【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及集成电路测试，尤其涉及一种集成电路测试用偏压测试装置。
技术介绍
1、集成电路是一种微型电子器件或部件，采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、二极管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构，偏压测试便是对整体回路中的某个点进行测试，测试它相对某个基准点的电压，一般通过将测试器电性连接的探针放置在测试基准点处，以此来对该处的基准点进行测试。
2、在集成电路板测试过程中，传统的测试装置一般是测试一个之后取下再换下另一个，这种测试的方式导致中间等待的时间较长，无疑就降低了测试的效率，难以进行批量化生产。
技术实现思路
1、本专利技术的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种集成电路测试用偏压测试装置。
2、为了实现上述目的，本专利技术采用了如下技术方案：一种集成电路测试用偏压测试装置，包括工作台，所述工作台的上表面固定连接有两组支撑立板，每组所述支撑立板之间转动连接有旋转安装辊，两个所述旋转安装辊之间传动连接有传输带，所述传输带的表面开设有多个放置槽，所述放置槽的内部开设有贯穿口，其中一个所述支撑立板的侧壁上安装有驱动旋转安装辊旋转的动力组件，所述工作台的上表面固定连接有第一龙门架与第二龙门架，所述第一龙门架上安装有测试组件，所述第二龙门架上安装有顶起组件与剔除组件。
3、作为上述技术方案的进一步描述：
4、所述动力组件
5、作为上述技术方案的进一步描述：
6、所述测试组件包括固定连接在第一龙门架顶部的第一推动气缸，所述第一推动气缸的活塞端固定连接有第一连接轴，所述第一连接轴的末端固定连接有测试器，所述测试器上电性连接有探针。
7、作为上述技术方案的进一步描述：
8、所述顶起组件包括固定连接在第二龙门架顶部的第二推动气缸，所述第二推动气缸的活塞端固定连接有第二连接轴，所述第二连接轴的末端固定连接有顶起板，所述顶起板位于贯穿口的下方。
9、作为上述技术方案的进一步描述：
10、所述剔除组件包括固定连接在第二龙门架侧壁上的第三推动气缸，所述第三推动气缸的活塞端固定连接有第三连接轴，所述第三连接轴的末端固定连接有推动安装板。
11、作为上述技术方案的进一步描述：
12、所述第二龙门架的一侧固定连接有第一滑板，所述工作台的末端固定连接有第二滑板。
13、本专利技术具有如下有益效果：
14、与现有技术相比，该集成电路测试用偏压测试装置，启动第二推动气缸，第二推动气缸的活塞端带着顶起板上升，从而将不合格的集成电路板顶起，然后再启动第三推动气缸，第三推动气缸的活塞端带着推动安装板进行移动，推动安装板将不合格的集成电路板推动到第一滑板上滑落，合格的集成电路板通过第二滑板滑落，提升了集成电路板的加工效率，可以进行批量化生产。
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1.一种集成电路测试用偏压测试装置，包括工作台(1)，其特征在于：所述工作台(1)的上表面固定连接有两组支撑立板(2)，每组所述支撑立板(2)之间转动连接有旋转安装辊(3)，两个所述旋转安装辊(3)之间传动连接有传输带(4)，所述传输带(4)的表面开设有多个放置槽(5)，所述放置槽(5)的内部开设有贯穿口(6)，其中一个所述支撑立板(2)的侧壁上安装有驱动旋转安装辊(3)旋转的动力组件，所述工作台(1)的上表面固定连接有第一龙门架(7)与第二龙门架(11)，所述第一龙门架(7)上安装有测试组件，所述第二龙门架(11)上安装有顶起组件与剔除组件。
2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试用偏压测试装置，其特征在于：所述动力组件包括与支撑立板(2)侧壁固定连接的伺服电机(19)，所述伺服电机(19)的输出轴固定连接有第一皮带轮，所述旋转安装辊(3)的端部固定连接有第二皮带轮，所述第一皮带轮与第二皮带轮通过皮带传动连接。
3.根据权利要求1所述的一种集成电路测试用偏压测试装置，其特征在于：所述测试组件包括固定连接在第一龙门架(7)顶部的第一推动气缸(8)，所述第
4.根据权利要求1所述的一种集成电路测试用偏压测试装置，其特征在于：所述顶起组件包括固定连接在第二龙门架(11)顶部的第二推动气缸(12)，所述第二推动气缸(12)的活塞端固定连接有第二连接轴，所述第二连接轴的末端固定连接有顶起板(13)，所述顶起板(13)位于贯穿口(6)的下方。
5.根据权利要求1所述的一种集成电路测试用偏压测试装置，其特征在于：所述剔除组件包括固定连接在第二龙门架(11)侧壁上的第三推动气缸(15)，所述第三推动气缸(15)的活塞端固定连接有第三连接轴，所述第三连接轴的末端固定连接有推动安装板(16)。
6.根据权利要求1所述的一种集成电路测试用偏压测试装置，其特征在于：所述第二龙门架(11)的一侧固定连接有第一滑板(17)，所述工作台(1)的末端固定连接有第二滑板(18)。
...【技术特征摘要】
1.一种集成电路测试用偏压测试装置，包括工作台(1)，其特征在于：所述工作台(1)的上表面固定连接有两组支撑立板(2)，每组所述支撑立板(2)之间转动连接有旋转安装辊(3)，两个所述旋转安装辊(3)之间传动连接有传输带(4)，所述传输带(4)的表面开设有多个放置槽(5)，所述放置槽(5)的内部开设有贯穿口(6)，其中一个所述支撑立板(2)的侧壁上安装有驱动旋转安装辊(3)旋转的动力组件，所述工作台(1)的上表面固定连接有第一龙门架(7)与第二龙门架(11)，所述第一龙门架(7)上安装有测试组件，所述第二龙门架(11)上安装有顶起组件与剔除组件。
2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试用偏压测试装置，其特征在于：所述动力组件包括与支撑立板(2)侧壁固定连接的伺服电机(19)，所述伺服电机(19)的输出轴固定连接有第一皮带轮，所述旋转安装辊(3)的端部固定连接有第二皮带轮，所述第一皮带轮与第二皮带轮通过皮带传动连接。
3.根据权利要求1所述的一种集成电路测试用偏压测试装置，其特征在于：所述测试组件包括...
【专利技术属性】
技术研发人员：王会，徐冉，钱太娇，
申请(专利权)人：江苏润鹏半导体有限公司，
类型：发明
国别省市：
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