一种射频导纳物位计制造技术

本发明专利技术涉及物位计技术领域，公开了一种射频导纳物位计，以监测容器内的介质高度，包括本体；电路板，设于本体内；第一探头，为导电件，设于电路板朝向介质的一侧，与电路板形成信号连接；第二探头，为非导电件，其一端与本体可拆卸连接，另一端伸入容器内，且第二探头与第一探头之间具有由空气填充的间隙，当第二探头与容器内的介质接触时，第一探头、第二探头和空气、介质之间形成电容结构，其中，介质在容器内的高度发生变化时，该电容结构的阻抗同步发生变化，且第一探头向电路板发送信号，以实现对介质高度的实时监测。本发明专利技术提供的一种射频导纳物位计，体积小、不占用空间，且灵敏度高，可靠性高，与应用场景适配度高。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于物位计，具体涉及一种射频导纳物位计。

技术介绍

1、物位计探测技术已成熟的应用于各行各业领域中，其主要用于感测储存槽中物料或液料的高度。目前，用来感测的物位计分为，电容式、超声波式、压力式、光电式、浮子式以及电极式等物位计，其中，电容式物位计凭借其远离简单、成本低，被广泛用于食品和工业领域，但其极易受到干扰物的影响而误报，且不能在条件苛责的环境下使用；是以，可规避干扰物影响的射频导纳式物位计应运而生。

2、然而，现有射频导纳物位计通常为“探测杆”结构，主要包括圆柱型探测杆结构、控制盒等主部件和若干副部件，使得整体结构的体积过大，安装维护不方便，并且，该“探测杆”结构在工作时需要将探测杆伸入被测液体中，而“探测杆”属于细长结构件，易受损变形，且污物易附着、积累于“探测杆”的表面上从而影响正常测量功能；此外，现有的射频导纳物位计与应用场景适配度低，当应用场景变化探测信号超出预设范围值会导致产品失效。

技术实现思路

1、本专利技术的目的是针对现有技术存在上述问题，提供一种结构简单，体积小、本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种射频导纳物位计，用以监测容器内的介质高度，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的一种射频导纳物位计，其特征在于，当第一探头(300)、第二探头(400)和空气、介质三者之间形成电容结构时，第一探头(300)和介质分别作为电容结构的两个极板，第二探头(400)和空气作为电容结构的电介质，使得容器内的介质发生高度变化时，该电容结构的阻抗同步发生变化并产生信号。

3.根据权利要求1所述的一种射频导纳物位计，其特征在于，所述第一探头(300)为金属探头，其背离第二探头(400)一侧与电路板(200)固接，并与电路板(200)形成通讯连接，当电容结构的阻抗发生...

【技术特征摘要】

1.一种射频导纳物位计，用以监测容器内的介质高度，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的一种射频导纳物位计，其特征在于，当第一探头(300)、第二探头(400)和空气、介质三者之间形成电容结构时，第一探头(300)和介质分别作为电容结构的两个极板，第二探头(400)和空气作为电容结构的电介质，使得容器内的介质发生高度变化时，该电容结构的阻抗同步发生变化并产生信号。

3.根据权利要求1所述的一种射频导纳物位计，其特征在于，所述第一探头(300)为金属探头，其背离第二探头(400)一侧与电路板(200)固接，并与电路板(200)形成通讯连接，当电容结构的阻抗发生变化时，该第一探头(300)同步向电路板(200)发送信号。

4.根据权利要求3所述的一种射频导纳物位计，其特征在于，所述第二探头(400)为塑料探头，其背离介质的一端与本体(100)螺纹连接，另一端朝远离第一探头(300)方向延伸，并伸入容器内。

5.根据权利要求4所述的一种射频导纳物位计，其特征在于，所述第二探头(400)为中空结构，并对第一探头(300)呈包裹状，其中，第二探头(400)伸入容器内的端部具有与第一探头(300)相适配的半球型结构。

6.根据权利要求4所述的一种射频导纳物位计，其特征在于，所述第二探头(400)上设有第一密封件(500)，该第一密封件(500)介于连接后的本体(100)与第二探头(400)之间，以填充本体(100)与第二探头(400)之间的连接间隙。

7.根据权利要求1所述的一种射频导纳...

【专利技术属性】
技术研发人员：吕阳，郑华雄，李哲，刘丹，张燕亮，杨丹，周冲，单安兵，
申请(专利权)人：宁波中车时代传感技术有限公司，
类型：发明
国别省市：