一种改善器件可靠性的方法技术

技术编号:40475752 阅读:42 留言:0更新日期:2024-02-26 19:12
本发明专利技术公开一种改善器件可靠性的方法,其包括使用聚酰亚胺PI对器件的钝化层材料PA进行固化预处理工艺和亚胺化工艺,其中:在所述固化预处理工艺前,在所述聚酰亚胺PI的前驱体中加入硅烷偶联剂;在所述固化预处理工艺中,通过烘烤和固化过程,使得所述硅烷偶联剂扩散到所述钝化层材料PA与所述聚酰亚胺PI之间的界面处,并分别与所述钝化层材料PA与所述聚酰亚胺PI发生化学键连接。经本申请实现改善器件可靠性改善了钝化层材料PA与聚酰亚胺PI二者之间的吸附力,提高器件钝化层保护能力。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及半导体领域,特别是涉及一种改善器件可靠性的方法


技术介绍

1、在半导体领域中,polyimide(pi,聚酰亚胺)由于具有良好的电性能、耐化学性、机械和热力学稳定性,常常与钝化层材料passivation(pa,通常为含硅材料)一起作为保护层广泛应用于半导体制造中,以提升器件的可靠性。首先,pi层可有效地可有效地改善界面状况,阻滞电子迁移、降低漏电流;其次,pi层良好的机械和化学性能稳定,可有效防止机械刮擦和表面污染导致的化学腐蚀,也可有效地增加元器件的抗潮湿能力;第三,pi作为一种热塑性材料,具有良好的变形性能和应力释放性能,可有效地降低由于热应力引起的电路崩裂断路,吸收封装应力,减少元器件在后续的封装和使用过程中的损伤。

2、pi工艺过程主要包括以下两步:一是固化预处理,即在200℃左右热处理使polyimide前驱体固化,以便于光刻胶的涂覆、曝光、显影、刻蚀等操作。二是亚胺化,即在300℃~400℃以上发生缩聚反应,酰胺基开键,闭环形成稳定的叔胺基五环结构,成环缩合过程中生成的小分子h2o排出pi。p>

3、但由于本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种改善器件可靠性的方法,其包括使用聚酰亚胺PI对器件的钝化层材料PA进行固化预处理工艺和亚胺化工艺,其特征在于:

2.根据权利要求1所述的一种改善器件可靠性的方法,其特征在于:所述硅烷偶联剂提供了作为无机硅化物的所述钝化层材料PA与作为有机聚合物的所述聚酰亚胺PI分子之间的桥梁,形成无机基体-硅烷偶联剂-有机基体的结合层,以提高附着强度。

3.根据权利要求2所述的一种改善器件可靠性的方法,其特征在于:所述钝化层材料PA为硅的无机氧化物、氮化物或氮氧化物。

4.根据权利要求2所述的一种改善器件可靠性的方法,其特征在于:所述钝化层材料PA为二氧化硅、...

【技术特征摘要】

1.一种改善器件可靠性的方法,其包括使用聚酰亚胺pi对器件的钝化层材料pa进行固化预处理工艺和亚胺化工艺,其特征在于:

2.根据权利要求1所述的一种改善器件可靠性的方法,其特征在于:所述硅烷偶联剂提供了作为无机硅化物的所述钝化层材料pa与作为有机聚合物的所述聚酰亚胺pi分子之间的桥梁,形成无机基体-硅烷偶联剂-有机基体的结合层,以提高附着强度。

3.根据权利要求2所述的一种改善器件可靠性的方法,其特征在于:所述钝化层材料pa为硅的无机氧化物、氮化物或氮氧化物。

4.根据权利要求2所述的一种改善器件可靠性的方法,其特征在于:所述钝化层材料pa为二氧化硅、氮化硅、氮氧化硅或磷硅玻璃。

5.根据权利要求2所述的一种改善器件可靠性的方法,其特征在于:所述硅烷偶联剂包含可水解基团和有机官能团:水解基团通常是氯基、甲氧基、乙氧基、甲氧基乙氧基、乙酰氧基等;有机官能团通常是乙烯基、氨基、环氧基、甲基丙烯酰氧基、巯基或脲基等。

6.根据权利要求1所述的一种改善器件可靠性的方法,其特征在于:在所述固化预处理工艺前,对所述钝化层材料pa进行热处理,以除去所述钝化层材料pa吸附的结合水。

7.根据权利要求6所述的一种改善器件可靠性的方法,...

【专利技术属性】
技术研发人员:干超肖胜安曾大杰
申请(专利权)人:上海鼎阳通半导体科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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