【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及有机合成领域,具体涉及一种高效制备high-k有机金属前驱体的方法。
技术介绍
1、随着半导体制程工艺尺寸的减小,晶体管栅极介质厚度也不断降低,电子直接隧穿引起的栅极漏电流随之增大,因此为了解决工艺尺寸减薄导致的漏电流发生的几率增大的问题,high-k材料已经成为45nm以下级别制程的必备材料。用于沉积high-k薄膜的金属前驱体中,m(n(r1r2))4是一类表现优异的前驱体,其中m代表中心金属原子,与周围的四个氮原子结合,r1和r2代表与氮原子连接的原子或者基团。使用该类前驱体材料镀膜,薄膜有较好的平整度和均匀性。四(二甲氨基)锆(cas:19756-04-8)、四(二甲氨基)铪(cas:19782-68-4)、四(甲乙氨基)锆(cas:175923-04-3)、四(甲乙氨基)铪(cas:352535-01-4)、四(二甲氨基)钛(cas:3275-24-9)和四(二甲氨基)锡(cas:1066-77-9)等材料是这一类中的代表。由于这些前驱体的结构相似,均是中心四价金属原子和四个氨基基团结合的分子结构,因此这些材料的
...【技术保护点】
1.一种高效制备high-k有机金属前驱体的方法,其特征在于,包括:化合物1及化合物2,
2.根据权利要求1所述的高效制备high-k有机金属前驱体的方法,其特征在于,
3.根据权利要求1所述的高效制备high-k有机金属前驱体的方法,其特征在于:
4.根据权利要求1所述的高效制备high-k有机金属前驱体的方法,其特征在于,
5.根据权利要求4所述的高效制备high-k有机金属前驱体的方法,其特征在于,
6.根据权利要求5所述的高效制备high-k有机金属前驱体的方法,其特征在于,
7.根据权利
...【技术特征摘要】
1.一种高效制备high-k有机金属前驱体的方法,其特征在于,包括:化合物1及化合物2,
2.根据权利要求1所述的高效制备high-k有机金属前驱体的方法,其特征在于,
3.根据权利要求1所述的高效制备high-k有机金属前驱体的方法,其特征在于:
4.根据权利要求1所述的高效制备h...
【专利技术属性】
技术研发人员:曹旭锋,乜生良,汪海燕,朱思坤,李建恒,
申请(专利权)人:铜陵安德科铭电子材料科技有限公司,
类型:发明
国别省市:
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