【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及放射性核素分析，尤其涉及一种自动化消除icp-ms测定68ge记忆效应的方法及应用。
技术介绍
1、在医用放射性同位素68ge的生产过程中，通常采用屏蔽型电感耦合等离子体发射质谱仪(icp-ms)对放射性样品中的68ge进行定量测定。但在利用icp-ms对68gecl4样品测量时，存在记忆效应干扰测量结果和残留放射性物质污染的严重问题。四氯化锗有极强的挥发性，锗68有放射性，二者重合其记忆效应加强，记忆效应是指68gecl4样品进入测试仪器后在进样系统中，由于四氯化锗极易挥发且具有很强的腐蚀性，出现四氯化锗残留情况。这不仅会影响下一个样品的数据采集结果，也会对icp-ms仪器的精确度、灵敏度和使用寿命造成损伤。此外，医用放射性同位素的半衰期都比较短，意味着它们会在短暂的时间内失去大部分活性，这对医用放射性核素生产过程的时间把控和检测人员的辐射防护提出了严格的要求。目前，针对医用同位素半衰期的问题，只能从生产、包装、运输等方面减少时间损耗，自动化控制各个阶段，以最快的速度完成核素的生产、标记、临床。
2、目前，现有技术通常是对一些常见元素进行记忆效应的消除，比如硼和汞。随着镓-68在核医学中的应用导致其在全球范围内快速增长，从锗-68/镓-68发生器直接获得镓-68备受关注。目前，国内没有能进行锗68核素生产的企业，因此对放射性核素的记忆效应消除方法的研究过少。
3、目前的记忆效应消除手段无法实现放射性核素的快速消除，一是使用i cp-ms测量放射性核素时，要求进样时间过长，比常见元素残留的记
技术实现思路
1、本专利技术目的在于提供一种自动化消除icp-ms测定68ge记忆效应的方法及应用，做到快速、准确、稳定的分析，同时也能降低分析操作人员的辐射伤害。为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：
2、一种自动化消除icp-ms测定68ge记忆效应的方法，所述方法包括，
3、68ge样品测试结束后，启动智能配液仪，在1min内完成清洗液1的配制，吸取超纯水作为清洗液2，并传送至i cp-ms样品台，其中，所述清洗液1为稀硝酸；
4、i cp-ms交替取用清洗液1和清洗液2进行一次或多次冲洗至68ge信号响应回到空白水平，
5、其中，所述清洗液1冲洗时间为3-5min，清洗液2冲洗时间为2-3min。
6、优选的，所述清洗液1，冲洗泵速为40-60r/min。
7、优选的，所述清洗液1的原料包括优级纯硝酸。
8、优选的，所述稀硝酸浓度范围为2％-4％。
9、优选的，所述清洗液2，冲洗泵速为30-40r/min。
10、优选的，68ge样品中的68ge4+浓度不超过0.05mg/l，放射性浓度小于10mci/ml。
11、优选的，所述i cp-ms为屏蔽型电感耦合等离子体发射质谱仪。
12、优选的，68ge样品溶液浓度小于或等于0.05mg/l时，交替取用清洗液1和清洗液2进行冲洗的次数为一次；
13、68ge样品溶液浓度大于0.05mg/l时，交替取用清洗液1和清洗液2进行冲洗的次数为两次。
14、优选的，68ge样品包括68gecl4。
15、本专利技术还提供了如上所述的一种自动化消除icp-ms测定68ge记忆效应的方法在放射性核素分析中的应用。
16、本专利技术的技术效果和优点：
17、屏蔽型电感耦合等离子体质谱仪属于高精度仪器，四氯化锗带来的记忆效应会严重影响仪器的正常使用，尤其是放射性离子在进样系统内部的残留，这会导致仪器内的精密组件和半导体元件的受损，从而降低仪器设备的稳定性、损害仪器设备的使用寿命、影响后续元素测量结果的准确度和精密度。通过上述清洗程序，使得68ge元素的信号响应能回到空白水平，很好的消除了四氯化锗记忆效应的影响。
18、不同的金属在长期遭受辐照后，其金属材料性能会发生变化，而屏蔽型电感耦合等离子体质谱仪内含有许多精密原件，其受到辐照损伤后的性能变化对仪器检测性能存在较大影响，且无法修复。
19、本专利技术的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本专利技术而了解。本专利技术的目的和其他优点可通过在说明书以及附图中所指出的结构来实现和获得。
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2.根据权利要求1所述的一种自动化消除ICP-MS测定68Ge记忆效应的方法，其特征在于，
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...【技术特征摘要】
1.一种自动化消除icp-ms测定68ge记忆效应的方法，其特征在于，所述方法包括，
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5.根据权利要求1所述的一种自动化消除icp-ms测定68ge记忆效应的方法，其特征在于，
6.根据权利...
【专利技术属性】
技术研发人员：雷雨婷，夏海鸿，付婧，欧阳应根，张志鹏，李明明，
申请(专利权)人：国电投核素同创重庆科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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