率ω、rg、rd和rs之间的关系,以及所述第二z参数的虚部与角频率ω、lg、ld和ls之间的关系;

40、根据所述第二z参数的实部与角频率ω、rg、rd和rs之间的关系,分别确定rg、rd和rs的值;

41、根据所述第二z参数的虚部与角频率ω、lg、ld和ls之间的关系,分别确定lg、ld和ls的值。

42、在一些实施例中,所述第二z参数的表达式为:所述第二z参数的实部与角频率ω、rg、rd和rs之间的关系的表达式如下:

43、ω2re[z211]=ω2(rg+rs);

44、ω2re[z212]=ω2rs;

45、ω2re[z222本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种基于器件结构的高精度GaN Fin HEMT建模方法,其特征在于,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的基于器件结构的高精度GaN Fin HEMT建模方法,其特征在于,Cgs包括:Cgs1和Cgs2;Cgd包括:Cgd1和Cgd2;在所述等效电路中,Lg、Rg和Cg依次串联,且Lg未跟Rg连接的一端作为所述等效电路的第一端;Ld、Rd和Rds依次串联,且Ld未跟Rd连接的一端作为所述等效电路的第二端;Ls、Rs和gm依次串联,且Ls未跟Rs连接的一端作为所述等效电路的第三端;Cgd1的一端和Cgd2的一端均与Cg未跟Rg连接的一端相连接,Cgd1的另一端与Rgd的一端相连接,Cgd2的另一端与Rgd的另一端相连接,Rgd的另一端还同时与gm未跟Rs连接的一端、Cds的一端以及Rds跟Rd连接的一端相连接,Cds的另一端与Rds未跟Rd连接的一端相连接,Cgd2跟Cg连接的一端还同时与Rgs的一端和Cgs2的一端相连接,Rgs的另一端与Cgs1的一端相连接,Cgs1的另一端和Cgs2的另一端还均与Rs未跟Ls连接的一端相连接。

3.根据权利要求1所述的基于器件结构的高精度GaN Fin HEMT建模方法,其特征在于,Cgs包括:Cgs1和Cgs2;Cgd包括:Cgd1和Cgd2;所述分别确定Cgs、Cgd、Rgs、Rgd、Rds、Cds、gm和Cg的值,包括:

4.根据权利要求3所述的基于器件结构的高精度GaN Fin HEMT建模方法,其特征在于,所述采用平板电容的计算方法计算Cg的值,包括:

5.根据权利要求3所述的基于器件结构的高精度GaN Fin HEMT建模方法,其特征在于,所述去嵌后的第一Y参数的表达式为:所述根据所述去嵌后的第一Y参数,分别确定Cgs1、Cgs2、Cgd1、Cgd2、Rgs、Rgd、Rds、Cds和gm的值,包括:

6.根据权利要求5所述的基于器件结构的高精度GaN Fin HEMT建模方法,其特征在于,Y′int11、Y′int12、Y′int21和Y′int22的表达式分别如下:

7.根据权利要求5所述的基于器件结构的高精度GaN Fin HEMT建模方法,其特征在于,gm的值的计算公式如下:

8.根据权利要求1所述的基于器件结构的高精度GaN Fin HEMT建模方法,其特征在于,所述分别确定Rg、Lg、Rd、Ld、Rs与Ls的值,包括:

9.根据权利要求1所述的基于器件结构的高精度GaN Fin HEMT建模方法,其特征在于,所述第二Z参数的表达式为:所述第二Z参数的实部与角频率ω、Rg、Rd和Rs之间的关系的表达式如下:

10.根据权利要求9所述的基于器件结构的高精度GaN Fin HEMT建模方法,其特征在于,所述第二Z参数的虚部与角频率ω、Lg、Ld和Ls之间的关系的表达式如下:

...

【技术特征摘要】

1.一种基于器件结构的高精度gan fin hemt建模方法,其特征在于,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的基于器件结构的高精度gan fin hemt建模方法,其特征在于,cgs包括:cgs1和cgs2;cgd包括:cgd1和cgd2;在所述等效电路中,lg、rg和cg依次串联,且lg未跟rg连接的一端作为所述等效电路的第一端;ld、rd和rds依次串联,且ld未跟rd连接的一端作为所述等效电路的第二端;ls、rs和gm依次串联,且ls未跟rs连接的一端作为所述等效电路的第三端;cgd1的一端和cgd2的一端均与cg未跟rg连接的一端相连接,cgd1的另一端与rgd的一端相连接,cgd2的另一端与rgd的另一端相连接,rgd的另一端还同时与gm未跟rs连接的一端、cds的一端以及rds跟rd连接的一端相连接,cds的另一端与rds未跟rd连接的一端相连接,cgd2跟cg连接的一端还同时与rgs的一端和cgs2的一端相连接,rgs的另一端与cgs1的一端相连接,cgs1的另一端和cgs2的另一端还均与rs未跟ls连接的一端相连接。

3.根据权利要求1所述的基于器件结构的高精度gan fin hemt建模方法,其特征在于,cgs包括:cgs1和cgs2;cgd包括:cgd1和cgd2;所述分别确定cgs、cgd、rgs、rgd、rds、cds、gm和cg的值,包括:

4.根据权利要求...

【专利技术属性】
技术研发人员:赵子越韩红波卢阳徐鑫刘成伟
申请(专利权)人:陕西华芯睿熠电子有限公司
类型:发明
国别省市:

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